本实用新型专利技术公开了一种放大电路参数及故障测试装置，包括：测试部件，其上部具有面板；测试连接线路；箱体，其内部具有第一容纳槽和第二容纳槽，其中，所述测试部件固定至所述第一容纳槽内，所述面板固定连接至所述箱体，所述面板封闭所述第一容纳槽的开口，所述测试连接线路容设于所述第二容纳槽内；箱盖，其盖设于所述箱体的箱口。本实用新型专利技术在箱体内部设置两个容纳槽，将测试部件固定在第一容纳槽内，测试连接线路则放置于第二容纳槽内，便于对测试部件以及相关连接线路的携带，箱体可以对测试部件提供保护，减少对于测试部件的磕碰损伤。伤。伤。
【技术实现步骤摘要】
放大电路参数及故障测试装置
[0001]本技术涉及电路检测领域，尤其涉及一种放大电路参数及故障测试装置。
技术介绍
[0002]放大电路属于常见的电路类型，其包括基本放大电路，多级放大电路等等。放大电路被广泛应用于多种场合，与其他电路模块一起共同构成可以实现复杂功能的电路器件。因此，放大电路的电路参数以及故障情况都影响着电路器件的工作性能。目前也存在可以对放大电路进行参数和故障测试的仪器，但这种仪器在使用的便携性以及对于测试部件的保护方面存在缺陷，仍须改进。
技术实现思路
[0003]本技术的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。
[0004]本技术的一个目的是提供一种放大电路参数及故障测试装置，其可以提高放大电路参数及故障测试装置的便携性，箱体可以对测试部件提供保护，减少对于测试部件的磕碰损伤。
[0005]为了实现根据本技术的这些目的和其它优点，提供了一种放大电路参数及故障测试装置，包括：
[0006]测试部件，其上部具有面板；
[0007]测试连接线路；
[0008]箱体，其内部具有第一容纳槽和第二容纳槽，其中，所述测试部件固定至所述第一容纳槽内，所述面板固定连接至所述箱体，所述面板封闭所述第一容纳槽的开口，所述测试连接线路容设于所述第二容纳槽内；
[0009]箱盖，其盖设于所述箱体的箱口。
[0010]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱体在箱口外侧形成有密封插槽，所述密封插槽环绕所述箱口设置，所述箱盖的周向侧壁具有密封插接部，所述密封插接部包括所述箱盖的周向侧壁的下部以及设置于所述下部上的密封胶条；在所述箱盖盖设于所述箱体的箱口时，所述密封插接部插接至所述密封插槽内，并且所述密封胶条被所述下部和所述密封插槽压紧。
[0011]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述密封胶条包括竖直部分和连接于所述竖直部分的下端的弯折部分，所述竖直部分层叠设置于所述下部的外侧，所述弯折部分固定于所述下部的边沿。
[0012]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱盖的内侧面设置有保护层。
[0013]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述保护层由防火海绵制成。
[0014]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱盖通过卡扣结构固定
至所述箱体。
[0015]优选的是，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱体上设置有提手。
[0016]本技术至少包括以下有益效果：
[0017]本技术实施例提供了一种放大电路参数及故障测试装置，包括：测试部件，其上部具有面板；测试连接线路；箱体，其内部具有第一容纳槽和第二容纳槽，其中，所述测试部件固定至所述第一容纳槽内，所述面板固定连接至所述箱体，所述面板封闭所述第一容纳槽的开口，所述测试连接线路容设于所述第二容纳槽内；箱盖，其盖设于所述箱体的箱口。本技术在箱体内部设置两个容纳槽，将测试部件固定在第一容纳槽内，测试连接线路则放置于第二容纳槽内，便于对测试部件以及相关连接线路的携带，箱体可以对测试部件提供保护，减少对于测试部件的磕碰损伤。
[0018]本技术的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
[0019]图1为本技术实施例中放大电路参数及故障测试装置的结构示意图；
[0020]图2为本技术实施例中箱体的结构示意图；
[0021]图3为本技术实施例中密封插接部的结构示意图。
具体实施方式
[0022]下面结合附图对本技术做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
[0023]如图1和图2所示，本技术实施例提供了一种放大电路参数及故障测试装置，包括：测试部件1，其上部具有面板2；测试连接线路3；箱体4，其内部具有第一容纳槽5和第二容纳槽6，其中，所述测试部件1固定至所述第一容纳槽5内，所述面板2固定连接至所述箱体4，所述面板2封闭所述第一容纳槽5的开口，所述测试连接线路3容设于所述第二容纳槽6内；箱盖7，其盖设于所述箱体4的箱口。
[0024]本技术中，测试部件可以是用于对放大电路进行各种电路参数以及故障检测的各种仪表和电路板的集成的一个仪器。测试部件的上部具有面板，面板上可以突出设置各种旋钮，仪表盘以及显示器。测试连接电路用于连接测试部件和待测设备。
[0025]本技术提供一个箱体4，箱体4内部设置有两个容纳槽。将测试部件1固定在第一容纳槽5内，并使其面板2固定连接至箱体4，从而利用面板2封闭第一容纳槽5的开口。基于该设置，测试部件1被固定在第一容纳槽内部，仅面板暴露在外面，可以为测试部件提供保护，避免对测试部件的碰撞损伤。同时，测试连接线路3收纳在第二容纳槽6内，使用时可以将其取出，用完可以放回。利用箱体提供两个容纳槽，将测试部件和测试连接线路分别通过第一容纳槽和第二容纳槽收纳，便于对测试部件和测试连接线路的携带，提高了放大电路参数及故障测试装置在使用上的便携性。
[0026]如图1、图2和图3所示，在一个优选的实施例中，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱体4在箱口外侧形成有密封插槽8，所述密封插槽8环绕所述箱口设置，所述箱盖7的周向侧壁具有密封插接部9，所述密封插接部9包括所述箱盖7的周向侧壁的下部10
以及设置于所述下部10上的密封胶条14；在所述箱盖7盖设于所述箱体4的箱口时，所述密封插接部9插接至所述密封插槽8内，并且所述密封胶条14被所述下部10和所述密封插槽8压紧。
[0027]本实施例中，箱盖7盖合在箱体4上时，箱盖7的密封插接部9可以插接至密封插槽8内，并且将密封胶条14压紧。密封胶条14可以保持箱盖和箱体之间保持密封接触，使得在不使用测试装置时灰尘，潮湿的空气不容易进入箱体内部，可以进一步增强对于测试部件的保护，有助于保证测试部件的检测精度。
[0028]本实施例中，箱盖和箱体属于分离结构，即箱盖可以完全从箱体上取下。密封插接部环绕于箱盖的周向侧壁一周设置。相应地，密封插槽也为环绕箱口设置的环形插槽。
[0029]在一个优选的实施例中，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述密封胶条14包括竖直部分12和连接于所述竖直部分12的下端的弯折部分13，所述竖直部分12层叠设置于所述下部10的外侧，所述弯折部分13固定于所述下部10的边沿。
[0030]密封胶条14的弯折部分13可以包裹在箱盖周向侧壁的下部10的边沿的外侧。当箱盖4盖合时，箱盖4周向侧壁的下部的边沿对密封胶条的弯折部分13进行挤压，将密封胶条的弯折部分13抵顶至密封插槽8底部，以进一步提升密封效果，减少灰尘和潮湿的空气进入至箱体内部。
[0031]在一个优选的实施例中，所述的放大电路参数及故障测试装置中，所述箱本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种放大电路参数及故障测试装置，其特征在于，包括：测试部件，其上部具有面板；测试连接线路；箱体，其内部具有第一容纳槽和第二容纳槽，其中，所述测试部件固定至所述第一容纳槽内，所述面板固定连接至所述箱体，所述面板封闭所述第一容纳槽的开口，所述测试连接线路容设于所述第二容纳槽内；箱盖，其盖设于所述箱体的箱口。2.如权利要求1所述的放大电路参数及故障测试装置，其特征在于，所述箱体在箱口外侧形成有密封插槽，所述密封插槽环绕所述箱口设置，所述箱盖的周向侧壁具有密封插接部，所述密封插接部包括所述箱盖的周向侧壁的下部以及设置于所述下部上的密封胶条；在所述箱盖盖设于所述箱体的箱口时，所述密封插接部插接至所述密封插槽内，并...
【专利技术属性】
技术研发人员：李东亮，
申请(专利权)人：通标标准技术服务天津有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。