一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法及检测装置，属于工业视觉检测技术领域。该方法包括：首先获取PCB板的待检测图像、检测模板图像及检测模板图像中的待匹配点坐标；然后将待检测图像、检测模板图像及待匹配点坐标输入至预设神经网络，得到待匹配点在检测模板图像中的匹配点坐标；最后基于匹配点坐标与待检测图像中的第一极性标志点坐标角度判断PCB板是否存在极反缺陷，该过程操作简单，并且提高了PCB板极反检测的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法及检测装置


[0001]本专利技术涉及工业视觉检测
，具体地涉及一种用于PCB板极反缺陷的判断方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，PCB板(Printed Circuit Board，印制电路板)中元器件的极性标志特征较小且多样，对PCB板进行极性检测通常采用传统的图像识别方式，例如在PCB模板图上对极性标志做模板，根据PCB模板图来对PCB板上的元器件图像做对比，进行缺陷判断。因此，现有技术存在需要PCB模板图较多，操作复杂，同时PCB板缺陷检测误报率较高的问题。

技术实现思路

[0003]基于此，本专利技术第一方面提供一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法，提高了PCB板极反缺陷检测的准确性，该方法包括：
[0004]获取PCB板的待检测图像、检测模板图像及检测模板图像中的待匹配点坐标；
[0005]将待检测图像、检测模板图像及待匹配点坐标输入至预设神经网络，得到待匹配点在检测模板图像中的匹配点坐标；
[0006]基于匹配点坐标与待检测图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于特征点匹配算法的极反缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取PCB板的待检测图像、检测模板图像及所述检测模板图像中的待匹配点坐标；将所述待检测图像、所述检测模板图像及所述待匹配点坐标输入至预设神经网络，得到所述待匹配点在所述检测模板图像中的匹配点坐标；基于所述匹配点坐标与所述待检测图像中的第一极性标志点坐标角度判断所述PCB板是否存在极反缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设神经网络包括依次连接的特征提取模块、transformer模块和全连接模块；所述将所述待检测图像、所述检测模板图像及所述待匹配点坐标输入至预设神经网络，得到所述待匹配点在所述检测模板图像中的匹配点坐标，包括：将所述待检测图像和所述检测模板图像输入至所述特征提取模块进行特征提取，得到对应的待检测特征图像和检测模板特征图像；对所述待检测特征图像和所述检测模板特征图像进行处理，得到特征映射信息；将所述特征映射信息以及所述检测模板图像上的待匹配点坐标输入至所述transformer模块进行处理，得到输出信息；将所述输出信息输入至全连接层得到所述匹配点坐标。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待检测特征图像和所述检测模板特征图像进行处理得到特征映射信息，包括：将所述待检测特征图像和所述检测模板特征图像以水平方向拼接，得到拼接特征图像；在所述拼接特征图像上添加所述待匹配点坐标的位置编码，得到所述特征映射信息，其中，所述位置编码是根据所述待匹配点坐标进行编码得到的。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述transformer模块对所述特征映射信息以及所述检测模板图像上的待匹配点坐标进行处理得到输出信息，包括：将所述特征映射信息和所述待匹配点坐标输入至所述transformer模块的编码器中进行编码，得到编码信息和待匹配点坐标的编码值；将所述编码信息和所述待匹配点坐标的编码值输入至所述transformer模块的解码器中进行解码，得到解码信息，并将所述解码信息作为所述输出信息。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述匹配点坐标与所述待检测图像中的第一极性标志点坐标角度判断所述PCB板是否存在极反缺陷，包括：获取所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王祥，占兆武，洪海敏，蔡义，陈希邦，张荣，赵金玉，
申请(专利权)人：深圳智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：