一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统技术方案

本发明专利技术涉及射频继电器技术领域，提供了一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管的输入端分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，输入端分别连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的关于第一继电器接口、第四继电器接口的控制指令，本发明专利技术可以直观的反映双刀双掷射频继电器的射频通道的通断情况。通断情况。通断情况。

【技术实现步骤摘要】
一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统


[0001]本专利技术涉及射频继电器射频通道的通断测试
，具体而言，涉及一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统。

技术介绍

[0002]常规的双刀双掷射频继电器采取四管脚独立连接，在继电器连接时，常会出现继电器的同行或者同列管脚接通情况相同，这种双刀双掷射频继电器没有一个公共端接口，导致判断继电器的四个导通情况时，需要进行二次测试，给双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试带来了不便。

技术实现思路

[0003]本专利技术解决的问题是对双刀双掷射频继电器射频通道进行一次测试就判断其射频通道的测试系统。
[0004]为解决上述问题，本专利技术提供一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，用于控制第一继电器接口、第四继电器接口。
[0005]进一步的，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。
[0006]进一步的，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成继电器连接接口。
[0007]进一步的，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电极，所述第一三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。
[0008]进一步的，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第二继电器连接接口接所述第二三极管的集电极，所述第二三极管的发射级接地，基极连接所述MCU控制芯片，用于向所述MCU控制芯片输出继电器射频指令。
[0009]进一步的，所述继电器的两个继电器连接接口采取其中一个公共端进行测试，所以当继电器的公共端接入一个继电器连接接口时，另一个继电器连接接口则无法连接公共端进行测试。
[0010]进一步的，所述继电器射频通道的公共端连接所述MCU控制芯片，用于接收所述
MCU控制芯片发出的电平信号。
[0011]进一步的，所述继电器射频通道的公共端接收所述MCU控制芯片发出的电平信号可用于输出高电平控制所述第一三极管或第二三极管的导通，此时继电器射频电路的一个公共端和一个自右端导通构成一个回路，此时可以通过公共端接收的电平信号进行继电器通道导通的判断。
[0012]进一步的，当继电器通道中电平信号导通时，所述第一三极管、第二三极管采取替代工作模式，并通过控制三极管的导通来控制电平信号的输入。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：对传统的双刀双掷射频继电器管脚进行调整，对其管脚进行新的定义，分为公共端和继电器连接接口，通过继电器连接接口连接三极管，并在继电器的公共端接收所述MCU控制芯片发出的电平信号，通过电平信号变化，全面和正确的反映双刀双掷射频继电器射频通道的通断情况，对于双刀双掷射频继电器的机械寿命测试很有帮助。
附图说明
[0014]图1为本专利技术整体结构的原理结构示意图。
具体实施方式
[0015]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施例做详细的说明。
[0016]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0017]在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“一个实施例”和“一个实施方式”等的描述意指结合该实施例或实施方式描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示实施方式中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实施方式。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或实施方式以合适的方式结合。
[0018]如图1所示，本专利技术提供一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，用于控制第一继电器接口、第四继电器接口。
[0019]需要说明的是，在本实施例中，继电器的控制端包括第一三极管，第二三极管，第一三极管、第二三极管的基极分别连接MCU控制芯片的两个IO管脚，通过MCU控制芯片通过IO管脚对第一三极管、第二三极管进行控制。
[0020]在本专利技术的一个实施例中，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。
[0021]需要说明的是，在本实施例中，在本实施例中，继电器接口端的接口标号分别为：第一继电器接口对应接口J1、第二继电器接口对应接口J2、第三继电器接口对应接口J3、第四继电器接口对应接口J4，四路继电器接口接通定义为同行或者同列相同，比如接口J1的通断情况与接口J2相同时，接口J3与接口J4相同或者接口J1的通断情况与接口J3相同。
[0022]在本专利技术的一个实施例中，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成继电器连接接口。
[0023]需要说明的是，在本实施例中，公共端采取互为对角线的两个接口进行调整，比如当接口J2、接口J3为公共端时，则接口J1、接口J4为继电器连接接口，此时接口J1
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J3
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J4构成一个包含单刀双掷开关的闭合通路，同时，接口J1
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J2
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J4构成一个包含单刀双掷开关的闭合通路，在本专利技术的一个实施例中，所述继电器控制端连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，包括：继电器接口端、继电器公共端、继电器控制端，所述继电器接口端包括：第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述继电器的公共端依次连接所述第二继电器接口、第三继电器接口，所述连接后的第二继电器接口、第三继电器接口视为一个公共端，所述继电器控制端包括第一三极管，第二三极管、MCU控制芯片，所述第一三极管，第二三极管的输入端分别连接第一继电器接口、第四继电器接口，输入端分别连接所述MCU控制芯片，用于接收所述MCU控制芯片发出的关于第一继电器接口、第四继电器接口的控制指令。2.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器接口端包括四路继电器接口，所述四路继电器接口按照2*2矩阵排列，自左至右，自上而下依次是第一继电器接口、第二继电器接口、第三继电器接口、第四继电器接口，所述四路继电器接口端均为自由端。3.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器的公共端将原本独立连接继电器的自由端进行拆分，拆分后构成公共端和继电器连接接口，其中两个自由端联立构成公共端，剩下的两个自由端则构成两个单独的继电器连接接口。4.根据权利要求1所述的一种双刀双掷射频继电器射频通道的通断测试系统，其特征在于，所述继电器控制端分别连接于两个继电器连接接口，第一继电器连接接口接所述第一三极管的集电极，所述第一三极管的发射级接...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄卫豪，赵翼龙，陈炼铭，
申请(专利权)人：深圳市西科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：