一种线扫描MicroLED光强检测光学模组制造技术

本实用新型专利技术涉及光学检测技术领域，具体涉及一种线扫描MicroLED光强检测光学模组，包括LED光源、均光镜组、第一透镜组、分光镜组、MicroLED晶片、第二透镜组、CCD镜组和CCD传感器，LED光源依次经过均光镜组、第一透镜组、分光镜组、Micro LED晶片、第二透镜组、CCD镜组和CCD传感器。本实用新型专利技术克服了现有技术的不足，通过设置均光镜组，均光镜组将光源调整为平行均匀光斑，相较于直接将光源照射至MicroLED晶片检测可有效保障光源输出的均匀性，使得CCD传感器可较为完全的接收到光线，减少光强检测的误差，并且该模组设置有分光镜组和第二透镜组，分光镜组与第二透镜组配合使用将入射角调整至与CCD镜组相同，可有效避免入射角发生偏移CCD传感器未完全检测。移CCD传感器未完全检测。移CCD传感器未完全检测。

【技术实现步骤摘要】
一种线扫描Micro LED光强检测光学模组


[0001]本技术涉及光学检测
，具体为一种线扫描MicroLED光强检测光学模组。

技术介绍

[0002]应用CCD可直接测量单缝衍射的光强分布，并可在数显示波器中直接显示光强分布曲线的全貌，从而精确测量单缝宽度，MicroLED光强检测过程中通过透镜将光线传导至CCD光强传感器中，此为如今实验室光强检测的常用方法之一。
[0003]可参考市面上的正在售卖的CCD光强分布测量仪，进行光强检测时时以CCD光强分布测量仪为基础设备添加透镜进行Micro LED 晶片的光强检测，检测过程中通过LED光源照射至Micro LED晶片，再检测Micro LED晶片发出的光线强度，此种直接输入LED光源的方式容易受到外部环境导致光源较为分散，进而使得MicroLED晶片受到的光源不均匀，增加光强检测的误差，并且Micro LED 晶片发出的光线若与CCD镜组入光角不一致，使得CCD传感器很难完全接收到Micro LED晶片的检测光线，因此需要一种可将输入光源均匀输入且输出光源与CCD镜组入光角一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种线扫描Micro LED光强检测光学模组，其特征在于，包括：LED光源(1)、均光镜组(2)、第一透镜组(3)、分光镜组(4)、Micro LED晶片(5)、第二透镜组(6)、CCD镜组(7)和CCD传感器(8)，所述LED光源(1)依次经过均光镜组(2)、第一透镜组(3)、分光镜组(4)、Micro LED晶片(5)、第二透镜组(6)、CCD镜组(7)和CCD传感器(8)。2.根据权利要求1所述的线扫描Micro LED光强检测光学模组，其特征在于，所述均光镜组(2)将光线折射为高均匀光线。3.根据权利要求1所述的线扫描Micro LED光强检测光学模组，其特征在于，所述第一透镜组(3)将光线折射为平行小角度高均匀光斑。4.根据权利要求1所述的线扫描Micro LE...

【专利技术属性】
技术研发人员：周亚兴，唐孝生，庄益祯，游证杰，
申请(专利权)人：奇格半导体重庆有限责任公司，
类型：新型
国别省市：