一种高精度星载温控系统和方法技术方案

技术编号:36539007 阅读:31 留言:0更新日期:2023-02-01 16:32
本发明专利技术公开了一种高精度星载温控系统和方法,包括第一测温电路和第二测温电路;第一测温电路的输出端分别连接第一放大电路的输入端和采集模块的输入端,第一放大电路的输出端连接采集模块的输入端;第二测温电路的输出端分别连接第二放大电路的输入端和采集模块的输入端,第二放大电路的输出端连接采集模块的输入端;采集模块的输出端连接控制及处理模块的输入端,控制及处理模块的输出端分别连接第一温控模块的输入端和第二温控模块的输入端;第一温控模块的输出端连接第一加热丝模块的输入端;第二温控模块的输出端连接第一加热丝模块的输出端。有效提升星载温控系统的控温稳定度,使得高精度星载温控系统具有更广泛的适配性和实用性。适配性和实用性。适配性和实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度星载温控系统和方法


[0001]本专利技术属于探测
,具体属于一种高精度星载温控系统和方法。

技术介绍

[0002]随着我国在深空探测领域的不断发展和深入,对空间微观信息的捕获与处理需求越来越高,高性能和高精密元器件开始大量运用。由于空间环境的温度变化远比地表我温度变化复杂,且波动剧烈,精密器件所处环境温度的剧烈变化直接影响其内部元器件的工作性能和输出精度,例如星载光学载荷的偏振分析器,当环境温度波动超过0.1℃时,其内部液晶的排列分布将发生变化,从而影响光路偏振和调谐滤波效果,大大降低光学载荷的观测精度,严重时有可能导致载荷任务失败。
[0003]传统的星载温控设计方法主要是针对卫星平台舱内环境,系统的温控区域较大,测温分辨率低,控温稳定度差。而平台舱内电子系统的工作速率一般都不高,主要起到整星资源调度管理和数据存储等作用,对环境温度波动敏感性低,在较宽温度范围内工作性能不会发生明显变化。目前传统的星载温控设计方法实现的温度控制稳定度可达到0.5℃/30min,对于卫星平台舱的电子设备控温要求已经完全满足,但是对于温度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度星载温控系统,其特征在于,包括第一测温电路和第二测温电路;所述第一测温电路的输出端分别连接第一放大电路的输入端和采集模块的输入端,第一放大电路的输出端连接采集模块的输入端;所述第二测温电路的输出端分别连接第二放大电路的输入端和采集模块的输入端,第二放大电路的输出端连接采集模块的输入端;所述采集模块的输出端连接控制及处理模块的输入端,控制及处理模块的输出端分别连接第一温控模块的输入端和第二温控模块的输入端;第一温控模块的输出端连接第一加热丝模块的输入端;第二温控模块的输出端连接第一加热丝模块的输出端。2.根据权利要求1所述的一种高精度星载温控系统,其特征在于,所述第一测温电路和第二测温电路的接口采用惠斯通电桥。3.根据权利要求1所述的一种高精度星载温控系统,其特征在于,所述第一测温电路和第二测温电路结构相同。4.根据权利要求1所述的一种高精度星载温控系统,其特征在于,所述第一测温电路包括第一热敏电阻模块、电桥转换模块和信号调理模块;第一热敏电阻模块的输出端连接电桥转换模块的输入端,电桥转换模块的输出端连接信号调理模块的输入端,信号调理模块的输出端分别连接第一放大电路的输入端和采集模块的输入端。5.一种高精度星载温控方法,其特征在于,包括以下过程,第一测温电路进行第一级进行初步采集,在全温度范围内获取当前温度粗略值,启动第一级控温机制,使被测器件温度调节至目标温度区间;然后由第二级进行采集,通过第一放大电路,获取当前温度精准值,启动第二级控温机制,实时PID动态调节加热占空比,使被测器件的温度平滑微幅度振荡形式逼近目标温度值,达到动态平衡;当第一测温电路异常时,控制及处理模块启动第二测温电路进行控温。6.根据权利要求5所述的一种高精度星载温控方法,其特征在于,具体包括以下步骤,步骤1,第一测温电路进行温度粗采,并对温度采集值进行判断:是否大于控温区间下限值;若是大于控温区间下限值,则与控温区间上限值进行比较,执行步骤4;若小于控温区间下限值,则记录采集次数,执行步骤2;步骤2,对步骤1的采集次数进行判断:是否小于预设次数,若小于预设次数,则启动全功率加热并回到步骤1;若大于预设次数,则读取首次与末次采集值进行判断,执行步骤3;步骤3,判断首次与末次采集值之间是否在偏差范围,若是,则启动全功率加热并回到步骤1;若否,则标注第一测温电路异常,控制及处理模块启动第二测温电路,执行步骤9;步骤4,粗采温度值大于控温下限时,与控温区间上限值进行比较:是否小于控温区间上限值,若是,则进入细采流程,执行步骤7;若否,则记录采集次数,执行步骤5;步骤5,对采...

【专利技术属性】
技术研发人员:向全威李广平吴生龙阮现中余国强曲翕
申请(专利权)人:西安微电子技术研究所
类型:发明
国别省市:

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