TIMS-Q-q-TOF质谱仪中异构体的详细分析制造技术

本发明专利技术涉及在配备一个俘获离子迁移谱仪、一个四极杆质量过滤器和一个破碎池的飞行时间质谱仪中详细分析有机物质复杂混合物中离子混合物的方法。本发明专利技术提出，分析第一个质量

【技术实现步骤摘要】
TIMS
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Q
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q
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TOF质谱仪中异构体的详细分析


[0001]本专利技术涉及复杂物质混合物的质谱分析方法，尤其是通过配备一个俘获离子迁移谱仪、一个质量过滤器和一个破碎池的飞行时间质谱仪鉴定异构体和同量异位素的方法。

技术介绍

[0002]专利申请US 7,838,826 B1(M.A.Park，2008)公开了一种俘获离子迁移谱仪(TIMS)，在下文中也称为俘获离子迁移分离器。在俘获离子迁移谱仪中，通常在多极离子导向器中通过气流对抗电场势垒来驱动离子，此电场势垒优选具有一个电场强度逐渐增加的斜坡。离子沿斜坡在对于一个离子种类来说气体摩擦力与反推电场力平衡的位置分别聚集。因此，离子在聚集时按其离子迁移率在空间上分离。当储存足够离子时，例如，在预设的采样时间后，电场势垒的反电场将在“扫描”时降低，这导致离子通过斜坡末端按从低到高的迁移率陆续被释放并被送入质谱仪，此质谱仪优选是正交离子注入飞行时间质谱仪。
[0003]图1显示了典型俘获离子迁移分离器和俘获离子迁移分离器运行方式的示意本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.在由一个俘获离子迁移分离器和一个飞行时间分析器组成的质谱仪中分析物质混合物的方法，通过此方法采集第一个质量
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迁移率图，其特征在于(a)在第一个质量
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迁移率图中选择有意义的离子信号，并检查其是否是未按质量或迁移率充分解析的不同离子种类的信号重叠；以及(b)获取第二个质量
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迁移率图，其中将俘获离子迁移分离器至少一个参数如此更改，即，以高于第一个质量
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迁移率图的迁移率分辨率和/或迁移率精度，在第二个质量
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迁移率图中测量有意义离子信号周围的区域；其中，第二个质量
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迁移率图是在第一个质量
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迁移率图中信号被发现会重叠并且形成被选择的有意义离子信号的待解析的离子种类允许同位素分布的条件下获取的。2.在由一个俘获离子迁移分离器、一个质量分离器、一个破碎池和一个飞行时间分析器组成的质谱仪中分析物质混合物的方法，通过此方法采集第一个质量
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迁移率图，选择第一个质量
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迁移率图的离子信号，随后采集所选离子信号的离子的碎片离子谱，所述离子按迁移率和质量选择，其特征在于，(a)所选离子信号中的一个，研究其碎片离子谱和/或物质鉴定中的一个，确定此有意义的离子信号是否与未按质量或迁移率充分解析的不同离子种类的信号重叠；以及(b)获取第二个质量
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迁移率图，其中将俘获离子迁移分离器至少一个参数如此更改，即，以高于第一个质量
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迁移率图的迁移率分辨率和/或迁移率精度，在第二个质量
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迁移率图中测量有意义离子信号周围的区域，其中，第二个质量
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迁移率图是在第一个质量
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迁移率图中信号被发现会重叠并且形成被选择的有意义离子信号的待解析的离子种类允许同位素分布的条件下获取的。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，额外地，采集有意义离子信号的离子的额外碎片离子谱，将俘获离子迁移分离器的至少一个参数如此更改，有意义，即，使额外采集的碎片离子谱中按迁移率和质量所选的离子具有比之前采集的碎片离子谱的离子更小的迁移率带宽ΔK。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，额外碎片离子谱用于有意义离子信号的物质鉴定。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：亚历山大，
申请(专利权)人：布鲁克，
类型：发明
国别省市：