一种相控断路器检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及相控断路器检测装置，测试接口P1的第1、2引脚上分别接开关S2和开关S1的一个引脚，开关S2和开关S1的另一个引脚分别接测试接口P1的第3引脚；六个发光二极管的负极分别接测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚，每个发光二极管的正极接VCC；六个隔离光耦的第1引脚分别接测试接口P1的第15、13、11、9、7、5引脚，六个隔离光耦的第2引脚分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，六个隔离光耦的第4引脚分别接微处理器，每个隔离光耦的第3引脚接地。可以完成六个接点信号组同时检测，大大的改善工作效率，准确率，可实现零误差，可以监视每一动作的运行情况。动作的运行情况。动作的运行情况。

【技术实现步骤摘要】
一种相控断路器检测装置


[0001]本技术涉及断路器检测
，具体涉及一种相控断路器检测装置。

技术介绍

[0002]相控涌流抑制断路器在实际生产过程中，常需要对其内部的接点信号进行测量，其接点信号组较多，如分闸和合闸、储能和未储能均会进行切换，传统采用万用表测量，点位较多，状态变换亦多，容易出现漏检和错检的情况。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是提供一种相控断路器检测装置，以克服上述现有技术中的不足。
[0004]本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种相控断路器检测装置，包括：
[0005]测试接口P1、芯片IC3、六个隔离光耦、六个发光二极管、开关S1和开关S2，所述测试接口P1至少具有17个引脚，所述测试接口P1的第1、2引脚上分别接开关S2和开关S1的一个引脚，所述开关S2和开关S1的另一个引脚分别接测试接口P1的第3引脚；六个发光二极管的负极分别接测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚，每个发光二极管的正极接VCC；六个隔离光耦的第1引脚分别接测试接口P1的第15、13、11、9、7、5引脚，六个隔离光耦的第2引脚分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，六个隔离光耦的第4引脚分别接微处理器，六个隔离光耦的第3引脚均接地，芯片IC3的第1、2、3、4、5、6引脚连接微处理器。
[0006]在上述技术方案的基础上，本技术还可以做如下改进。
[0007]进一步，还包括六个第一电阻，测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚与六个发光二极管的负极之间各串联一个第一电阻。
[0008]进一步，还包括六个第二电阻，六个隔离光耦的第4引脚分别与六个第二电阻的一个引脚相连，六个第二电阻的另一个引脚均接VCC。
[0009]进一步，还包括六个电容，六个隔离光耦的第4引脚分别与六个电容的一个引脚相连，六个电容的另一个引脚均接地。
[0010]进一步，还包括六个二极管，六个二极管的负极分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，六个二极管的正极分别接六个隔离光耦的第2引脚。
[0011]进一步，还包括六个第三电阻，六个第三电阻的一个引脚分别接芯片IC3的第1、2、3、4、5、6引脚，六个第三电阻的另一个引脚接地。
[0012]本技术的有益效果是：可以完成六个接点信号组同时检测，大大改善工作效率、准确率，可实现零误差，可以监视每一动作的运行情况。
附图说明
[0013]图1为本技术所述测试接口P1的结构图；
[0014]图2为本技术所述芯片IC3的结构图；
[0015]图3为本技术所述隔离光耦OP2的结构图；
[0016]图4为本技术所述隔离光耦OP3的结构图；
[0017]图5为本技术所述隔离光耦OP4的结构图；
[0018]图6为本技术所述隔离光耦OP5的结构图；
[0019]图7为本技术所述隔离光耦OP6的结构图；
[0020]图8为本技术所述隔离光耦OP7的结构图。
具体实施方式
[0021]以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。
[0022]实施例1
[0023]如图1～图8所示，一种相控断路器检测装置，包括：测试接口P1、芯片IC3、六个隔离光耦、六个发光二极管、开关S1和开关S2；
[0024]测试接口P1至少具有17个引脚，测试接口P1的第1引脚上接开关S2的一个引脚，测试接口P1的第2引脚上接开关S1的一个引脚，而开关S2和开关S1的另一个引脚分别接测试接口P1的第3引脚；
[0025]六个发光二极管的负极分别接测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚，每个发光二极管的正极接VCC，为便于理解：六个发光二极管分别记为发光二极管D5、D8、D11、D14、D15、D16，发光二极管D5、D8、D11、D14、D15、D16用于直观显示，其中，发光二极管D5、D8、D11、D14、D15、D16的负极分别接测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚，发光二极管D5、D8、D11、D14、D15、D16的负极的正极接VCC；
[0026]六个隔离光耦的第1引脚分别接测试接口P1的第15、13、11、9、7、5引脚，六个隔离光耦的第2引脚分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，六个隔离光耦的第4引脚分别接微处理器，六个隔离光耦的第3引脚均接地；
[0027]为便于理解：六个隔离光耦分别记为：隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7，隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7用于隔离装置与外接装置之间的干扰，隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7的第1引脚分别接测试接口P1的第15、13、11、9、7、5引脚，隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7的第2引脚分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7的第3引脚均接地；
[0028]隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7的第4引脚记为YX0、YX1、YX2、YX3、YX4、YX5，YX0、YX1、YX2、YX3、YX4、YX5为信号的反馈输入接口，隔离光耦OP2、OP3、OP4、OP5、OP6、OP7的第4引脚分别接微处理器；
[0029]芯片IC3的第1、2、3、4、5、6引脚连接微处理器，芯片IC3的第1、2、3、4、5、6引脚分别记为TR5、TR4、TR3、TR2、TR1、TR0，TR5、TR4、TR3、TR2、TR1、TR0为驱动输出信号，TR0、TR1为数据的输出信号用于控制固态快速接触和控制电源继电器。
[0030]实施例2
[0031]如图1所示，本实施例为在实施例1的基础上对其所进行的进一步改进，具体如下：
[0032]相控断路器检测装置还包括六个第一电阻，测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚与六个发光二极管的负极之间各串联一个第一电阻，为方便理解，六个第一电阻分别记为：电
阻R6、R9、R12、R15、R16、R17，测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚与发光二极管D5、D8、D11、D14、D15、D16的负极之间分别串联电阻R6、R9、R12、R15、R16、R17，电阻R6、R9、R12、R15、R16、R17为限流电阻。
[0033]实施例3
[0034]如图3～图8所示，本实施例为在实施例1或2的基础上对其所进行的进一步改进，具体如下：
[0035]相控断路器检测装置还包括六个第二电阻，六个隔离光耦的第4引脚分别与六个第二电阻的一个引脚相连，六个第二电阻的另一个引脚均接VCC，为方便理解，六个第二电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相控断路器检测装置，其特征在于，包括：测试接口P1、芯片IC3、六个隔离光耦、六个发光二极管、开关S1和开关S2，所述测试接口P1至少具有17个引脚，所述测试接口P1的第1、2引脚上分别接开关S2和开关S1的一个引脚，所述开关S2和开关S1的另一个引脚分别接测试接口P1的第3引脚；六个发光二极管的负极分别接测试接口P1的14、12、10、8、6、4引脚，每个发光二极管的正极接VCC；六个隔离光耦的第1引脚分别接测试接口P1的第15、13、11、9、7、5引脚，六个隔离光耦的第2引脚分别接芯片IC3的第11、12、13、14、15、16引脚，六个隔离光耦的第4引脚分别接微处理器，六个隔离光耦的第3引脚均接地，所述芯片IC3的第1、2、3、4、5、6引脚连接微处理器。2.根据权利要求1所述的一种相控断路器检测装置，其特征在于：还包括六个第一电阻，测试接口P1的14、12、...

【专利技术属性】
技术研发人员：张璋，王辉，任青军，
申请(专利权)人：霍立克电气有限公司，
类型：新型
国别省市：