一种物体尺寸测量方法、装置、系统及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种物体尺寸测量的方法、装置、系统及可读存储介质，控制所述测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制所述图像采集装置采集所述目标待测物的物体图像；根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数；结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。通过距离检测和图像处理，计算物体的尺寸参数，在测量装置与目标待测物相距较远的情况下也可以获取目标待测物的实际尺寸参数，并且通过校准测量算法，进一步减小了远距离测量物体尺寸参数的误差，提高的远距离测量物体尺寸的效率。提高的远距离测量物体尺寸的效率。提高的远距离测量物体尺寸的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种物体尺寸测量方法、装置、系统及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及一种测量计算领域，尤其涉及一种物体尺寸测量的方法、装置、系统及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着测量技术的发展，对物体尺寸测量装置的要求不断提高。为测量物体的边长或直径等基本尺寸信息，技术人员通常所采用的方法是采用不同精度的测量装置近距离进行测量，然而对于如线缆等不方便近距离测量的物体，采用常规方法则需要通过很繁琐的步骤才能测量出其长度或直径等尺寸参数，导致物体维修或是器件安装等工作的难度增加。对于远距离测量物体尺寸的方法，虽然现有技术已经有通过图像处理获取物体尺寸的技术手段，但现有技术中只能通过将测量设备至于与待测物体处于固定的一个相对距离进行测量，且存在较大的误差。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例的主要目的在于提供一种物体尺寸测量的方法、装置、系统及可读存储介质，至少能够解决相关技术中远距离测量物体尺寸时操作繁琐、效率低的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术实施例第一方面提供了一种物体尺寸测量的方法，应用于设置有测距装置以及图像采集装置的物体尺寸测量系统，该方法包括：
[0005]控制所述测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制所述图像采集装置采集所述目标待测物的物体图像；
[0006]根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数；
[0007]结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。/>[0008]为实现上述目的，本专利技术实施例第二方面提供了一种物体尺寸测量装置，应用于设置有测距装置以及图像采集装置的物体尺寸测量系统，包括：
[0009]采集模块，用于控制所述测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制所述图像采集装置采集所述目标待测物的物体图像；
[0010]识别模块，用于根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数；
[0011]确定模块，用于结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。
[0012]为实现上述目的，本专利技术实施例第三方面提供了一种物体尺寸测量系统，包括：测距装置、图像采集装置、处理器及存储器。
[0013]所述测距装置用于采集与目标待测物之间的相对距离参数；
[0014]所述图像采集装置用于采集所述目标待测物的物体图像；
[0015]所述处理器用于执行存储在所述存储器上的计算机程序；
[0016]所述处理器执行所述计算机程序时，以实现上述任意一种物体尺寸测量方法的步骤。
[0017]为实现上述目的，本专利技术实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现上述任意一种物体尺寸测量方法的步骤。
[0018]根据本专利技术实施例所提供的一种物体尺寸测量的方法、装置、系统及可读存储介质，控制所述测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制所述图像采集装置采集所述目标待测物的物体图像；根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数；结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。通过本申请上述方案的实施，通过测量目标待测物与测量设备之间的相对距离参数以及所述目标待测物的物体图像的尺寸特征参数，计算出所述目标待测物的实际尺寸参数，即使测量设备与目标待测物相距较远也可以获取到所述目标待测物的精确尺寸信息，提高了测量方法的测量效率以及测量精确度。
附图说明
[0019]图1为本专利技术第一实施例提供的物体尺寸测量方法的基本流程示意图；
[0020]图2为本专利技术第一实施例提供的所述物体尺寸测量装置的简易原理图；
[0021]图3为本专利技术第一实施提供的图像采集装置的成像原理图；
[0022]图4为本专利技术第一实施例提供的校准检测流程示意图；
[0023]图5为本专利技术第二实施例提供的物体尺寸测量装置的程序模块示意图；
[0024]图6为本专利技术第三实施例提供的物体尺寸测量系统的结构示意图；
具体实施方式
[0025]为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]第一实施例：
[0027]为了解决相关技术中远距离测量物体尺寸时操作繁琐、效率低的问题，本实施例提出了一种物体尺寸测量方法，应用于设置有测距装置以及图像采集装置的物体尺寸测量系统，如图1所示为本实施例提供的物体尺寸测量方法的流程示意图，本实施例所提供的物体尺寸测量方法包括以下步骤：
[0028]步骤101、控制测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制图像采集装置采集目标待测物的物体图像。
[0029]具体的，测距装置可以是激光雷达、红外TOF传感器等原理的测距实现装置，也可以是带红外线瞄准的深度相机或双目摄像机。优选的，采用激光测距仪作为本实施例的测距装置。
[0030]图2为本专利技术第一实施例提供的物体尺寸测量装置的简易原理图。在本实施例的
一些实施方式中，控制测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制图像采集装置采集目标待测物的物体图像的步骤，包括：使测距装置位于能够检测到目标待测物的区域内，由测距装置的激光发生器201向目标待测物发射激光，激光接收器202接收从目标待测物反射回的激光并计算激光发出和反射的时间差，进而换算出相对距离参数。在图像采集装置中，通过高倍镜头203对目标待测物进行拍摄，进而生成目标待测物的物体图像，也即目标待测物的深度图。
[0031]在本实施例的一些实施方式中，控制图像采集装置采集目标待测物的物体图像的步骤，包括：通过预设算法程序将在图像采集装置的成像平面上生成的图像转换成目标待测物的物体图像。
[0032]具体的，如图3本实施例的图像采集装置在物理成像面的成像原理图。以图像采集装置的物理成像面上的O点为原点建立的三维坐标系，设目标待测物上任意一点为G(X,Y,d),由小孔成像原理可知，目标待测物的待测尺寸类型和在物理成像面生成的图像中对应的线性区域之间、d和图像采集装置的焦距f之间，对应成比例关系。
[0033]设在物理成像面上的O点为原点建立的二维坐标系中，物理成像面上任意一点的坐标参数为P
′
(X
′
,Y
′
),目标待测物的物体图像上的任意一个像素点的坐标参数为P(u,v)，则目标待测物的物体图像上的任意一点与物理成像面的上的点存在以下对应关系式：
[0034][本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于,应用于设置有测距装置以及图像采集装置的物体尺寸测量系统，所述物体尺寸测量方法包括：控制所述测距装置采集与目标待测物之间的相对距离参数，以及控制所述图像采集装置采集所述目标待测物的物体图像；根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数；结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。2.根据权利要求1所述的物体尺寸测量方法，其特征在于，所述根据待测尺寸类型，识别所述物体图像中对应于所述目标待测物的尺寸特征参数的步骤，包括：根据待测尺寸类型，在所述物体图像中识别所述目标待测物相应几何特征区域的所有目标像素点；根据所述目标像素点中特征像素点的像素坐标确定所述目标待测物的尺寸特征参数。3.根据权利要求2所述的物体尺寸测量方法，其特征在于，所述待测尺寸类型包括轴向长度和/或径向宽度，所述几何特征区域包括所述物体图像中经过轴向直线的像素区域和/或经过径向直线的像素区域；所述根据所述目标像素点中特征像素点的像素坐标确定所述目标待测物的尺寸特征参数的步骤，包括：将所述经过轴向直线的单行像素区域和/或经过径向直线的单列像素区域中，处于所述单行像素区域和/或单列像素区域两端的两个所述目标像素点确定为特征像素点；将所述单行像素区域的两个所述特征像素点的x坐标进行作差，得到所述目标待测物的第一尺寸特征参数，和/或将所述单列像素区域的两个所述特征像素点的y坐标进行作差，得到所述目标待测物的第二尺寸特征参数。4.根据权利要求3所述的物体尺寸测量方法，其特征在于，在所述结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数的步骤之前,还包括：通过控制所述物体尺寸测量系统对校准样板进行校准测量，确定所述图像采集装置的镜头误差参数和机身误差参数；所述结合所述相对距离参数以及所述尺寸特征参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数的步骤，包括：结合所述相对距离参数、所述第一尺寸特征参数、所述第二尺寸特征参数、所述镜头误差参数和所述机身误差参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数。5.根据权利要求4所述的物体尺寸测量方法，其特征在于，在所述结合所述相对距离参数、所述第一尺寸特征参数、所述第二尺寸特征参数、所述镜头误差参数和所述机身误差参数，确定所述目标待测物的实际尺寸参数的步骤，包括：结合所述相对距离参数、所述第一尺寸特征参数、所述第二尺寸特征参数、以及所述镜头误差参数和机身误差参数，通过预设尺寸计算公式计算所述目标待测物的实际尺寸参数；所述尺寸计算公式表示为：
其中，L
x
表示轴向长度，L
y
表示径向宽度，x表示第一尺寸特征参数，y表示第二尺寸特征参数，d表示测距装置与目标待测物之间的相对距离参数，α和β分别表示所述物体图像x坐标轴向上和y坐标轴向上的相机内参，f表示所述图像采集装置的焦距。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹明江，邹尚儒，黄志鹏，
申请(专利权)人：深圳壹智云科技有限公司，
类型：发明
国别省市：