用于测量断路器回路电阻的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于测量断路器回路电阻的装置及方法，涉及电力设备测量技术领域；装置包括回路电阻测试仪，其第一对测量线连接至待测断路器侧地刀的测量点，其第二对测量线外扩连接至待测断路器相邻隔离开关侧地刀的测量点；方法包括将待测断路器侧地刀、待测断路器相邻隔离开关侧地刀均断开接地，将待测断路器侧地刀、待测断路器相邻隔离开关侧地刀、待测断路器、待测断路器相邻的隔离开关均合闸，将待测断路器相邻隔离开关与母线之间的隔离开关均分闸，测量获得断路器回路电阻的数据；其通过回路电阻测试仪的第二对测量线外扩连接至待测断路器相邻隔离开关侧地刀的测量点等，实现测量断路器回路电阻更准确。实现测量断路器回路电阻更准确。实现测量断路器回路电阻更准确。

【技术实现步骤摘要】
用于测量断路器回路电阻的装置及方法


[0001]本专利技术涉及电力设备测量
，尤其涉及一种用于测量断路器回路电阻的装置及方法。

技术介绍

[0002]检索式为TACD_ALL:(断路器AND回路电阻测试仪)，获得较为接近的现有技术方案如下。
[0003]授权公告号为CN 101685114 B，名称为GIS全封闭126kV组合断路器接触电阻的测量方法。即在断路器一次出线电路中，分别断开第一隔离开关、第二隔离开关和第二接地开关，合闸第一接地开关、第三隔离开关和线路侧接地开关，同时拆除接地开关与隔离开关之间的逻辑闭锁装置和线路侧接地开关的R、S、T的接地连接排，在此电路基础上在线路侧接地开关的R、S、T的连接端连接回路电阻测试仪测量断路器各相的接触电阻值；利用本方法可有效、快捷、准确的测量断路器接触电阻，且无需结构解体断路器，本测量方法是将断路器各相动、静触点构成在测量回路中测量各触点的接触电阻，避免了原断路器各相动、静触点单独测量的缺陷。
[0004]授权公告号为CN 105866667 B，名称为一种双端接地断路器的回路电阻测试方法。在主回路电阻与地线及外壳电阻之间设置接入点；在接入点内侧设置附加电阻模块，且在所述附加电阻模块上设置电流表；在所述主回路电阻、地线及外壳电阻和附加电阻模块外部加设电流表，所述接入点两侧设置总电流表；采用的附加电阻模块为调节电阻单元，且所述接入点之间设置300A回路电阻测试仪；本方案针对回路电阻小于等于100μΩ，地线及外壳电阻为10
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12mΩ的断路器进行检测，且采用本方案的电阻调节构件，能够轻松实现对电阻值的任意控制，从而能够准确的获得主回路电阻的阻值；结构简单且操作简便，值得推广与应用。
[0005]申请公布号为CN 114720774 A，名称为一种出线断路器的回路电阻测试电路。包括：断路器待测线路和回路电阻测试仪；断路器待测线路包括分支出线和母线，回路电阻测试仪包括电压表、电流表和测试电源；若断路器待测线路为任意一条分支出线，则回路电阻测试仪与任一待测相两端的接地刀闸和测点刀闸的第一测试点串连，形成第一测试回路；若断路器待测线路为母线，则回路电阻测试仪与任意两个待测相的测点刀闸对应的两个第二测试点串联，形成第二测试回路。本方案能够解决现有技术中测试线路长度与测试电流大小之间互相制约，且长线路的电阻测试难度较大，导致实际回路电阻测试效率较低的技术问题。
[0006]结合上述三篇专利文献和现有的技术方案，专利技术人分析发现在现有技术方案中存在如下技术问题。
[0007]如图3所示，为典型的3/2接线图，G
××
为隔离开关、K
××
为断路器、D
××
为地刀。GIS断路器回路电阻测试需要连通两侧的地刀一起测试，测试结果为两侧地刀和断路器本体串联的电阻，测试值为三者之和，严重影响测试准确性，当测试值超标时无法判断是地
刀回路电阻超标还是断路器回路电阻超标。
[0008]如图4所示，为常规测试断路器K2回路电阻接线图，拆除地刀D5和D6的接地点测点5和测点6的接地连片，I1、U1接测点5，I2、U2接测点6，将D5、D6和K2合闸；G21和G22分闸，操作回路电阻测试仪，测试K2的回路电阻，测试结果为地刀D5、地刀D6和断路器K2回路电阻的和。地刀D5、地刀D6和断路器K2中任何一个或几个设备回路电阻超标都会造成测试结果异常。无法准确判断K2的回路电阻是否合格，K2是否存在异常。
[0009]现有技术问题及思考：
[0010]如何解决测量断路器回路电阻不准确的技术问题。

技术实现思路

[0011]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种用于测量断路器回路电阻的装置及方法，解决测量断路器回路电阻不准确的技术问题。
[0012]为解决上述技术问题，本专利技术所采取的技术方案是：一种用于测量断路器回路电阻的装置包括回路电阻测试仪，回路电阻测试仪的第一对测量线连接至待测断路器侧地刀的测量点，回路电阻测试仪的第二对测量线外扩连接至待测断路器相邻隔离开关侧地刀的测量点，所述待测断路器相邻隔离开关侧地刀为远离待测断路器的隔离开关侧的地刀。
[0013]进一步的技术方案在于：回路电阻测试仪的第一电流输出端I+与待测断路器第一母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第一测量输入端V+与待测断路器第一母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二测量输入端V
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与待测断路器第二母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二电流输出端I
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与待测断路器第二母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接。
[0014]进一步的技术方案在于：回路电阻测试仪的第一测量输入端V+与待测断路器第一母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第一电流输出端I+与待测断路器第一母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二电流输出端I
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与待测断路器第二母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二测量输入端V
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与待测断路器第二母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接。
[0015]进一步的技术方案在于：所述回路电阻测试仪包括第一电流输出端I+、第二电流输出端I
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、第一测量输入端V+和第二测量输入端V
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，第一电流输出端I+和第二电流输出端I
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为一对，第一测量输入端V+和第二测量输入端V
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为一对。
[0016]进一步的技术方案在于：第一测量输入端V+和第二测量输入端V
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与第一对测量线连接，第一电流输出端I+和第二电流输出端I
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与第二对测量线连接。
[0017]进一步的技术方案在于：第一电流输出端I+和第二电流输出端I
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与第一对测量线连接，第一测量输入端V+和第二测量输入端V
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与第二对测量线连接。
[0018]进一步的技术方案在于：待测断路器侧地刀断开接地，待测断路器相邻隔离开关侧地刀断开接地，待测断路器侧地刀均合闸，待测断路器相邻隔离开关侧地刀均合闸，待测断路器合闸，待测断路器相邻的隔离开关均合闸，待测断路器相邻隔离开关与母线之间的隔离开关均分闸。
[0019]一种用于测量断路器回路电阻的方法，基于上述用于测量断路器回路电阻的装置，包括如下步骤，将待测断路器侧地刀断开接地，将待测断路器相邻隔离开关侧地刀断开
接地，将待测断路器侧地刀均合闸，将待测断路器相邻隔离开关侧地刀均合闸，将待测断路器合闸，将待测断路器相邻的隔离开关均合闸，将待测断路器相邻隔离开关与母线之间的隔离开关均分闸，测量获得断路器回路电阻的数据。
[0020]进一步的技术方案在于：所述将待测断路器侧地刀断开接地为拆除待测断路器侧地刀的接地连片。
[0021]进一步的技术方案在于：所述将待测断路器相邻隔离开关侧地刀断开接地为拆除待测断路器相邻隔离开关侧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量断路器回路电阻的装置，包括回路电阻测试仪，回路电阻测试仪的第一对测量线连接至待测断路器侧地刀的测量点，其特征在于：回路电阻测试仪的第二对测量线外扩连接至待测断路器相邻隔离开关侧地刀的测量点，所述待测断路器相邻隔离开关侧地刀为远离待测断路器的隔离开关侧的地刀。2.根据权利要求1所述的用于测量断路器回路电阻的装置，其特征在于：回路电阻测试仪的第一电流输出端I+与待测断路器第一母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第一测量输入端V+与待测断路器第一母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二测量输入端V
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与待测断路器第二母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二电流输出端I
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与待测断路器第二母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接。3.根据权利要求1所述的用于测量断路器回路电阻的装置，其特征在于：回路电阻测试仪的第一测量输入端V+与待测断路器第一母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第一电流输出端I+与待测断路器第一母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二电流输出端I
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与待测断路器第二母线侧地刀的测量点连接，回路电阻测试仪的第二测量输入端V
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与待测断路器第二母线侧隔离开关侧地刀的测量点连接。4.根据权利要求1所述的用于测量断路器回路电阻的装置，其特征在于：所述回路电阻测试仪包括第一电流输出端I+、第二电流输出端I
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、第一测量输入端V+和第二测量输入端V
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，第一电流输出端I+和第二电流输出端I
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为一对，第一测量输入端V+和第二测量输入端V

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓飞，付炜平，李强，李建鹏，张宝全，赵冀宁，王绪，
申请(专利权)人：国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：