一种紧缩场测试系统技术方案

本申请公开了一种紧缩场测试系统,包括测试信号发生装置、反射装置和移动平台机构。测试信号发生装置用于向反射装置发送预设参数的测试信号。反射装置用于反射测试信号，以在反射区范围内的一预设静区区域形成均匀的平面波测试信号。移动平台机构用于通过移动的方式将相控阵天线中的部分相控阵单元设置于静区区域中，以对静区区域内的相控阵单元进行测试或校准。由于可以采用分批或依次对相控阵天线中的部分相控阵单元进行校准，使得紧缩场测试系统可以在性能非常好的静区区域执行校准，不但可以降低紧缩场测试系统的占地面积，还能提高校准精度。提高校准精度。提高校准精度。

【技术实现步骤摘要】
一种紧缩场测试系统


[0001]本专利技术涉及无线测试领域，具体涉及一种紧缩场测试系统。

技术介绍

[0002]无线通信设备在进入市场之前，其无线性能必须经过严格的研发和生产测试，其中测试速度和测试精度是无线测试过程中必须要考虑的重要指标。
[0003]在测试无线通信设备的无线性能时，无线设备需要放置在电波暗室中，以模拟无反射的电磁环境。在现有的测试系统中，根据电磁波的传播特征及探头数目的多少可以分为多种不同的测试方式：远场及近场系统、单探头及多探头测试系统、无反射暗室及混响室测试系统和紧缩场测试系统等，针对不同的被测设备及测试频段可适当采用不同大小、不同方法的测试系统。
[0004]紧缩场测试系统是基于物理空间电磁波形变换原理，通过反射面或介质凸透镜将测试天线发射的球面波在低于远场距离的空间内变换为平面波，使得测量探头辐射的电磁波信号在到达测试区域时为均匀信号。紧缩场测试系统可以用于相控阵天线的幅相校准和测试。

技术实现思路

[0005]本专利技术主要解决的技术问题是现有技术中紧缩场测试系统还存在技术缺陷的技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紧缩场测试系统, 其特征在于，包括测试信号发生装置、反射装置和移动平台机构；所述测试信号发生装置用于向所述反射装置发送预设参数的测试信号；所述反射装置用于反射所述测试信号，并在反射区范围内的一预设静区区域形成均匀的平面波测试信号；所述移动平台机构用于承载待测试的相控阵天线，并通过移动的方式将所述相控阵天线中的部分相控阵单元置于所述静区区域中，以对设置在所述静区区域内的所述相控阵天线的相控阵单元进行测试或校准。2.如权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，还包括电波暗室；所述测试信号发生装置、所述反射装置和所述移动平台机构设置在所述电波暗室内；所述电波暗室用于提供对所述相控阵天线进行检测的测试环境。3.如权利要求2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述反射装置设置于所述电波暗室内的顶部，所述移动平台机构设置在所述电波暗室的底部。4.如权利要求2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，所述反射装置包括反射面和反射移动机构，所述反射移动机构用于承载所述反射面，并通过移动的方式变更所述静区区域在所述电波暗室内的空间位置；所述反射移动机构还用于同步移动所述测试信号发生装置，以保持所述测试信号发生装置和所述反射装置之间的空间相对位置固定不变。5.如权利要求1所述的紧缩...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗庆春，于伟，谢辉，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：新型
国别省市：