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CoPi负载的枝状(GaN)制造技术

技术编号:36694596 阅读:24 留言:0更新日期:2023-02-27 20:05
本发明专利技术涉及半导体纳米材料及光电催化分解水领域,具体涉及一种CoPi负载的枝状(GaN)1‑

【技术实现步骤摘要】
CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极及制备方法


[0001]本专利技术涉及半导体纳米材料及光电催化分解水领域,具体涉及一种磷酸钴(CoPi)负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极及制备方法和在光电催化分解水中的应用。

技术介绍

[0002]太阳能储量丰富、分布广泛,是最具竞争力的清洁能源之一,若能实现太阳能的高效利用,则有望代替传统的化石能源。利用半导体光电极分解水生产清洁的氢气燃料一直以来备受关注,被认为是解决未来能源危机和可持续发展的有效途径之一。2005年,日本东京大学Domen课题组首次将GaN和ZnO两种半导体固溶在一起制备出用于光催化分解水的(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体(0.034<x<0.13),并且通过调控固溶体中ZnO的含量,实现了对固溶体带隙的调控并实现可见光光催化分解水制氢。此后,科研人员发现(本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极,其特征在于,该枝状纳米线阵列以n型Si掺杂导电良好的GaN单晶片作为衬底,主干为GaN纳米线阵列,分枝为(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体纳米线,ZnO的固溶度为19.4at%。2.根据权利要求1所述的CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极,其特征在于,所用GaN衬底为利用MOCVD技术制备的Si掺杂n型GaN单晶片,薄膜厚度为4~6μm,方块电阻为14.08kΩ/

。3.根据权利要求1所述的CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极,其特征在于,GaN纳米线阵列材料为化学气相沉积法外延生长,单根GaN纳米线直径在100~150nm之间,长度在10~25μm之间。4.根据权利要求1所述的CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极,其特征在于,GaN纳米线上生长的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体纳米线的直径在15~25nm之间,长度在200~300nm之间。5.根据权利要求1所述的CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极,其特征在于,该光阳极呈现出典型的三维树枝状结构,GaN纳米线主干上生长(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体纳米线分枝,(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体纳米线分枝上负载CoPi析氧助催化剂,(GaN)1‑
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(ZnO)
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固溶体纳米线分枝的顶部沉积Au颗粒。6.一种权利要求1至5之一所述的CoPi负载的枝状(GaN)1‑
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(ZnO)
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GaN纳米线阵列光阳极的制备方法,其特征在于,该方法分为四个阶段,包括如下步骤:第一阶段,在n型Si掺杂GaN单晶片上生长GaN纳米线阵列:(1)称量30~50mL去离子水倒入反应器中,向其中加入0.5~1.5mL浓度为3~5mg/mL的氯金酸HAuCl4溶液和2~4mL甲醇CH3OH搅拌均匀;然后将n型Si掺杂GaN单晶片衬底放入所得溶液中,反应器抽真空后,利用300W氙灯顶部辐照时间为10~30min;取出后用去离子水清洗,然后用高纯N2吹干;(2)称取氧化镓Ga2O3粉末均匀铺在氧化铝瓷舟的底部,将步骤(1)所得衬底倒置在盛有氧化镓Ga2O3粉末的瓷舟上方,放入单温区管式炉内;(3)将管式炉抽成真空,然后通Ar气至常压,Ar气流量为40~60sccm;管式炉升温速率为10~15℃/min,当温度达到800~900℃时关闭Ar气,通入气流量为10~100sccm的NH3;(4)当管式炉达到反应温度时,保温进行充分反应后自然冷却,即得到以n型Si掺杂导电性较好的GaN单晶片为衬底的GaN纳米线阵列材料;第二阶段,制备Zn

Ga

O前驱体粉末:(5)称取二水合乙酸锌Zn(CH3COO)2·
2H2O和水合硝酸镓Ga(NO3)3·
xH2O,置于50mL烧杯中,二水合乙酸锌和水合硝酸镓中Zn和Ga的原子比为5:5,粉末总重量为4~6g;(6)向步骤(5)中加入15~25mL乙二醇甲醚C3H8O2和0.5~1...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘宝丹陈立新李晶
申请(专利权)人:东北大学
类型:发明
国别省市:

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