芯片传送速度检测方法及电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭露一种芯片传送速度检测方法及电子装置；其中，芯片传送速度检测方法是由处理单元通过通用非同步收发传输接口传送或接收作动装置的操作信号，芯片传送速度检测方法包含启动处理单元的通用非同步收发传输接口，获取预设时间内操作信号的信号波形；检测信号波形当中具有连续三个位转换波形的多个位传送时间；选择多个位传送时间当中最小的多个选择时间，计算多个选择时间的平均时间；以及设定处理单元，以平均时间作为读取操作信号的芯片传送速度。片传送速度。片传送速度。

【技术实现步骤摘要】
芯片传送速度检测方法及电子装置


[0001]本专利技术是关于一种芯片传送速度(Baud Rate)检测方法及电子装置，特别是关于一种无须时脉引脚进行同步，且可自动进行调整以配合各种产品数据传输的芯片传送速度检测方法，以及执行芯片传送速度检测方法的电子装置。

技术介绍

[0002]在各种电子装置内部，常会设置多种感测装置，例如温度、湿度、距离、方位等感测器，这些感测器可通过通用非同步收发传输(Universal Asynchronous Receiver Transmitter,UART)接口将感测讯息传送给电子装置的处理器。通用非同步收发传输接口分别通过TX引脚进行传输、RX引脚进行接收，不须通过时脉信号的引脚进行同步的动作。此时，数据的传送或接收通过传送速度的方式进行同步，也就是确认每一个位传输或接收的时间，使得传送方与接收方同步，进而得到正确的信息。
[0003]现有的通用非同步收发传输接口的电子装置当中，虽然能通过型号确认数据传送速度，但由于时序不同或制作上的误差使得传送方与接收方的传送速度不同，将会造成数据传输间的通讯错误。为了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片传送速度检测方法，其特征在于，是由一处理单元通过一通用非同步收发传输接口传送或接收一作动装置的一操作信号，所述芯片传送速度检测方法包含：启动所述处理单元的所述通用非同步收发传输接口，获取一预设时间内所述操作信号的一信号波形；检测所述信号波形当中具有连续三个位转换波形的多个位传送时间；选择所述多个位传送时间当中最小的多个选择时间，计算所述多个选择时间的一平均时间；以及设定所述处理单元，以所述平均时间作为读取所述操作信号的一芯片传送速度。2.如权利要求1所述的芯片传送速度检测方法，其特征在于，所述多个位传送时间包含所述信号波形由高准位转为低准位再转回高准位的过程中所检测到的低准位时间。3.如权利要求1所述的芯片传送速度检测方法，其特征在于，所述多个位传送时间包含所述信号波形由低准位转为高准位再转回低准位的过程中所检测到的高准位时间。4.如权利要求1所述的芯片传送速度检测方法，其特征在于，所述芯片传送速度检测方法是于所述处...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈品任，陈庆安，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：