一种紧缩场测试系统技术方案

本申请公开了一种紧缩场测试系统,包括测试信号发生装置、反射装置和移动平台机构。测试信号发生装置用于向反射装置发送预设参数的测试信号。反射装置用于反射测试信号，以在反射区范围内的一预设静区区域形成均匀的平面波测试信号。移动平台机构用于通过移动的方式将相控阵天线中的部分相控阵单元设置于静区区域中，以对静区区域内的相控阵单元进行测试或校准。由于可以采用分批或依次对相控阵天线中的部分相控阵单元进行校准，使得紧缩场测试系统可以在性能非常好的静区区域执行校准，不但可以降低紧缩场测试系统的占地面积，还能提高校准精度。提高校准精度。提高校准精度。

【技术实现步骤摘要】
一种紧缩场测试系统


[0001]本专利技术涉及无线测试领域，具体涉及一种紧缩场测试系统。

技术介绍

[0002]无线通信设备在进入市场之前，其无线性能必须经过严格的研发和生产测试，其中测试速度和测试精度是无线测试过程中必须要考虑的重要指标。
[0003]在测试无线通信设备的无线性能时，无线设备需要放置在电波暗室中，以模拟无反射的电磁环境。在现有的测试系统中，根据电磁波的传播特征及探头数目的多少可以分为多种不同的测试方式：远场及近场系统、单探头及多探头测试系统、无反射暗室及混响室测试系统和紧缩场测试系统等，针对不同的被测设备及测试频段可适当采用不同大小、不同方法的测试系统。
[0004]紧缩场测试系统是基于物理空间电磁波形变换原理，通过反射面或介质凸透镜将测试天线发射的球面波在低于远场距离的空间内变换为平面波，使得测量探头辐射的电磁波信号在到达测试区域时为均匀信号。紧缩场测试系统可以用于相控阵天线的幅相校准和测试。

技术实现思路

[0005]本专利技术主要解决的技术问题是现有技术中紧缩场测试系统还存在技术缺陷的技术问题。
[0006]根据第一方面，一种实施例中提供一种紧缩场测试系统,包括测试信号发生装置、反射装置和移动平台机构；
[0007]所述测试信号发生装置用于向所述反射装置发送预设参数的测试信号；
[0008]所述反射装置用于反射所述测试信号，并在反射区范围内的一预设静区区域形成均匀的平面波测试信号；
[0009]所述移动平台机构用于承载待测试的相控阵天线，并通过移动的方式将所述相控阵天线中的部分相控阵单元置于所述静区区域中，以对设置在所述静区区域内的所述相控阵天线的相控阵单元进行测试或校准。
[0010]一实施例中，紧缩场测试系统还包括电波暗室；所述测试信号发生装置、所述反射装置和所述移动平台机构设置在所述电波暗室内；所述电波暗室用于提供对所述相控阵天线进行检测的测试环境。
[0011]一实施例中，所述反射装置设置于所述电波暗室内的顶部，所述移动平台机构设置在所述电波暗室的底部。
[0012]一实施例中，所述反射装置包括反射面和反射移动机构，所述反射移动机构用于承载所述反射面，并通过移动的方式变更所述静区区域在所述电波暗室内的空间位置；所述反射移动机构还用于同步移动所述测试信号发生装置，以保持所述测试信号发生装置和所述反射装置之间的空间相对位置固定不变。
[0013]一实施例中，紧缩场测试系统还包括测试仪表，分别与所述测试信号发生装置和所述相控阵天线连接；所述测试仪表用于产生所述测试信号或用于分析所述相控阵天线接收的测试信号。
[0014]一实施例中，所述测试信号发生装置包括双极化测量探头；所述双极化测量探头用于发送所述测试信号，以实现所述相控阵天线的双极化幅相校准。
[0015]一实施例中，所述测试信号发生装置包括单极化测量探头和探头转动机构；
[0016]所述单极化测量探头用于发送所述测试信号；
[0017]所述探头转动机构用于承载所述单极化测量探头，还用于按一预设探头转动轴转动所述单极化测量探头，以实现所述相控阵天线的双极化幅相校准；
[0018]所述探头转动机构还用于通过移动来保持所述单极化测量探头和所述反射装置之间的空间相对位置固定不变。
[0019]一实施例中，所述移动平台机构包括平面移动装置，用于将所述相控阵天线在一预设平面上平行移动。
[0020]一实施例中，所述移动平台机构包括升降装置，用于对所述相控阵天线进行升降控制。
[0021]一实施例中，所述移动平台机构包括轴向转动装置；所述轴向转动装置用于将所述静区区域内的所述相控阵天线的相控阵单元按一预设天线转动轴进行转动控制，以实现对所述相控阵天线的双极化幅相校准。
[0022]根据上述实施例的紧缩场测试系统，由于可以采用分批或依次对相控阵天线中的部分相控阵单元进行校准，使得紧缩场测试系统可以在性能非常好的静区区域执行校准，不但可以降低紧缩场测试系统的占地面积，还能提高校准精度。
附图说明
[0023]图1为现有技术中相控阵天线的结构示意图；
[0024]图2为一种实施例中紧缩场测试系统的结构示意图；
[0025]图3为另一种实施例中紧缩场测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0026]下面通过具体实施方式结合附图对本专利技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
[0027]另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
[0028]本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接（联接）。
[0029]相控阵天线因其天然的技术优势，其应用领域随着研制成本的降低而得到迅猛发展，在航空航天、军事、气象、通信等各领域得到广泛应用。相控阵天线主要由相控阵幅相调节模块和相控阵阵面组成。相控阵阵面由多个相控阵单元组成，按照一定的方式进行位置排布。幅相调节模块为一个或一组相控阵单元提供幅度和相位调节功能。请参考图1，为现有技术中相控阵天线的结构示意图，相控阵阵面上分布的每个相控阵单元，可以往空间辐射电磁波，不同方向的辐射能力不同，称为辐射方向图。相控阵天线的工作原理是通过相控阵单元在空间中形成的电磁波叠加形成相控阵的总辐射方向图。相控阵天线的原理是通过幅相调节单元对一个或一组相控阵单元进行幅相调节，可以在空间形成不同的电磁波叠加场，从而形成不同的辐射方向图。
[0030]相控阵要形成预期的辐射方向图，需要每个相控阵单元通道的幅度相位保持同样的初始状态，然后通过幅相调节模块的控制，形成预期的不同辐射方向图。由于每一个相控阵单元通道中部件存在差异，在初始状态下辐射出的电磁波幅度和相位不一致。在研制和生产过程中，需要对每一路或每一组相控阵单元通道的初始幅度和相位进行校准。此外，通常还会对形成的最终辐射方向图进行测试，以确保校准结果以及幅相调节模块工作正常。
[0031]请参照图2，为一种实施例中紧缩场测试系统的结构示意图，紧缩场测试系统用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紧缩场测试系统, 其特征在于，包括测试信号发生装置、反射装置和移动平台机构；所述测试信号发生装置用于向所述反射装置发送预设参数的测试信号；所述反射装置用于反射所述测试信号，并在反射区范围内的一预设静区区域形成均匀的平面波测试信号；所述移动平台机构用于承载待测试的相控阵天线，并通过移动的方式将所述相控阵天线中的部分相控阵单元置于所述静区区域中，以对设置在所述静区区域内的所述相控阵天线的相控阵单元进行测试或校准。2.如权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，还包括电波暗室；所述测试信号发生装置、所述反射装置和所述移动平台机构设置在所述电波暗室内；所述电波暗室用于提供对所述相控阵天线进行检测的测试环境。3.如权利要求2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述反射装置设置于所述电波暗室内的顶部，所述移动平台机构设置在所述电波暗室的底部。4.如权利要求2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述反射装置包括反射面和反射移动机构，所述反射移动机构用于承载所述反射面，并通过移动的方式变更所述静区区域在所述电波暗室内的空间位置；所述反射移动机构还用于同步移动所述测试信号发生装置，以保持所述测试信号发生装置和所述反射装置之间的空间相对位置固定不变。5.如权利要求1所述的紧缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗庆春，于伟，谢辉，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：新型
国别省市：