一种数字信号处理器验证系统和验证方法技术方案

本发明专利技术提供一种数字信号处理器验证系统和验证方法，包括上位机、主控区、待测区和外部仪表；所述上位机依次连接主控区和待测区，所述外部仪表分别连接主控区和待测区；所述主控区设置有主控DSP和与其双向电性连接的电源模块，所述待测区设置有待测DSP和与其连接的时钟发生模块、Boot FLASH和SDRAM控制器，所述主控DSP与待测DSP双向电性连接，所述电源模块连接待测DSP；本申请能够针对性的验证评价器件板级电装联性能和板级的功能、性能及器件在板级工作状态下的热学、力学环境适应性能，更接近于实际应用工况，能有效的提前暴露器件在板应用的薄弱环节和异常性能，能够充分评价器件设计和制造工艺的成熟度，有利于促进器件的推广和应用。广和应用。广和应用。

【技术实现步骤摘要】
一种数字信号处理器验证系统和验证方法


[0001]本专利技术属于电子元器件应用验证领域，具体涉及一种数字信号处理器验证系统和验证方法。

技术介绍

[0002]电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件，设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的，目前电子元器件研制完成后通过质量部门或第三方鉴定机构鉴定后即可提供单机方使用，鉴定试验基本按固定流程和项目进行试验，虽然器件通过了鉴定，但是使用过程中总会出现一些问题，如器件电性能比进口器件差、装联适应性差或环境适应性不理想等诸多问题，想要很好的解决此类问题，电子元器件上装前必须经过应用验证。
[0003]而目前没有对电子元器件上装前的应用验证方法和设备，无法直接获取对应电子元器件在实际应用过程中的质量。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种数字信号处理器验证系统和验证方法，能有效的提前暴露器件在板应用的薄弱环节和异常性能。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0006]一种数字信号处理器验证系统，包括上位机、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，包括上位机、主控区、待测区和外部仪表；所述上位机依次连接主控区和待测区，所述外部仪表分别连接主控区和待测区；所述主控区设置有主控DSP和与其双向电性连接的电源模块；所述待测区设置有待测DSP和与其连接的时钟发生模块、Boot FLASH和SDRAM控制器，所述主控DSP与待测DSP双向电性连接，所述电源模块连接待测DSP。2.根据权利要求1所述一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，所述上位机采用PC机，所述PC机用于流程控制和数据处理保存；所述PC机通过上位机通讯模块双向电性连接主控DSP。3.根据权利要求1所述一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，所述主控DSP还双向电性连接有显示和声光模块和辅助模块。4.根据权利要求1所述一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，所述主控DSP与待测DSP基于Boot FLASH引导启动，且主控DSP与待测DSP采用四通道link port进行双向实时通讯。5.根据权利要求1所述一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，所述主控区和待测区设置于同一通用板卡上，所述上位机外挂与通用板卡上。6.根据权利要求1所述一种数字信号处理器验证系统，其特征在于，所述时钟发生模块采用同一晶振作为时钟源，经倍频电路倍频至预设的工作频率。7.一种数字信号处理器验证方法，其特征在于，基于权利要求1
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6所述任意项一种数字信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，张大江，陈志培，邵勇，张兴，赵五喜，吕立峰，
申请(专利权)人：西安微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：