CT图像生成方法、装置、CT系统、设备、介质和程序产品制造方法及图纸

本申请涉及一种CT图像生成方法、装置、CT系统、设备、介质和程序产品。所述方法包括：获取CT探测器中各像素的原始探测数据；确定CT探测器的瑕疵像素；若瑕疵像素位于CT探测器的瑕疵排中，则利用瑕疵排的邻近排像素的图像数据对瑕疵排像素的图像数据进行校正处理，得到瑕疵排像素的校正数据。采用本方法能够准确校正探测器中的瑕疵像素。探测器中的瑕疵像素。探测器中的瑕疵像素。

【技术实现步骤摘要】
CT图像生成方法、装置、CT系统、设备、介质和程序产品


[0001]本申请涉及图像处理
，特别是涉及一种CT图像生成方法、装置、CT系统、设备、介质和程序产品。

技术介绍

[0002]由于半导体探测器的加工误差，半导体探测器的像素阵列中的部分像素单元存在响应异常的问题，从而导致像素阵列出现瑕疵像素。
[0003]而像素阵列中的瑕疵像素会导致重建后的医疗影像的质量较差，进而影响医生的诊断结果。
[0004]因此，如何对瑕疵像素进行校正成为当前亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种CT图像生成方法、装置、CT系统、设备、介质和程序产品，能够准确校正探测器中的瑕疵像素。
[0006]第一方面，本申请提供了一种CT图像生成方法。该方法包括：
[0007]获取CT探测器中各像素的原始探测数据；
[0008]确定CT探测器的瑕疵像素；
[0009]若瑕疵像素位于CT探测器的瑕疵排中，则利用瑕疵排的邻近排像素的图像数据对瑕疵排像素的图像数据进行校正处理，得到瑕疵排像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CT图像生成方法，其特征在于，所述方法包括：获取CT探测器中各像素的原始探测数据；确定所述CT探测器的瑕疵像素；若所述瑕疵像素位于所述CT探测器的瑕疵排中，则利用所述瑕疵排的邻近排像素的图像数据对所述瑕疵排像素的图像数据进行校正处理，得到瑕疵排像素的校正数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述瑕疵排的邻近排像素的图像数据对所述瑕疵排像素的图像数据进行校正处理，得到瑕疵排像素的校正数据，包括：对所述邻近排像素的图像数据进行曲线拟合处理，得到函数模型；将所述瑕疵排像素的索引信息输入至所述函数模型中，得到所述校正数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述瑕疵像素未位于所述瑕疵排中，则利用所述瑕疵像素所在像素排中，除所述瑕疵像素外的像素的原始探测数据对所述瑕疵像素的原始探测数据进行校正处理，得到所述瑕疵像素的校正探测数据；根据所述校正探测数据生成所述校正数据。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的方法，其特征在于，在所述利用所述瑕疵排的邻近排像素的图像数据对所述瑕疵排像素的图像数据进行校正处理，得到校正数据之前，所述方法还包括：根据图像重建算法和各所述像素排的原始探测数据，生成各所述像素排的断层图像数据。5.根据权利要求1
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3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：确定所述瑕疵像素所在像素排中的瑕疵像素数量；若所述瑕疵像素数量大于预设阈值，则确定所述瑕疵像素位于所述CT探测器中的瑕疵排；若所述瑕疵像素数量小于或等于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨维，李兵，
申请(专利权)人：武汉联影生命科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：