检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够提高检测灵敏度的检测装置。检测装置具有：基板；多个光电二极管，设置于基板，并具有有机半导体；多个晶体管，与多个光电二极管各自对应地设置，晶体管包括半导体层、栅极电极以及源极电极；多个下部电极，与多个光电二极管各自对应地设置，下部电极在与基板垂直的方向上设置于晶体管与光电二极管之间；上部电极，跨多个光电二极管而设置；第一辅助电容电极，在与基板垂直的方向上设置于基板与光电二极管之间；以及第二辅助电容电极，设置于与半导体层或者源极电极相同的层，并隔着绝缘膜与第一辅助电容电极对置。绝缘膜与第一辅助电容电极对置。绝缘膜与第一辅助电容电极对置。

【技术实现步骤摘要】
检测装置
[0001]本申请要求于2021年8月23日申请的特愿2021
‑
135626的日本专利申请的优先权，其全部内容通过引用结合在本申请中。


[0002]本专利技术涉及检测装置。

技术介绍

[0003]已知有能够检测指纹图案、静脉图案的光传感器(例如，日本特开2009
‑
32005号公报)。这样的光传感器具有使用有机半导体材料作为活性层的多个光电二极管。在光照射到光电二极管时所产生的电荷蓄积在形成于光电二极管的阳极
‑
阴极间的传感器电容中。
[0004]当增大光电二极管的下部电极的面积时，虽然能够增大传感器电容，但是光电二极管的漏电流有可能增大。另外，当减小光电二极管的下部的面积时，传感器电容变小，从光电二极管输出的信号的最大输出有可能降低。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供能够提高检测灵敏度的检测装置。
[0006]本专利技术的一方面的检测装置具有：基板；多个光电二极管，设置于所述基板，并具有有机半导体；多个晶体管，与多个所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，具有：基板；多个光电二极管，设置于所述基板，并具有有机半导体；多个晶体管，与多个所述光电二极管各自对应地设置，所述晶体管包括半导体层、栅极电极以及源极电极；多个下部电极，与多个所述光电二极管各自对应地设置，所述下部电极在与所述基板垂直的方向上设置于所述晶体管与所述光电二极管之间；上部电极，跨多个所述光电二极管而设置；第一辅助电容电极，在与所述基板垂直的方向上设置于所述基板与所述光电二极管之间；以及第二辅助电容电极，设置于与所述半导体层或者所述源极电极相同的层，并隔着绝缘膜与所述第一辅助电容电极对置。2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，所述检测装置还具有第三辅助电容电极，所述第二辅助电容电极与所述半导体层连续地设置于与所述半导体层相同的层，所述第三辅助电容电极与所述源极电极连续地设置于与所述源极电极相同的层，所述第一辅助电容电...

【专利技术属性】
技术研发人员：樋元健人，中村卓，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：