透明导电性薄膜制造技术

提供一种使用于触摸面板时的轻快的操作性、优异的笔输入稳定性以及优异的笔滑动耐久性的透明导电性薄膜。一种透明导电性薄膜，为在透明塑料薄膜基材上的至少一面侧层叠铟

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】透明导电性薄膜


[0001]本专利技术涉及在透明塑料薄膜基材上层叠了铟
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锡复合氧化物的透明导电膜的透明导电性薄膜，特别是涉及在电阻膜式触摸面板中使用时的轻快的操作性以及优异的笔输入稳定性以及优异的笔滑动耐久性的透明导电性薄膜。

技术介绍

[0002]在透明塑料薄膜基材上层叠透明且电阻小的薄膜而成的透明导电性薄膜，作为利用其导电性的用途例如液晶显示器、电致发光(EL)显示器等那样的平板显示器、触摸面板的透明电极等，被广泛用于电气/电子领域的用途。
[0003]电阻膜式触摸面板是将在玻璃、塑料的基板上涂布透明导电性薄膜的固定电极、和在塑料薄膜上涂布透明导电性薄膜的可动电极(＝薄膜电极)组合而成的触摸面板，重合在显示体的上侧来使用。用手指、笔按压薄膜电极，使固定电极与薄膜电极的透明导电性薄膜彼此接触成为用于触摸面板的位置识别的输入。特别是在用笔输入时，要求笔滑动耐久性。
[0004]此外，近年来，由于静电电容式触摸面板普及，因此在电阻膜式触摸面板中也与静电电容式触摸面板同样地，要求即使轻轻地触摸也能够输入。例如，认本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种透明导电性薄膜，在透明塑料薄膜基材上的至少一面侧层叠铟
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锡复合氧化物的透明导电膜，基于以下的输入载荷试验的透明导电膜的输入开始载荷为3g以上且15g以下，进而，基于以下的笔输入稳定性试验的透明导电性薄膜的失压时间为0.00毫秒以上且0.40毫秒以下，在输入载荷试验方法中，将尺寸为220mm
×
135mm的透明导电性薄膜用作一个面板，作为另一个面板，使用包含铟
‑
锡复合氧化物薄膜的透明导电性薄膜A，该铟
‑
锡复合氧化物薄膜是在尺寸为232mm
×
151mm的玻璃基板上通过溅射法形成的，厚度为20nm且氧化锡含量为10质量％，在带铟
‑
锡复合氧化物薄膜的玻璃基板即ITO玻璃的透明导电性薄膜A侧，以4mm间距的正方格子状配置纵60μm
×
横60μm
×
高5μm的环氧树脂，以作为点间隔件，接下来，以ITO玻璃的四角的角的任意一个为起点，在ITO玻璃的透明导电性薄膜A侧粘贴厚度为105μm且宽度为6mm的双面胶带，使得能够形成190mm
×
135mm的长方形，接下来，在粘贴于ITO玻璃的双面胶带上粘贴透明导电性薄膜的透明导电膜B侧，层叠成透明导电性薄膜A与透明导电膜B面对，此时，透明导电性薄膜的一个短边侧从ITO玻璃露出，接下来，用测试器连接ITO玻璃和透明导电性薄膜，接下来，从透明导电性薄膜侧利用聚缩醛制的笔施加载荷，将由测试器计测出的电阻值稳定时的载荷值设为输入开始载荷，该笔的前端的形状为0.8mmR，用笔施加载荷的位置是由四个点间隔件包围的中心区域，计算3点处的输入开始载荷的平均值，在笔输入稳定性试验方法中，将尺寸为220mm
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135mm的透明导电性薄膜用作为一个面板，作为另一个面板，使用包含铟
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锡复合氧化物薄膜的透明导电性薄膜A，该铟
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锡复合氧化物薄膜是在尺寸为232mm
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151mm的玻璃基板上通过溅射法形成的，厚度为20nm且氧化锡含量为10质量％，在带铟
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锡复合氧化物薄膜的玻璃基板即ITO玻璃的透明导电性薄膜A侧，以4mm间距的正方格子状配置纵60μm
×
横60μm
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高5μm的环氧树脂，以作为点间隔件，接下来，以ITO玻璃的四角的角的任意一个为起点，在ITO玻璃的透明导电性薄膜A侧粘贴厚度为105μm、宽度为6mm的双面胶带，使得能够形成190mm
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135mm的长方形，接下来，在粘贴于ITO玻璃的双面胶带上粘贴透明导电性薄膜的透明导电膜B侧，层叠成透明导电性薄膜A与透明导电膜B面对，此时，透明导电性薄膜的一个短边侧从ITO玻璃露出，接下来，在ITO玻璃和透明导电性薄膜连接恒压电源，接下来，连接能够计测ITO玻璃与透明导电性薄膜的电压的记录仪，接下来，对恒压电源施加6V，用记录仪以0.02毫秒为单位开始计测电压，接下来，从透明导电性薄膜侧利用聚缩醛制的笔以每秒5次的速度施加50g的载荷，该笔的前端的形状为0.8mmR，用笔施加载荷的位置是由四个点间隔件包围的中心区域，从记录仪中取出用笔对透明导电性薄膜施加载荷时的电压的时间变化的数据，以笔从透明导电性薄膜开始离开、电压从6V减少时为起点，测定电压成为5V为止的时
间，记录为失压时间。2.根据权利要求1所述的透明导电性薄膜，其中，下述的薄膜硬挺度试验的硬挺度为0.23N
·
cm以上且0.90N
·
cm以下，进而透明导电性薄膜的导电面的下述的平均最大峰高满足下述式(2
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1)以及式(2
‑
2)，进而由下述的接触面积率评价计算出的值满足式(2
‑
3)，在薄膜硬挺度试验方法中，从透明导电性薄膜采集20mm
×
250mm的试验片，以透明导电层为上地将试验片配置在表面平滑的水平台上，此时仅将试验片的20mm
×
20mm的部分放置在水平台上，将20mm
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230mm放置成露出到水平台的外部，此外在试验片的20mm
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20mm的部分上放置重物，此时，选择重物的重量、尺寸，以使得试验片与水平台之间不产生间隙，接下来，通过标尺读取水平台的高度与薄膜的前端的高度之差即δ，接下来，将数值代入以下的式(1)来计算硬挺度，式(1)(g
×
a
×
b
×

【专利技术属性】
技术研发人员：多多见央，高桥知大，
申请(专利权)人：东洋纺株式会社，
类型：发明
国别省市：