一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统技术方案

本发明专利技术涉及射频继电器技术领域，提供了一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管的输入端分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，输入端分别连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的关于第一继电器接口、第四继电器接口的控制指令，本发明专利技术可以直观的反映双刀双掷射频继电器的射频通道的通断情况。通断情况。通断情况。

【技术实现步骤摘要】
一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统


[0001]本专利技术涉及射频继电器射频通道的通断测试
，具体而言，涉及一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统。

技术介绍

[0002]常规的双刀双掷射频继电器采取四管脚独立连接，在继电器连接时，常会出现继电器的同行或者同列管脚接通情况相同，这种双刀双掷射频继电器没有一个公共端接口，导致判断继电器的四个导通情况时，需要进行二次测试，给双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试带来了不便。

技术实现思路

[0003]本专利技术解决的问题是对双刀双掷射频继电器射频通道进行一次测试就判断其射频通道的测试系统。
[0004]为解决上述问题，本专利技术提供一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管的输入端分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，输入端分别连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的关于第一继电器接口、第四继电器接口的控制指令。2.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。3.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成两个单独的继电器连接接口。4.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器控制端分别连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电极，所述第一三极管的发射级接...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄卫豪，赵翼龙，陈炼铭，
申请(专利权)人：深圳市西科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：