一种插头铜片外露高度测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种插头铜片外露高度测量仪，包括测量仪主体，所述测量仪主体的内部电性安装有PLC芯片，所述测量仪主体的前端电性连接有第一显示器、第二显示器、第三显示器、开关键、合格指示灯与测量座，所述测量座上电性安装有测量器，所述测量器上设置有第一位移检测弹片、第二位移检测弹片与第三位移检测弹片，所述第一位移检测弹片连接第一位移检测传感器的位置。本实用新型专利技术所述的一种插头铜片外露高度测量仪，插头的叉脚插入到检测口中，检测口中有弹片，叉脚会推动插片发生位移，并将位移信号由传感器反馈，进而基于位移信号的测量，来实现叉脚长度的检测，测量精度高，提高测量效率。测量效率。测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种插头铜片外露高度测量仪


[0001]本技术涉及插头铜片检测领域，特别涉及一种插头铜片外露高度测量仪。

技术介绍

[0002]插头铜片外露高度测量仪是一种进行插头铜片检测的支撑设备，测量仪用途就是用于对插头各叉脚的长度进行测量，在一个插头中，各叉脚的长度要遵循不同的标准，因此需要对其进行检测，随着科技的不断发展，人们对于插头铜片外露高度测量仪的制造工艺要求也越来越高。
[0003]现有的插头铜片外露高度测量仪在使用时存在一定的弊端，首先，在进行插头铜片检测的时候，不能快速的对插头铜片的外露高度进行测量，一般采用人工测量，测量效率较差，不利于人们的使用，还有，人工测量的精度较低，容易出现失误的情况，给实际的使用过程带来了一定的不利影响，为此，我们提出一种插头铜片外露高度测量仪。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种插头铜片外露高度测量仪，插头的叉脚插入到检测口中，检测口中有弹片，叉脚会推动插片发生位移，并将位移信号由传感器反馈，进而基于位移信号的测量，来实现叉脚长度的检测，测量精度高，提高测量效率，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种插头铜片外露高度测量仪，包括测量仪主体，所述测量仪主体的内部电性安装有PLC芯片，所述测量仪主体的前端电性连接有第一显示器、第二显示器、第三显示器、开关键、合格指示灯与测量座，所述测量座上电性安装有测量器，所述测量器上设置有第一位移检测弹片、第二位移检测弹片与第三位移检测弹片。
[0008]优选的，所述第一位移检测弹片连接第一位移检测传感器的位置，所述第二位移检测弹片连接第二位移检测传感器的位置，所述第三位移检测弹片连接第三位移检测传感器的位置，所述测量仪主体的底部四角定位有底脚，所述测量仪主体的尾部连接有电源，所述测量仪主体与电源之间连接有电源线。
[0009]优选的，所述第一位移检测传感器、第二位移检测传感器、第三位移检测传感器均连接有PLC芯片，所述PLC芯片连接有显示模块、区分合格模块与区分不合格模块。
[0010]优选的，所述第一位移检测传感器检测第一位移检测弹片的位移信号，所述第二位移检测传感器检测第二位移检测弹片的位移信号，所述第三位移检测传感器检测第三位移检测弹片的位移信号，所述电源通过电源线给测量仪主体提供电能。
[0011]优选的，所述第一位移检测传感器、第二位移检测传感器和第三位移检测传感器的输出端与PLC芯片的输入端电性连接，所述PLC芯片的输出端与显示模块、区分合格模块、
区分不合格模块的输入端电性连接。
[0012]优选的，所述测量器的位置通过第一位移检测弹片、第二位移检测弹片、第三位移检测弹片进行监测，所述测量座与测量器的位置电性连接。
[0013](三)有益效果
[0014]与现有技术相比，本技术提供了一种插头铜片外露高度测量仪，具备以下有益效果：该一种插头铜片外露高度测量仪，插头的叉脚插入到检测口中，检测口中有弹片，叉脚会推动插片发生位移，并将位移信号由传感器反馈，进而基于位移信号的测量，来实现叉脚长度的检测，测量精度高，提高测量效率，在测量座与测量器的位置进行测量，将三孔插头或两孔插头插入测量器的位置，通过第一位移检测弹片、第二位移检测弹片、第三位移检测弹片的位移长度来进行检测，并将信号传递给第一位移检测传感器、第二位移检测传感器、第三位移检测传感器，在第一显示器、第二显示器、第三显示器的位置显示，并在合格指示灯上查看是否合格，实现快速检测，整个插头铜片外露高度测量仪结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。
附图说明
[0015]图1为本技术一种插头铜片外露高度测量仪的整体结构示意图。
[0016]图2为本技术一种插头铜片外露高度测量仪中未测量状态的结构示意图。
[0017]图3为本技术一种插头铜片外露高度测量仪中测量状态的结构示意图。
[0018]图4为本技术一种插头铜片外露高度测量仪中PLC芯片连接的结构示意图。
[0019]图中：1、测量仪主体；2、电源；3、电源线；4、底脚；5、PLC芯片；6、开关键；7、合格指示灯；8、测量座；9、测量器；10、第三显示器；11、第二显示器；12、第一显示器；13、第一位移检测传感器；14、第二位移检测传感器；15、第三位移检测传感器；16、第一位移检测弹片；17、第二位移检测弹片；18、第三位移检测弹片；19、显示模块；20、区分合格模块；21、区分不合格模块。
具体实施方式
[0020]下面将结合附图和具体实施方式对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，但是本领域技术人员将会理解，下列所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，仅用于说明本技术，而不应视为限制本技术的范围。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例中未注明具体条件者，按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可以通过市售购买获得的常规产品。
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0022]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安
装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0023]如图1
‑
4所示，一种插头铜片外露高度测量仪，包括测量仪主体1，测量仪主体1的内部电性安装有PLC芯片5，测量仪主体1的前端电性连接有第一显示器12、第二显示器11、第三显示器10、开关键6、合格指示灯7与测量座8，测量座8上电性安装有测量器9，测量器9上设置有第一位移检测弹片16、第二位移检测弹片17与第三位移检测弹片18，插头的叉脚插入到检测口中，检测口中有弹片，叉脚会推动插片发生位移，并将位移信号由传感器反馈，进而基于位移信号的测量，来实现叉脚长度的检测，测量精度高，提高测量效率。
[0024]进一步的，第一位移检测弹片16连接第一位移检测传感器13的位置，第二位移检测弹片17连接第二位移检测传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种插头铜片外露高度测量仪，包括测量仪主体(1)，其特征在于：所述测量仪主体(1)的内部电性安装有PLC芯片(5)，所述测量仪主体(1)的前端电性连接有第一显示器(12)、第二显示器(11)、第三显示器(10)、开关键(6)、合格指示灯(7)与测量座(8)，所述测量座(8)上电性安装有测量器(9)，所述测量器(9)上设置有第一位移检测弹片(16)、第二位移检测弹片(17)与第三位移检测弹片(18)。2.根据权利要求1所述的一种插头铜片外露高度测量仪，其特征在于：所述第一位移检测弹片(16)连接第一位移检测传感器(13)的位置，所述第二位移检测弹片(17)连接第二位移检测传感器(14)的位置，所述第三位移检测弹片(18)连接第三位移检测传感器(15)的位置，所述测量仪主体(1)的底部四角定位有底脚(4)，所述测量仪主体(1)的尾部连接有电源(2)，所述测量仪主体(1)与电源(2)之间连接有电源线(3)。3.根据权利要求2所述的一种插头铜片外露高度测量仪，其特征在于：所述第一位移检测传感器(13)、第二位移检测传感器(14)、第三位移检测传感器(15)均连接有P...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛金鹏，林恒彬，张金成，
申请(专利权)人：苏州宝兴电线电缆有限公司，
类型：新型
国别省市：