可实现平板透波率与反射率测试的一体化测量系统和方法技术方案

本发明专利技术属于电磁场与微波技术领域，涉及一种可实现平板透波率与反射率都能测试的一体化测量系统和方法。该系统包括测试转台；所述测试转台上设置两个长臂机构；所述两个长臂机构中的至少一个能够绕所述测试转台的中心旋转；所述两个长臂机构各搭载一个聚焦天线，其中一个为发射天线，另一个为接收天线；所述测试转台的中心设置旋转平台，所述旋转平台用于放置待测平板；通过所述长臂机构的旋转，将两个聚焦天线置于待测平板的同侧或异侧，实现待测平板的反射率和/或透波率的测量。本发明专利技术能够通过简易的切换，实现平板的透波率及反射率的测量，具有良好的工程应用前景，可应用于各类透波平板、隐身平板的透波率和反射率测量。隐身平板的透波率和反射率测量。隐身平板的透波率和反射率测量。

【技术实现步骤摘要】
可实现平板透波率与反射率测试的一体化测量系统和方法


[0001]本专利技术属于电磁场与微波
，具体涉及一种可实现平板透波率与反射率测试的一体化测量系统和测量方法。

技术介绍

[0002]平板透波率测量是检验透波材料透波性能的一个重要项目，反射率测量是衡量吸波材料的吸波特性的一个重要项目。而我国目前在这两种测量上，均采用不同的测量系统，透波率测量通常采用聚焦法测量，将收发天线置于待测平板两端，对比有无平板的接收功率来实现，而反射率测试通常采用弓形架的方式进行，待测平板置于地面略高的地方，利用半球形的弓形架将收发天线置于待测平板的同侧，并处于一定高度的半空中，对比待测平板与金属平板的接收功率来实现。
[0003]如上所述，现有技术中要实现平板的透波率与反射率测量，需要搭建两套测试系统，系统结构复杂，成本高。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服目前国内材料平板的反射率测量和透波率测量需要搭建两套系统，结构复杂、成本高的问题。需要提供一种一体化测量系统方案，既可实现平板的透波率测量，也能实现平板的反射率测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可实现平板透波率与反射率测试的一体化测量系统，其特征在于，包括测试转台；所述测试转台上设置两个长臂机构；所述两个长臂机构中的至少一个能够绕所述测试转台的中心旋转；所述两个长臂机构各搭载一个聚焦天线，其中一个为发射天线，另一个为接收天线；所述测试转台的中心设置旋转平台，所述旋转平台用于放置待测平板；通过所述长臂机构的旋转，将两个聚焦天线置于待测平板的同侧或异侧，实现待测平板的反射率和/或透波率的测量。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括矢量网络分析仪，所述矢量网络分析仪连接两个聚焦天线，通过测量所述矢量网络分析仪的参数，并通过数值的对比换算，计算得出待测平板的透波率和/或反射率。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述旋转平台能够带动待测平板绕所述测试转台的中心进行0
°
到90
°
的自由转动，实现待测平板的不同入射角下的透波率和/或反射率的测量。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述旋转平台为可升降旋转平台。5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述两个长臂机构中，一个为固定臂，另一个为旋转臂。6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述两个长臂机构中均包含可移动天线支架，在所述可移动天线支架上安装发射天线、接收天线。7.一种可实现平板透波率与反射率测试的一体化测量方法，其特征在于，采用权利要求1～6中任一项所述的可实现平板透波率与反...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明秀，张春波，阳开华，杨帆，蔡汝峰，
申请(专利权)人：航天特种材料及工艺技术研究所，
类型：发明
国别省市：