一种用于确定反射地形地貌的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种用于确定反射地形地貌的测量方法，属于建筑测量施工技术领域，包括以下步骤：S1、用从第一光源位置处的点源发射的第一球面波照射待测地面，使得第一球面波至少部分的被待测地面反射；S2、通过波前传感器检测反射的第一波的第一波前标准N1；S3、用从不同于第一光源位置的第二光源位置处的点源发射的第二球面波照射待测地面，使得第二球面波至少部分的被待测地面反射；S4、通过波前传感器检测反射的第二波的第二波前标准N2，在微透镜上的至少一个第二冲击点P2。本发明专利技术过光波发生装置、波前传感器以及评估单元之间的配合设置，利用能够以高精度近似任何波的球面波的特性，解决现有技术中地形地貌反射测量精度低的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于确定反射地形地貌的测量方法


[0001]本专利技术属于建筑测量施工
，具体涉及一种用于确定反射地形地貌的测量方法。

技术介绍

[0002]地形地貌，即地球表面各种形态的总称，地表形态是多种多样的，成因也不尽相同，是内、外力地质作用对地壳综合作用的结果，地形地貌测量，指的是测绘地形图的作业，即对地球表面的地物、地形在水平面上的投影位置和高程进行测定，并按一定比例缩小，用符号和注记绘制成地形图的工作，针对一些面积较小的或者工程建设需要的地形图，现有的地形图的测绘方法有：平板仪测量方法、干涉测量方法等。
[0003]已知最先进的干涉测量方法，其中有一种用光照射待测表面并检查反射光是否存在干涉现象的三次磁性测量法，其存在的缺点是：如果待测所涉及的平面或球面存在较大偏差，则由于等高线密度较大，预计后期会出现多个波长的地形跳跃，导致等高线图案投影到表面上出现较大偏差，从而难以进行地形地貌的测量工作；测量常规地形时则是在表面上所产生的等高线测量精度相对较低。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，专利技术人经过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于确定反射地形地貌的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、用从第一光源(2)位置处的点源发射的第一球面波照射待测地面(1)，使得第一球面波至少部分的被待测地面(1)反射；S2、通过波前传感器检测反射的第一波的第一波前标准N1(52)；S3、用从不同于第一光源(2)位置的第二光源位置处的点源发射的第二球面波照射待测地面(1)，使得第二球面波至少部分的被待测地面(1)反射；S4、通过波前传感器检测反射的第二波的第二波前标准N2(62)，在微透镜(4)上的至少一个第二冲击点P2(63)，若该点位于第一条线G1(61)上，该线沿第一波前法向延伸并穿过第一冲击点P1(53)，若该点位于第二条线G2(51)上，该线沿第二波前法向延伸并穿过第二冲击点P2(63)。2.根据权利要求1所述的一种用于确定反射地形地貌的测量方法，其特征在于：所述第一光源(2)和第二光源分别与待测地面(1)间设有聚光透镜(3)，通过所述聚光透镜(3)将第一光源(2)和第二光源分别以第一焦点(5)和第二焦点(6)的形式对待测地面(1)进行照射。3.根据权利要求2所述的一种用于确定反射地形地貌的测量方法，其特征在于：所述第一光源(2)和第二光源均由光波发生装置发出。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张旭，王云杰，周青，张智忠，
申请(专利权)人：中国十七冶集团有限公司，
类型：发明
国别省市：