本申请涉及一种光功率计校正工装、校正方法及装置。一个实施例中，通过在校正工装的机架上设置带有定位孔的定位板以及与定位板相连的锁紧机构，可以使定位板根据光源投射光线的落点进行移动，然后将锁紧机构锁紧。这样，定位板无法移动，光源投射光线总落在定位孔中的指定位置，只需将不同的光功率计探头放入定位孔中，就可以使不同光功率计在进行出光功率测量时能采集到相同的光斑，确保用于测量的标准光功率计和待校正光功率计在工作环境上完全相同，减少了校正过程中其他因素造成的误差，提高了校正的精准度。提高了校正的精准度。提高了校正的精准度。
【技术实现步骤摘要】
光功率计校正工装、校正方法及装置
[0001]本公开涉及光功率测量领域，尤其涉及一种光功率计校正工装、校正方法及装置。
技术介绍
[0002]随着激光技术的飞速发展，越来越多的领域开始结合激光形成技术的迭代，尤其是在最近兴起的3D打印领域，使用面曝光成型的3D打印机以更高的精度和更成熟的技术迅速打开了市场。
[0003]目前，对于面曝光式3D打印机进行出光功率检测是非常重要的一环，由于光机的出光功率是否符合标准将会直接影响到3D打印的精度，甚至导致打印成品出现严重误差和损毁，现有方式往往需要通过购买昂贵、专业的标准光功率计来进行出光功率检测，这种方式成本高昂且很难及时买到符合要求的光功率计。为了降低整体成本，也可以使用成本较低的普通功率计或自制功率计进行检测，但这种功率计一般通过批量生产，质量把控不严，且这种功率计的核心部件选材比较低端，品质往往不达标，导致检测值通常会与标准光功率计有较大差异，容易造成不良隐患，适用范围有限。
[0004]因此，亟需一种能解决光功率计检测精度不达标的方法。
技术实现思路
[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种光功率计校正工装、校正方法及装置。本公开的技术方案如下：
[0006]根据本公开实施例的第一方面，提供一种光功率计校正工装，包括：
[0007]机架，所述机架上设有锁紧机构，所述锁紧机构用于控制与所述锁紧机构相连的定位板移动，直至光源投射的光线落入定位板上的定位孔中；
[0008]光源，设置于所述机架上，用于在不同的工作电流驱动下投射光线；
[0009]定位板，设置于所述机架上，所述定位板与所述锁紧机构相连，且所述定位板位于所述光源投射的光线的方向；所述定位板上还设有定位孔，所述定位孔用于放置光功率计的探头。
[0010]在其中一个实施例中，所述定位板还设有辅助孔。
[0011]在其中一个实施例中，所述定位孔具有多个直径不同的同心圆台阶。
[0012]根据本公开实施例的第二方面，提供一种光功率计校正方法，应用于上述校正工装，所述方法包括以下步骤：
[0013]将标准光功率计的探头放入所述定位孔；
[0014]根据预设的工作电流列表驱动所述光源，通过所述标准光功率计对所述光源在不同工作电流驱动下投射的光线依次进行出光功率测量，得到对应的标准光功率值；
[0015]在得到所述对应的标准光功率值之后，移除所述标准光功率计的探头，将待校正光功率计的探头放入所述定位孔；
[0016]根据所述工作电流列表驱动所述光源，通过所述待校正光功率计对所述光源在不
同工作电流驱动下投射的光线依次进行出光功率测量，得到对应的测量光功率值；
[0017]对所述标准光功率值与所述测量光功率值进行拟合运算，得到拟合系数；
[0018]将所述拟合系数记录入所述待校正光功率计，所述拟合系数用于所述待校正光功率计每次测量后根据所述拟合系数对测量值进行校正。
[0019]在其中一个实施例中，在将标准光功率计放入所述定位孔之前，还包括：
[0020]在所述定位孔中放入半透光薄片；
[0021]启动光源将光线投射至所述半透光薄片，在所述半透光薄片上形成光斑；
[0022]移动所述定位板直至所述光斑位于所述定位孔的指定位置之后，锁紧所述锁紧机构；
[0023]移除所述半透光薄片。
[0024]在其中一个实施例中，在将所述拟合系数记录入所述待校正光功率计之后，还包括：
[0025]再次根据所述工作电流列表驱动所述光源，通过所述待校正光功率计进行功率测量，得到所述待校正光功率计根据所述拟合系数对测量值校正后的校正光功率值；
[0026]计算所述校正光功率值与所述标准光功率值的误差；
[0027]将所述误差与预设标准进行比较，判定所述待校正光功率计是否合格。
[0028]在其中一个实施例中，所述拟合运算是多项式拟合、贝塞尔拟合中的一种。
[0029]根据本公开实施例的第三方面，还提供一种光功率计校正装置，包括：
[0030]第一探头对准模块，用于将标准光功率计的探头放入定位孔；
[0031]电流获取模块，用于获取预设的工作电流列表；
[0032]第一功率采集模块，用于根据所述工作电流列表中不同工作电流驱动光源，获取标准光功率计进行出光功率测量得到的标准光功率值；
[0033]第二探头对准模块，用于移除标准光功率计的探头，并将待校正光功率计的探头放入所述定位孔；
[0034]第二功率采集模块，用于根据所述工作电流列表中不同工作电流驱动光源，获取待校正光功率计进行出光功率测量得到的测量光功率值；
[0035]拟合模块，用于对所述标准光功率值与测量光功率值进行拟合运算，得到拟合系数；
[0036]测量校正模块，用于根据所述拟合系数对待校正光功率计的测量值进行校正。
[0037]根据本公开实施例的第四方面，还提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
[0038]根据本公开实施例的第五方面，还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
[0039]本公开实施例提供的技术方案中，通过在校正工装的机架上设置带有定位孔的定位板以及与定位板相连的锁紧机构，可以使定位板根据光源投射光线的落点进行移动，然后将锁紧机构锁紧。这样，定位板无法移动，光源投射光线总落在定位孔中的指定位置，只需将不同的光功率计探头放入定位孔中，就可以使不同光功率计在进行出光功率测量时能采集到相同的光斑，确保用于测量的标准光功率计和待校正光功率计在工作环境上完全相
同，减少了校正过程中其他因素造成的误差，提高了校正的精准度。
[0040]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本说明书实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0042]图1是一个实施例中一种光功率计校正工装的结构示意图；
[0043]图2是一个实施例中一个定位板的结构示意图；
[0044]图3是另一个实施例中一个定位板的结构示意图；
[0045]图4是一个实施例中一种光功率校正方法的流程示意图；
[0046]图5是一个实施例中校准定位孔位置的流程示意图；
[0047]图6是一个实施例中对校正后的光功率计进行检验的流程示意图；
[0048]图7是一个实施例中一种光功率计校正装置的示意图；...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种对光功率计进行校正的校正工装，其特征在于，包括：机架，所述机架上设有锁紧机构，所述锁紧机构用于控制与所述锁紧机构相连的定位板移动，直至光源投射的光线落入定位板上的定位孔中；光源，设置于所述机架上，用于在不同的工作电流驱动下投射光线；定位板，设置于所述机架上，所述定位板与所述锁紧机构相连，且所述定位板位于所述光源投射的光线的方向；所述定位板上还设有定位孔，所述定位孔用于放置光功率计的探头。2.根据权利要求1所述的校正工装，其特征在于，所述定位板还设有辅助孔。3.根据权利要求1所述的校正工装，其特征在于，所述定位孔具有多个直径不同的同心圆台阶。4.一种对光功率计进行校正的校正方法，其特征在于，应用于如权利要求1
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3任一项所述的校正工装，所述方法包括以下步骤：将标准光功率计的探头放入所述定位孔；根据预设的工作电流列表驱动所述光源，通过所述标准光功率计对所述光源在不同工作电流驱动下投射的光线依次进行出光功率测量，得到对应的标准光功率值；在得到所述对应的标准光功率值之后，移除所述标准光功率计的探头，将待校正光功率计的探头放入所述定位孔；根据所述工作电流列表驱动所述光源，通过所述待校正光功率计对所述光源在不同工作电流驱动下投射的光线依次进行出光功率测量，得到对应的测量光功率值；对所述标准光功率值与所述测量光功率值进行拟合运算，得到拟合系数；将所述拟合系数记录入所述待校正光功率计，所述拟合系数用于所述待校正光功率计每次测量后根据所述拟合系数对测量值进行校正。5.根据权利要求4所述的校正方法，其特征在于，在将标准光功率计放入所述定位孔之前，还包括：在所述定位孔中放入半透光薄片；启动光源将光线投射至所述半透光薄片，在所述半透光薄片上形成...
【专利技术属性】
技术研发人员：荣左超，
申请(专利权)人：上海联泰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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