一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法及监测方法技术

本发明专利技术属于光机装调技术领域，具体涉及一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法及监测方法。采用激光干涉仪、平晶、自准直仪、可调反射镜实现了离轴反射镜光轴的寻找及装调过程中对离轴两反产品光轴的随时监控，便于离轴两反产品在光机装调平台上快速精准地开展穿轴工作，该发明专利技术在保证产品精度的前提下，提高了工作效率，降低了装配成本，具有广阔的应用前景。前景。前景。

【技术实现步骤摘要】
一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法及监测方法


[0001]本专利技术属于光机装调
，具体涉及一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法及监测方法。

技术介绍

[0002]随着机载武器的发展，对光电产品的探测距离提出了越来越高的要求，离轴两反产品以其无色差、结构紧凑、轻量化以及大口径等优点，被广泛应用于航空、航天领域光学系统中。离轴两反产品在进行光机装调时，其视场光轴的寻找方法繁琐，不利于快速精准地开展针对离轴两反产品的穿轴工作。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本发买那个提出一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法及监测方法，实现了装调过程中随时监控离轴两反产品零度视场光轴，便于离轴两反产品在光机装调平台上快速精准地开展穿轴工作，该专利技术在保证产品精度的前提下，提高了工作效率，降低了装配成本，具有广阔的应用前景。
[0004]为了实现上述技术目的，本专利技术所采用的具体技术方案为：
[0005]一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法，基于光轴寻找装置进行，所述光轴寻找装置包括激光干涉仪、平晶以及可调反射镜；
[0006]所述离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法包括以下步骤：
[0007]S101:使激光干涉仪与平晶自准；之后保持激光干涉仪与平晶不变动；
[0008]S102:在激光干涉仪上找出离轴两反产品零度视场的光轴；保持激光干涉仪与离轴两反产品之间的相对位姿；
[0009]S103:使激光干涉仪与所述可调反射镜自准；将离轴两反产品拆除，保持可调反射镜上离轴两反产品的位置不动。
[0010]进一步的，所述S101中，使所述激光干涉仪与所述平晶自准的方法具体为：激光干涉仪切换到自准模式，通过调节平晶使激光干涉仪光束经过平晶后自准像斑和激光干涉仪原像斑重合，切换到测试模式，通过调整平晶得到清晰的干涉条纹图像，并让干涉条纹最少。
[0011]进一步的，所述S102中，在激光干涉仪上找出离轴两反产品零度视场的光轴的方法具体为：将基于工装夹持在可调反射镜上的离轴两反产品放到激光干涉仪与平晶之间，激光干涉仪切换到自准模式，使激光干涉仪光束覆盖离轴两反产品的通光口径，通过调节离轴两反产品的光路位姿使激光干涉仪光束经离轴两反产品以及平晶后自准像斑与激光干涉仪原像斑重合；之后将激光干涉仪切换到测试模式，通过调整离轴两反产品的光路位姿在激光干涉仪中得到清晰的干涉条纹图像，并让干涉条纹最少，此时离轴两反零度视场光轴和激光干涉仪光轴平行。
[0012]进一步的，所述S103中，使激光干涉仪与所述可调反射镜自准的方法具体为：保持
激光干涉仪和离轴两反产品不动，在离轴两反产品上安装可调反射镜，激光干涉仪光束覆盖可调反射镜的通光口径，激光干涉仪切换到自准模式，通过调节离轴两反产品上的可调反射镜使激光干涉仪光束经可调反射镜后自准像斑与激光干涉仪原像斑重合，切换到测试模式，通过调整可调反射镜得到清晰的干涉条纹图像，并让干涉条纹最少，此时可调反射镜的法线就是离轴两反产品零度视场的光轴。
[0013]本专利技术还提出在上述离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法完成后的一种光轴监测方法，基于监测装置实现，所述监测装置包括内调焦望远镜、自准直仪以及平晶；所述监测方法包括以下步骤：
[0014]S201:将离轴两反产品零度视场的光轴转化到自准直仪的光轴上；之后保持自准直仪不动；
[0015]S202:保证自准直仪的光轴和内调焦望远镜的光轴平行；保持内调焦望远镜不动；
[0016]S203:用自准直仪来实现装调过程中随时监控离轴两反产品零度视场光轴。
[0017]进一步的，所述S201中将离轴两反产品零度视场的光轴转化到自准直仪的光轴上的方法具体为：即将自准仪对准离轴两反产品上的可调反射镜，保证离轴两反产品不动，调整自准直仪的位姿，使自准直仪与可调反射镜准直且自准精度≤5＂。
[0018]进一步的，所述S202中保证自准直仪的光轴和内调焦望远镜的光轴平行的方法具体为：即使内调焦望远镜光束覆盖离轴两反产品的通光口径，并在内调焦望远镜和自准直仪的前面放置平晶，调整平晶的位置，使自准直仪与平晶准直且自准精度≤5＂，保持平晶不动调整内调焦望远镜，使内调焦望远镜与平晶准直且自准精度≤5＂，取出平晶。
[0019]进一步的，所述S203中用自准直仪来实现装调过程中随时监控离轴两反产品零度视场光轴的方法具体为：即离轴两反产品基于内调焦望远镜开展光学系统穿轴工作，用自准直仪实现装调过程中随时监控离轴两反产品零度视场光轴，若离轴两反产品角度发生空间变换，调整离轴两反产品使自准直仪与离轴两反产品上可调反射镜准直且自准精度≤5＂，以实现自准直仪通过离轴两反产品上的可调反射镜监控离轴两反产品零度视场光轴。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0021]图1为本专利技术具体实施方式中光轴寻找装置的结构示意图；
[0022]图2为本专利技术具体实施方式中监测装置的结构示意图；
[0023]其中：1、激光干涉仪；2、平晶；3、可调反射镜；4、离轴两反产品；5、内调焦望远镜；6、自准直仪。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。
[0025]以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实
施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
[0026]要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
[0027]还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想，图示中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法，其特征在于，基于光轴寻找装置进行，所述光轴寻找装置包括激光干涉仪、平晶以及可调反射镜；所述离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法包括以下步骤：S101:使激光干涉仪与平晶自准；之后保持激光干涉仪与平晶不变动；S102:在激光干涉仪上找出离轴两反产品零度视场的光轴；保持激光干涉仪与离轴两反产品之间的相对位姿；S103:使激光干涉仪与所述可调反射镜自准；将离轴两反产品拆除，保持可调反射镜上离轴两反产品的位置不动。2.根据权利要求1所述的离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法，其特征在于，所述S101中，使所述激光干涉仪与所述平晶自准的方法具体为：激光干涉仪切换到自准模式，通过调节平晶使激光干涉仪光束经过平晶后自准像斑和激光干涉仪原像斑重合，切换到测试模式，通过调整平晶得到清晰的干涉条纹图像，并让干涉条纹最少。3.根据权利要求2所述的离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法，其特征在于，所述S102中，在激光干涉仪上找出离轴两反产品零度视场的光轴的方法具体为：将基于工装夹持在可调反射镜上的离轴两反产品放到激光干涉仪与平晶之间，激光干涉仪切换到自准模式，使激光干涉仪光束覆盖离轴两反产品的通光口径，通过调节离轴两反产品的光路位姿使激光干涉仪光束经离轴两反产品以及平晶后自准像斑与激光干涉仪原像斑重合；之后将激光干涉仪切换到测试模式，通过调整离轴两反产品的光路位姿在激光干涉仪中得到清晰的干涉条纹图像，并让干涉条纹最少，此时离轴两反零度视场光轴和激光干涉仪光轴平行。4.根据权利要求3所述的离轴两反产品零度视场光轴的寻找方法，其特征在于，所述S103中，使激光干涉仪与所述可调反射镜自准的方法具体为：保持激光干涉仪和离轴两反产品不动，在离轴两反产品上安装可调反射镜，激光干涉仪光束覆盖可调反射镜的通光口径，激光干涉仪切换到自准模式，通过调节离轴两反产品上的可调反射镜使激光干涉仪光束经可调反射镜后自准像斑与激光干涉...

【专利技术属性】
技术研发人员：周景欢，刘勇，谷红雨，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：发明
国别省市：