【技术实现步骤摘要】
一种接触传感器寿命测试装置及测试方法
[0001]本申请涉及传感器
，具体涉及一种接触传感器寿命测试装置。
技术介绍
[0002]接触传感器的参数测试是接触传感器成品筛选试验中的一个重要环节，目前产品测试过程为人工手动测试，接触传感器接线到测试仪，手持接触传感器做动作测试，并由综合测试仪记录数据用于后续生成报告。
[0003]随着年产值的不断提升，现有的试验操作人员和测试设备的工作效率利用率已经基本趋于饱和，在不增加操作人员和与之相应的综合测试仪的情况下，很难再进一步地提升工作效率，从而严重制约公司产能的进一步提高。
技术实现思路
[0004]鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，本申请旨在提供一种接触传感器寿命测试装置及测试方法。
[0005]第一方面，本申请提出一种接触传感器寿命测试装置，包括：
[0006]测试台；
[0007]多个寿命测试机构，多个所述寿命测试机构设于所述测试台上，所述寿命测试机构包括：
[0008]基座本体；
[0009]夹持组件，所述...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种接触传感器寿命测试装置，其特征在于，包括：测试台(800)；多个寿命测试机构(900)，多个所述寿命测试机构(900)设于所述测试台(800)上，所述寿命测试机构(900)包括：基座本体(100)；夹持组件(200)，所述夹持组件(200)设于所述基座本体(100)上，所述夹持组件(200)用于固定所述接触传感器(300)，所述接触传感器(300)具有断开状态和闭合状态；触发组件(400)，所述触发组件(400)设于所述基座本体(100)上，所述触发组件(400)可沿第一方向向靠近或远离所述接触传感器(300)的方向移动；当所述触发组件(400)碰触到所述接触传感器(300)时，所述接触传感器(300)处于所述闭合状态，当所述触发组件(400)脱离所述接触传感器(300)时，所述接触传感器(300)处于所述断开状态；驱动组件(500)，所述驱动组件(500)设于所述基座本体(100)的一侧，所述驱动组件(500)用于驱动所述触发组件(400)沿所述第一方向移动；控制组件(600)，所述控制组件(600)与各所述接触传感器(300)电连接，所述控制组件(600)用于监控各所述接触传感器(300)的状态并记录所述接触传感器(300)的动作次数。2.根据权利要求1所述的接触传感器寿命测试装置，其特征在于：所述触发组件(400)远离所述接触传感器(300)侧设有压力测试组件(410)，所述压力测试组件(410)用于测量所述触发组件(400)施加至所述接触传感器(300)上的作用力。3.根据权利要求1所述的接触传感器寿命测试装置，其特征在于：所述基座本体(100)上设有第一立柱(110)；所述夹持组件(200)包括：底板(210)，所述底板(210)设于所述第一立柱(110)的顶部；所述底板(210)沿第二方向的两侧设有第一立板(220)，所述第一立板(220)的延伸方向为第三方向，所述第三方向与所述第一方向和所述第二方向垂直；第一抵接板(230)，所述第一抵接板(230)设于所述第一立板(220)相互靠近侧，两个所述第一抵接板(230)之间形成第一空间，所述第一空间用于放置所述接触传感器(300)；夹紧组件(240)，所述夹紧组件(240)贯穿所述第一立板(220)与所述第一抵接板(230)抵接，转动所述夹紧组件(240)可驱动所述第一抵接板(230)沿所述第二方向移动。4.根据权利要求3所述的接触传感器寿命测试装置，其特征在于：所述第一立板(220)上设有第一通孔，所述第一通孔的轴线方向为所述第二方向，所述第一抵接板(230)上设有导向柱(231)，所述导向柱(231)可穿过所述第一通孔。5.根据权利要求4所述的接触传感器寿命测试装置，其特征在于：所述第一抵接板(230)为长方形板，所述第一抵接板(230)远离所述第一立板(220)侧与所述接触传感器(300)抵接。6.根据权利要求5所述的接触传感器寿命测试装置，其特征在于：所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李文华，张勇，张克远，高开明，李存慧，
申请(专利权)人：河北华尚文优电子科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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