【技术实现步骤摘要】
检测组件、检测仪器和检测方法
[0001]本专利技术涉及测试工装
，具体涉及一种检测组件、检测仪器和检测方法。
技术介绍
[0002]目前，在相关技术中，功率半导体长期运行在严酷的条件下，不停的经受电
‑
热
‑
振动冲击作用，将会严重的老化及可靠性问题，因此需要对功率半导体分立器件的可靠性进行检测，相关技术中，信号探针和接地探针之间的距离是固定的，信号探针和接地探针之间的距离是不能调节的，不能满足半导体分立器件不同封装形式。
技术实现思路
[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术的第一方面提出一种检测组件。
[0005]本专利技术的第二方面提出一种检测仪器。
[0006]本专利技术的第三方面提出一种检测方法。
[0007]有鉴于此，本专利技术的第一方面提供了一种检测组件，检测组件与扫频组件相连接，用于检测功率器件在不同频率下的阻抗变化，检测组件包括夹持组件、接地探针和至少一个...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测组件，其特征在于，所述检测组件与扫频组件相连接，用于检测功率器件在不同频率下的阻抗变化，所述检测组件包括：夹持组件，所述夹持组件包括第一夹持部和第二夹持部，所述第一夹持部的一端与所述第二夹持部的一端相连接；接地探针，所述接地探针穿设于所述第一夹持部；至少一个检测探针，所述至少一个检测探针穿设于所述第二夹持部，与所述接地探针并列设置，能够和所述功率器件相连接；其中，所述第一夹持部和所述第二夹持部能够相对滑动，以使所述接地探针与所述至少一个检测探针相对远离或靠近。2.根据权利要求1所述的检测组件，其特征在于，所述第二夹持部包括：第一子夹持部，所述第一子夹持部的一端与所述第一夹持部的一端连接；第二子夹持部，所述第二子夹持部与所述第一夹持部的另一端或所述第一子夹持部的另一端相连接；所述至少一个检测探针包括第一检测探针和第二检测探针，所述第一检测探针穿设于所述第一子夹持部，所述第二检测探针穿设于所述第二子夹持部。3.根据权利要求2所述的检测组件，其特征在于，所述第一夹持部的一端设置有第一条形孔，另一端设置有第二条形孔；所述第一子夹持部的一端设置有第三条形孔，另一端设置有第四条形孔；所述第二子夹持部的一端设置有第五条形孔；所述检测组件还包括第一连接件和第二连接件，所述第一连接件穿设于所述第一条形孔和所述第三条形孔；在所述第二子夹持部与所述第一夹持部的另一端相连接的情况下，所述第二连接件穿设于所述第五条形孔和所述第二条形孔；在所述第二子夹持部与所述第一子夹持部的另一端相连接的情况下，所述第二连接件穿设于所述第五条形孔和所述第四条形孔。4.根据权利要求2所述的检测组件，其特征在于，所述至少一个检测探针包括：第一本体；第一套筒，所述第一套筒与所述第一本体的一端可拆卸连接，在所述第一套筒拆卸后，将所述第一本体的一端嵌入校准组件，以使频域测量的平面...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨道国，贠明辉，高永杰，肖经，位松，蔡苗，刘东静，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。