一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法技术

技术编号:36537682 阅读:30 留言:0更新日期:2023-02-01 16:26
本发明专利技术公开了一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法,先统计被测电路板中的网络数量并计算计算任意两网络间的归一化距离,然后通过任意两网络间的归一化距离计算网络间发生短路的概率,从而构造网络之间的短路概率矩阵;接着设置测试矩阵,并根据测试矩阵生成多个行测试矩阵,最后基于测试代价和启发函数值,通过建立搜索树的方式,搜索具有最小代价的测试矩阵。代价的测试矩阵。代价的测试矩阵。

【技术实现步骤摘要】
一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法


[0001]本专利技术属于电路故障诊断与测试
,更为具体地讲,涉及一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法。

技术介绍

[0002]随着大规模集成电路的应用和发展,电路的结构变得越来越复杂,单片集成电路的管脚数目变得越来越庞大,尺寸变得越来越小,管脚之间的物理距离变得越来越接近;这样的情况导致一些传统的故障检测手段,诸如飞针、设置物理探针等方法变得几乎无法使用;对于大规模集成电路测试性、保障性和维修代价的要求使得集成电路的生产者和研究人员开始谋求新的故障诊断方法;在集成电路的制造阶段就预先搭建好边界扫描链路结构,从而快速定位集成电路各管脚及管脚之间互联网络故障的边界扫描技术,为解决大规模集成电路故障诊断问题提供了强有力的保证;而用于边界扫描测试的测试矢量的生成,是这一技术研究的一个热点和难点。
[0003]边界扫描测试主要用于检测集成电路管脚本身的呆滞故障、管脚之间互联网络的断路故障以及管脚之间互联网络的短路故障;每次边界扫描测试所加载到整个测试链路的01矢量称为并行测试矢量量(P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于启发式搜索的边界扫描测试矩阵生成方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)、统计被测电路板中的网络数量;通过被测电路板的网表文件建立其拓扑模型,再将拓扑模型中每两两相连的芯片引脚作为一组网络,然后统计网络数量,并记第i组两两相连的芯片引脚构成的网络为N
i
;(2)、计算任意两网络间的归一化距离L
ij
;利用印制电路板绘制软件导出被测电路板中各个器件的中心位置在电路板上的坐标,再结合芯片手册上给出的引脚间距离,然后确定每两组网络N
i
与N
j
间的物理距离Lc
ij
;在所有网络间的物理距离中,找物理距离最大值,记为Lc
max
,然后利用如下公式将任意两网络间的物理距离Lc
ij
转换为归一化距离L
ij
;(3)、构造网络之间的短路概率矩阵P;设步骤(1)中统计的网络数量为m,则短路概率矩阵P是一个m
×
m的对称矩阵,矩阵P中的元素p
ij
表示网络N
i
与N
j
之间发生短路的概率;(4)、构造测试矩阵M;其中,a
ij
的取值为0或1,但必须满足每一行中的元素不能全为0或1,且行与行之间的元素不能完全相同;i=1,2,

,m;j=1,2,

,n,n表示整个边界扫描测试过程中向网络注入向量的次数;(5)、根据测试矩阵M生成多个行测试矩阵M
i
;将测试矩阵M的第一行作为第一个行测试矩阵M1,将测试矩阵M的第一行和第二行作为第二个行测试矩阵M2,然后以此类推,将测试矩阵M的第一行至第i行生成第i个行测试矩阵M
i
,最终共计生成m个行测试矩阵;(6)、确定测试矩阵M并计算测试代价;(6.1)、设置行测试代价函数f(M
i
);f(M
i
)=1

F1·
F2·
F
33
其中,F1表示行测试矩阵M
i
不发生一阶误判的概率,F2表示行测试矩阵M
i
不发生二阶误
判的概率,F3表示行测试矩阵M
i
不发生混淆的概率;k
ij
表示网络N
i
和网络N
j
发生短路故障是否会造成误判的取值,如果会造成误判,则k
ij
为1,否则为0;k
ijt
表示网络N
i
、N
j
、N
t
发生短路是否会造成二阶误判的取值,如果会造成误判,则k
ijt
为1,否则为0;表示网络与N
j1
之间短路且网络与之间短路时是否会造成混淆的取值,如果会,则为1,否则为0;(6.2)、对测试矩阵M中各元素取值;以min[f(M1)]为目标,对第一个行测试矩阵M1中元素随机取值,从而确定出测试矩阵M中第一行各元素;以min[f(M2)]为目标,保持第二个行测试矩阵M2中第一行元素不变,对第二行元素随机取值,从而确定出测试矩阵M中第二行各元素;然后以此类推,以min[f(M
i
)]为目标,保持第i个行测试矩阵M
i
中前i

1行元素不变,对第i行元素随机取值,从而确定出测试矩阵M中第i行各元素;最终完成测试矩阵M中第m行元素取值;(6.3)、计算测试矩阵M的测试代价;将步骤(6.2)获取的测试矩阵M代入至步骤(6.1)中测试代价函数,得到测试矩阵M的测试代价,记为D;(7)、对每一个行测试矩阵构造启发函数;其中,η表示故障种类,C
j
表示M
i
中第j行元素中1的个数与0的个数的比值,R
τ
表示第τ种故障发生时影响度,N
j
表示M
i
中第j行元素中1的个数;(8)、建立搜索树,搜索具有最小代价的测试矩阵;(8.1)、...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘震郭欣峰汪静元龙兵周秀云
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:发明
国别省市:

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