【技术实现步骤摘要】
XRD分析设备及系统
[0001]本技术涉及自动化设备
,尤其涉及一种XRD分析设备及系统。
技术介绍
[0002]XRD(X
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ray diffraction,X射线衍射)是通过对样品进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得样品的成分、样品内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
[0003]然而,现在实验过程中,XRD测试基本上是通过实验人员手工完成,实验人员工作强度大,容易出错,效率低。
技术实现思路
[0004]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0005]为解决上述技术问题,本申请的技术方案是:
[0006]本申请第一方面提供一种XRD分析设备,包括:基座以及设置在所述基座上的转运机器人、样品交互仓和XRD分析仪;所述转运机器人包括机械手和转运夹爪,所述机械手设置在所述基座上且靠近所述XRD分析仪的样品出入口的一侧,所述转运夹爪设置在所述机械手远离所述基座的一端上;所述样品交互仓靠近所述基座一侧的边缘设置,用于与外部环境之间交互盛放有样品的样品承载件或者装有样品承载件的样品托盘,所述机械手用于带动所述转运夹爪至少将分析前的样品承载件转移至所述XRD分析仪内进行分析,以及将经过所述XRD分析仪分析后的样品承载件转移至所述样品交互仓上。
[0007]本申请第二方面提供一种XRD分析系统,包括搬运装置和如第一方面所述的XRD分析设备,所述搬运装置用于向所述XRD分析设备的样品交互仓上放置分析前的样品承载件或装有样品承载件的样品托盘 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种XRD分析设备,其特征在于,包括:基座以及设置在所述基座上的转运机器人、样品交互仓和XRD分析仪;所述转运机器人包括机械手和转运夹爪,所述机械手设置在所述基座上且靠近所述XRD分析仪的样品出入口的一侧,所述转运夹爪设置在所述机械手远离所述基座的一端上;所述样品交互仓靠近所述基座一侧的边缘设置,用于与外部环境之间交互盛放有样品的样品承载件或者装有样品承载件的样品托盘,所述机械手用于带动所述转运夹爪至少将分析前的样品承载件转移至所述XRD分析仪内进行分析,以及将经过所述XRD分析仪分析后的样品承载件转移至所述样品交互仓上。2.根据权利要求1所述的XRD分析设备,其特征在于,所述XRD分析仪和所述样品交互仓并排设置,或者,所述XRD分析仪和所述样品交互仓设置于所述基座相邻的两侧,所述转运机器人靠近所述XRD分析仪的样品出入口和所述样品交互仓设置。3.根据权利要求1所述的XRD分析设备,其特征在于,所述样品交互仓包括支撑组件和放置板,所述支撑组件连接于所述基座,所述放置板连接于所述支撑组件,所述放置板设置有样品放置位,所述样品放置位用于放置样品承载件或样品托盘;所述样品放置位设置有至少两个。4.根据权利要求3所述的XRD分析设备,其特征在于,每个所述样品放置位对应设置有第一定位件,所述第一定位件用于将样品承载件或样品托盘限位在所述样品放置位。5.根据权利要求3所述的XRD分析设备,其特征在于,每个所述样品放置位对应设置有第一传感器,所述第一传感器用于感应所述样品放置位的忙闲状态;所述XRD分析设备还包括控制器,所述样品交互仓还包括指示灯,所述指示灯对应每个所述样品放置位设置,所述控制器分别与所述第一传感器、所述指示灯电连接,所述控制器用于获取所述第一传感器感测到的感应信号以及基于所述感应信号控制对应位置的指示灯发出相应的指示信号。6.根据权利要求1所述的XRD分析设备,其特征在于,所述XRD分析设备还包括设置在所述基座上的中转架,所述中转架靠近所述转运机器人设置,所述机械手用于带动所述转运夹爪将分析前的样品承载件或样品托盘从所述样品交互仓上转移至所述中转架上,以及将位于所述中转架上的样品承载件或样品托盘中的样品承载件转移至所述XRD分析仪内进行分析;所述机械手还用于带动所述转运夹爪将经过所述XRD分析仪分析后的样品承载件转移至所述中转架或所述中转架上的样品托盘中,以及将所述样品承载件或所述样品托盘再次转运至所述样品交互仓。7.根据权利要求6所述的XRD分析设备,其特征在于,所述中转架包括底座、承载件和托板,所述底座设置于所述基座上,所述托板通过所述承载件固定在所述底座,所述托板上设置有用于放置所述样品托盘的托盘放置位;所述中转架还包括第一吸附件,所述第一吸附件设置在所述底座或所述托板,所述托盘放置位开设有通孔,所述第一吸附件伸入所述通孔,所述第一吸附件用于与所述样品托盘吸附连接,以将所述样品托盘与所述托盘放置位连接固定。8.根据权利要求7所述的XRD分析设备,其特征在于,所述托盘放置位上设置有第二定位件,所述第二定位件与所述样品托盘上的第三定位件配合连接,以将所述样品托盘限位于所述托盘放置位;
所述托盘放置位上还设置有第二传感器,所述第二传感器用于感应所述托盘放置位的忙闲状态。9.根据权利要求8所述的XRD分析设备,其特征在于,所述第一吸附件为电磁铁,所述中转架还包括控制器,所述控制器分别与所述电磁铁、所述第二传感器电连接,所述控制器用于获取所述第二传感器的感应信号以及控制所述电磁铁的通断状态。10.根据权利要求7所述的XRD分析设备,其特征在于,所述XRD分析设备还包括扫码器,所述扫码器设置在所述基座上并邻近所述中转架设置,或者,所述扫码器设置在所述托板上并邻近所述托盘放置位。11.根据权利要求7所述的XRD分析设备,其特征在于,所述样品托盘包括:主体,具有相背的第一表面和第二表面,所述第一表面开设有至少一个第一容置槽,所述第一容置槽用于收容样品承载件;在所述第一容置槽收容有所述样品承载件时,所述样品承载件突出于所述第一表面;第二吸附件,设置在所述第二表面,所述第二吸附件用于与所述第一吸附件吸附连接,以将所述样品托盘与所述中转架连接固定。12.根据权利要求11所述的XRD分析设备,其特征在于,所述样品托盘还包括顶盖,所述顶盖盖设于所述主体时,所述顶盖的内侧壁与所述主体的外侧面紧贴。13.根据权利要求11所述的XRD分析设备,其特征在于,所述第一吸附件为电磁铁,所述第二吸附件为永磁铁。14.根据权利要求6所述的XRD分析设备,其特征在于,所述中转架包括底座、承载件和托板,所述底座设置于所述基座上,所述托板通过所述承载件固定在所述底座,所述托板上设置有至少一个入仓中转位和至少一个出仓中转位,所述入仓中转位用于放置分析前的样品承载件,所述出仓中转位用于放置分析后的样品承载件。15.根据权利要求14所述的XRD分析设备,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:何世远,侯安新,高建东,
申请(专利权)人:深圳晶泰科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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