本申请提供了一种混合电子系统的可靠性评估方法及装置，包括：混合电子系统包括新研单元和成熟单元；将新研单元中的新研子单元的成败型可靠性评估数据和新研单元中其他独立的电子元器件的成败型可靠性评估数据进行累积，得到新研单元的成败型可靠性评估数据；将新研单元的成败型数据进行转换，得到新研单元的指数型可靠性评估数据；获取新研单元的实际运行数据和成熟单元的目标可靠性评估数据；将新研单元的指数型数据和新研单元的实际运行数据进行加权累积，确定出新研单元的目标可靠性评估数据；将成熟单元的目标数据和新研单元的目标数据进行累积，得到混合电子系统的可靠性评估数据。这样，可以缩短复杂混合电子系统可靠性评估的验证时间。可靠性评估的验证时间。可靠性评估的验证时间。
【技术实现步骤摘要】
一种混合电子系统的可靠性评估方法及装置
[0001]本申请涉及可靠性评估
，尤其是涉及一种混合电子系统的可靠性评估方法及装置。
技术介绍
[0002]高可靠的混合电子系统在武器装备领域应用日益广泛，其有着天然的长寿命和低故障率的特点，建立基于大量失效样本数据的可靠性分析与评估技术已无法满足当下实际工程的需求。特别是对于航空、航天、核电以及战略武器装备等具有高可靠性要求的复杂系统，一旦混合电子系统发生故障，将造成不可估量的严重社会影响和经济损失。因此，研究高可靠装备混合电子系统可靠性评估具有重要意义。
[0003]但由于试验条件的不完备性、试验数据的随机性、系统组成的复杂性以及试验人员认知能力的差异等问题，随着对系统失效机理和潜在变化规律的逐渐认知，基于传统的二态假设的系统可靠性评估方法，已无法完整的描述部件性能、系统性能以及系统可靠性之间的关系。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种混合电子系统的可靠性评估方法及装置，通过对混合电子系统中各个单元以及各个电子元器件的可靠性评估数据以及实际运行数据进行综合分析处理，确定出可用于确定混合电子系统的可靠性评估结果的数据，从而克服了实验室试验无法考核复杂混合电子系统可靠性指标的难题，并缩短了复杂装备混合电子系统的验证时间。
[0005]本申请实施例提供了一种混合电子系统的可靠性评估方法，所述可靠性评估方法包括：获取混合电子系统中每个电子元器件的研制类型；其中，所述研制类型包括新研型产品和成熟型产品；将同一研制类型的电子元器件划分为一组，得到所述混合电子系统的新研单元和成熟单元；当所述新研单元中存在相同安装位置和功能的电子元器件时，将具有相同安装位置和功能的电子元器件进行聚类，确定出至少一个新研子单元；将所述新研单元中的每个新研子单元的成败型可靠性评估数据和所述新研单元中其他独立的电子元器件的成败型可靠性评估数据进行累积，得到所述新研单元的成败型可靠性评估数据；将所述新研单元的成败型可靠性评估数据进行转换，得到所述新研单元的指数型可靠性评估数据；获取所述新研单元的实际运行数据和所述成熟单元的目标可靠性评估数据；将所述新研单元的指数型可靠性评估数据和所述新研单元的实际运行数据进行
加权累积，确定出所述新研单元的目标可靠性评估数据；将所述成熟单元的目标可靠性评估数据和所述新研单元的目标可靠性评估数据进行累积，得到所述混合电子系统的可靠性评估数据；其中，所述可靠性评估数据用于确定所述混合电子系统的可靠性评估结果。
[0006]可选的，通过以下步骤确定新研子单元的成败型可靠性评估数据，包括：获取该新研子单元中每个电子元器件的指数型可靠性评估数据；将该新研子单元中所有电子元器件的指数型可靠性评估数据进行转换整合，确定出该新研子单元的成败型可靠性评估数据。
[0007]可选的，通过以下公式将成败型可靠性评估数据转换成指数型可靠性评估数据：当时，有时，有当f=0时，有；Z=0；其中，，f为成败型可靠性评估数据中的故障数，n为成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，s为等效试验次数为n时的成功次数，为转换后指数型可靠性评估数据中的等效试验次数，Z为转换后指数型可靠性评估数据中的故障数。
[0008]可选的，通过以下公式将指数型可靠性评估数据转换成成败型可靠性评估数据：当时，有时，有；当Z=0时，有；f=0；其中，f为转换后成败型可靠性评估数据中的故障数，n为转换后成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，为指数型可靠性评估数据中的等效试验次数，Z为指数型可靠性评估数据中的故障数。
[0009]可选的，通过以下公式将该新研子单元中所有电子元器件的指数型可靠性评估数据进行转换整合，确定出该新研子单元的成败型可靠性评估数据：当时，有
；当=0时，有f=0；其中，，，，，L为该新研子单元中所有电子元器件的个数，T为该新研子单元中所有电子元器件的总工作时间，为该新研子单元中所有电子元器件的故障数，γ为电子元器件的指数型可靠性评估的置信度，为所有电子元器件的指数型可靠性评估数据中的等效任务时间，为等效任务数，n为转换后该新研子单元的成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，f为转换后该新研子单元的成败型可靠性评估数据中的故障数。
[0010]可选的，将无准确故障率的电子元器件的研制类型确定为新研型产品，将有准确故障率的电子元器件的研制类型确定为成熟型产品。
[0011]可选的，所述新研单元的实际运行数据包括以下内容中的至少一项：所述新研单元研制过程中的试验数据、所述新研单元的相似产品的使用数据、所述新研单元的相同产品的使用数据、所述新研单元中各个电子元器件的实际运行可靠性评估数据以及供应商提供的所述新研单元的可靠性相关数据。
[0012]本申请实施例还提供了一种混合电子系统的可靠性评估装置，所述可靠性评估装置包括：第一获取模块，用于获取混合电子系统中每个电子元器件的研制类型；其中，所述研制类型包括新研型产品和成熟型产品；划分模块，用于将同一研制类型的电子元器件划分为一组，得到所述混合电子系统的新研单元和成熟单元；第一确定模块，用于当所述新研单元中存在相同安装位置和功能的电子元器件时，将具有相同安装位置和功能的电子元器件进行聚类，确定出至少一个新研子单元；第一累积模块，用于将所述新研单元中的每个新研子单元的成败型可靠性评估数据和所述新研单元中其他独立的电子元器件的成败型可靠性评估数据进行累积，得到所述新研单元的成败型可靠性评估数据；第一转换模块，用于将所述新研单元的成败型可靠性评估数据进行转换，得到所述新研单元的指数型可靠性评估数据；第二获取模块，用于获取所述新研单元的实际运行数据和所述成熟单元的目标可靠性评估数据；第二确定模块，用于将所述新研单元的指数型可靠性评估数据和所述新研单元的
实际运行数据进行加权累积，确定出所述新研单元的目标可靠性评估数据；第二累积模块，用于将所述成熟单元的目标可靠性评估数据和所述新研单元的目标可靠性评估数据进行累积，得到所述混合电子系统的可靠性评估数据；其中，所述可靠性评估数据用于确定所述混合电子系统的可靠性评估结果。
[0013]可选的，所述可靠性评估装置还包括第二转换模块，所述第二转换模块用于：获取该新研子单元中每个电子元器件的指数型可靠性评估数据；将该新研子单元中所有电子元器件的指数型可靠性评估数据进行转换整合，确定出该新研子单元的成败型可靠性评估数据。
[0014]可选的，第一转换模块还用于通过以下公式将成败型可靠性评估数据转换成指数型可靠性评估数据：当时，有时，有当f=0时，有；Z=0；其中，，f为成败型可靠性评估数据中的故障数，n为成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，s为等效试验次数为n时的成功次数，为转换后指数型可靠性评估数据中的等效试验次数，Z为转换后指数型可靠性评估数据中的故障数。
[0015]可选的，第二转换模块还用于通过以下公式将指数型可靠性评估数据转换成成败型可靠性评估数据：当时，有时，有；当Z=0时，有；f=0；其中，f为转换后本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种混合电子系统的可靠性评估方法，其特征在于，所述可靠性评估方法包括：获取混合电子系统中每个电子元器件的研制类型；其中，所述研制类型包括新研型产品和成熟型产品；将同一研制类型的电子元器件划分为一组，得到所述混合电子系统的新研单元和成熟单元；当所述新研单元中存在相同安装位置和功能的电子元器件时，将具有相同安装位置和功能的电子元器件进行聚类，确定出至少一个新研子单元；将所述新研单元中的每个新研子单元的成败型可靠性评估数据和所述新研单元中其他独立的电子元器件的成败型可靠性评估数据进行累积，得到所述新研单元的成败型可靠性评估数据；将所述新研单元的成败型可靠性评估数据进行转换，得到所述新研单元的指数型可靠性评估数据；获取所述新研单元的实际运行数据和所述成熟单元的目标可靠性评估数据；将所述新研单元的指数型可靠性评估数据和所述新研单元的实际运行数据进行加权累积，确定出所述新研单元的目标可靠性评估数据；将所述成熟单元的目标可靠性评估数据和所述新研单元的目标可靠性评估数据进行累积，得到所述混合电子系统的可靠性评估数据；其中，所述可靠性评估数据用于确定所述混合电子系统的可靠性评估结果。2.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其特征在于，通过以下步骤确定新研子单元的成败型可靠性评估数据，包括：获取该新研子单元中每个电子元器件的指数型可靠性评估数据；将该新研子单元中所有电子元器件的指数型可靠性评估数据进行转换整合，确定出该新研子单元的成败型可靠性评估数据。3.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其特征在于，通过以下公式将成败型可靠性评估数据转换成指数型可靠性评估数据：当时，有时，有当f=0时，有；Z=0；其中，，f为成败型可靠性评估数据中的故障数，n为成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，s为等效试验次数为n时的成功次数，为转换后指数型可靠性评估数据中的等效试验次数，Z为转换后指数型可靠性评估数据中的故障数。
4.根据权利要求2所述的可靠性评估方法，其特征在于，通过以下公式将指数型可靠性评估数据转换成成败型可靠性评估数据：当时，有时，有；当Z=0时，有；f=0；其中，f为转换后成败型可靠性评估数据中的故障数，n为转换后成败型可靠性评估数据中的等效试验次数，为指数型可靠性评估数据中的等效试验次数，Z为指数型可靠性评估数据中的故障数。5.根据权利要求2所述的可靠性评估方法，其特征在于，通过以下公式将该新研子单元中所有电子元器件的指数型可靠性评估数据进行转换整合，确定出该新研子单元的成败型可靠性评估数据：当时，有时，有；当=0时，有f=0；其中，，，，，L为该新研子单元中所有电子元器件的个数，T为该新研子单元中所有电子元器件的总工作时间，为该新研子单元中所有电...
【专利技术属性】
技术研发人员：句海洋，丰大军，银皓，李末军，
申请(专利权)人：中国电子信息产业集团有限公司第六研究所，
类型：发明
国别省市：
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