过温检测电路、线性稳压器、芯片以及电子设备制造技术

技术编号:36697728 阅读:29 留言:0更新日期:2023-02-27 20:14
本申请公开一种过温检测电路、线性稳压器、芯片以及电子设备,涉及集成电路技术领域,该电路包括第一输入模块,用于获取第一偏置信号,产生正压信号;第二输入模块,用于获取第二偏置信号,产生负压信号,负压信号随温度变大而减小;比较模块,分别与第一输入模块和第二输入模块连接,用于比较正压信号和负压信号,当正压信号大于负压信号时,输出过温信号。通过第一输入模块和第二输入模块获取正压信号和负压信号,将正压信号和负压信号送入比较模块确定出电压差值,之后根据电压差值确定出过温信号,能够利用第一输入模块、第二输入模块及比较模块进行电路布局,从而减小电路布局面积,以便于满足用户对电路或IC布局微型化的要求。求。求。

【技术实现步骤摘要】
过温检测电路、线性稳压器、芯片以及电子设备


[0001]本申请涉及集成电路
,具体涉及一种过温检测电路、线性稳压器、芯片以及电子设备。

技术介绍

[0002]现有过温保护电路包括过温检测子电路和过温保护子电路,其中过温检测电路是通过双极性三极管、电阻及PMOS管组合得到的第一支路获得正向电流,通过多个双极性三极管、电阻及NMOS管组合得到的第二支路获得反向电流,之后将正向电流和反向电流送入反相器中,利用反相器对正向电流和反向电流的电平状态进行判断,当反相器的输出为高电平时,则与反相器连接的过温保护子电路截止或关断,完成对电路的过温保护。
[0003]虽然在现有技术中,通过多种元件组合能够实现电路的过温检测,但由于过温检测子电路使用的是多种元件组合,造成电路或IC布局面积大,无法满足用户对电路或IC布局微型化的要求。

技术实现思路

[0004]鉴于此,本申请提供一种过温检测电路、线性稳压器、芯片以及电子设备,以解决现有过温检测电路中,由于其电路布局面积较大,无法满足用户对电路或IC布局微型化的要求的问题。
[00本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种过温检测电路,其特征在于,包括:第一输入模块,用于获取第一偏置信号,产生正压信号;第二输入模块,用于获取第二偏置信号,产生负压信号,所述负压信号随温度变大而减小;比较模块,分别与所述第一输入模块和所述第二输入模块连接,用于比较所述正压信号和所述负压信号,当所述正压信号大于所述负压信号时,输出过温信号。2.根据权利要求1所述的过温检测电路,其特征在于,还包括:偏置模块,分别与所述第一输入模块和所述第二输入模块连接,用于为向所述第一输入模块提供第一偏置信号,以及用于向所述第二输入模块提供第二偏置信号,其中,所述第一偏置信号用于向所述第一输入模块提供稳定第一输入模块工作状态的工作电压及工作电流;所述第二偏置信号用于向所述第二输入模块提供稳定第二输入模块工作状态的工作电压及工作电流;供电模块,与所述偏置模块连接,用于向所述偏置模块进行供电,使所述偏置模块输出所述第一偏置信号和所述第二偏置信号。3.根据权利要求2所述的过温检测电路,其特征在于,所述供电模块包括电流源。4.根据权利要求2所述的过温检测电路,其特征在于,所述比较模块包括:比较器,所述比较器的第一输入端与所述第一输入模块的输出端连接,所述比较器的第二输入端与所述第二输入模块的输出端连接;所述比较器的输出端用于输出所述过温信号。5.根据权利要求2所述的过温检测电路,其特征在于,所述第一输入模块包括:第一MOS管,所述第一MOS管的漏极分别与所述比较模块的第一输入端、所述偏置模块的输出端连接,所述第一MOS管的漏极用于获取所述第一偏置信号,并向所述比较模块输出所述正压信号,所述第一MOS管的栅极与所述第一MOS管的源极连接,所述第一MOS管的源极接地。6.根据权利要求5所述的过温检测电路,其特征在于,所述第二输入模块包括:第二MOS管和第一三极管,所述第二MOS管的漏极分别与所述偏置模块的输出端、所述第一三极管的基极连接,所述第一三极管的发射极分别与所述比较模块的第二输入端、所述偏置模块的输出端连接,所述第一三极管的发射极用于获取所述第二偏置信号,并向所述比较模块输出所述负压信号,所述第一三极管的发射极用于所述第二MOS管的栅极与所述第二MOS管的源极连接,所述第二MOS管的源极、所述第一三极管的集电极均接地。7.根据权利要求6所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:李念龙余东升刘珍超
申请(专利权)人:上海艾为电子技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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