NVMESSD控制器复位能力的测试方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及NVME SSD控制器复位能力的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：判断SSD是否处于基本场景测试；若处于，测试机发送复位命令；SSD根据复位命令执行复位操作；控制机解析复位命令及SSD复位操作过程，以得到基本场景测试结果；若未处于，则SSD处于写数据场景测试，测试机发送写命令；SSD根据写命令执行写操作至设定时间，然后测试机发送复位命令；SSD根据复位命令执行复位操作，并继续执行写操作至写数据结束；控制机解析复位命令及SSD复位操作过程、测试机整理写数据日志，以得到写数据场景测试结果。本发明专利技术实现了对NVME SSD控制器复位能力简单有效的测试及结果评定。结果评定。结果评定。

【技术实现步骤摘要】
NVME SSD控制器复位能力的测试方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及SSD控制器复位能力
，尤其是指NVME SSD控制器复位能力的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]NVME SSD在消费级和企业级的应用越来越广泛，在SSD测试领域，控制器复位是一项基础功能，但是对于该功能缺乏简单有效的测试方法及评判优劣的标准。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供NVME SSD控制器复位能力的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]第一方面，本实施例提供了一种NVME SSD控制器复位能力的测试方法，包括以下步骤：
[0006]判断SSD是否处于基本场景测试；
[0007]若SSD处于基本场景测试，则测试机发送复位命令；
[0008]SSD根据复位命令执行复位操作；
[0009]控制机解析复位命令及SSD复位操作过程，以得到基本场景测试结果；
[0010]若SSD未处于基本场景测试，则SSD处于写数据场景测试，测试机发送写命令；
[0011]SSD根据写命令执行写操作至设定时间，然后测试机发送复位命令；
[0012]SSD根据复位命令执行复位操作，并继续执行写操作至写数据结束；
[0013]控制机解析复位命令及SSD复位操作过程、测试机整理写数据日志，以得到写数据场景测试结果。
[0014]其进一步技术方案为：所述基本场景测试结果指的是记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间。
[0015]其进一步技术方案为：所述设定时间为5
‑
7分钟。
[0016]其进一步技术方案为：所述写数据场景测试结果包括记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间，及记录SSD写入速度，找出控制器复位期间的最低写速度，计算出控制器复位期间的平均写速度、控制器复位前5分钟的平均写速度、控制器复位后5分钟的平均写速度。
[0017]第二方面，本实施例提供了一种NVME SSD控制器复位能力的测试装置，包括：判断单元，第一发送单元，执行单元，解析单元，第二发送单元，执行发送单元，第二执行单元及解析整理单元；
[0018]所述判断单元，用于判断SSD是否处于基本场景测试；
[0019]所述第一发送单元，用于若SSD处于基本场景测试，则测试机发送复位命令；
[0020]所述执行单元，用于SSD根据复位命令执行复位操作；
[0021]所述解析单元，用于控制机解析复位命令及SSD复位操作过程，以得到基本场景测试结果；
[0022]所述第二发送单元，用于若SSD未处于基本场景测试，则SSD处于写数据场景测试，测试机发送写命令；
[0023]所述执行发送单元，用于SSD根据写命令执行写操作至设定时间，然后测试机发送复位命令；
[0024]所述第二执行单元，用于SSD根据复位命令执行复位操作，并继续执行写操作至写数据结束；
[0025]所述解析整理单元，用于控制机解析复位命令及SSD复位操作过程、测试机整理写数据日志，以得到写数据场景测试结果。
[0026]其进一步技术方案为：所述基本场景测试结果指的是记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间。
[0027]其进一步技术方案为：所述设定时间为5
‑
7分钟。
[0028]其进一步技术方案为：所述写数据场景测试结果包括记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间，及记录SSD写入速度，找出控制器复位期间的最低写速度，计算出控制器复位期间的平均写速度、控制器复位前5分钟的平均写速度、控制器复位后5分钟的平均写速度。
[0029]第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的NVME SSD控制器复位能力的测试方法。
[0030]第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的NVME SSD控制器复位能力的测试方法。
[0031]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：实现了对NVME SSD控制器复位能力简单有效的测试及结果评定。
[0032]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1为本专利技术实施例提供的NVME SSD控制器复位能力的测试方法的流程示意图；
[0035]图2为本专利技术实施例提供的NVME SSD控制器复位能力的测试装置的示意性框图；
[0036]图3为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0037]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0038]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0039]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0040]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0041]请参阅图1所示的具体实施例，本专利技术公开了一种NVME SSD控制器复位能力的测试方法，包括以下步骤：
[0042]其中，该测试方法的测试环境如下：SSD：待测NVME SSD；控制机：台式电脑或者笔记本电脑，windows系统，安装协议分析仪所需要的控制软件；测试机：台式电脑，linux系统，安装开源软件fio(SSD读写工具)和nvme
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.NVME SSD控制器复位能力的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：判断SSD是否处于基本场景测试；若SSD处于基本场景测试，则测试机发送复位命令；SSD根据复位命令执行复位操作；控制机解析复位命令及SSD复位操作过程，以得到基本场景测试结果；若SSD未处于基本场景测试，则SSD处于写数据场景测试，测试机发送写命令；SSD根据写命令执行写操作至设定时间，然后测试机发送复位命令；SSD根据复位命令执行复位操作，并继续执行写操作至写数据结束；控制机解析复位命令及SSD复位操作过程、测试机整理写数据日志，以得到写数据场景测试结果。2.根据权利要求1所述的NVME SSD控制器复位能力的测试方法，其特征在于，所述基本场景测试结果指的是记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间。3.根据权利要求1所述的NVME SSD控制器复位能力的测试方法，其特征在于，所述设定时间为5
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7分钟。4.根据权利要求1所述的NVME SSD控制器复位能力的测试方法，其特征在于，所述写数据场景测试结果包括记录SSD从接收到复位命令到复位结束所需要的时间，作为SSD基础场景的控制器复位时间，及记录SSD写入速度，找出控制器复位期间的最低写速度，计算出控制器复位期间的平均写速度、控制器复位前5分钟的平均写速度、控制器复位后5分钟的平均写速度。5.NVME SSD控制器复位能力的测试装置，其特征在于，包括：判断单元，第一发送单元，执行单元，解析单元，第二发送单元，执行发送单元，第二执行单元及解析整理单元；所述判断单元，用于判断SSD是否处于基本场景测试；所述第一发送单元，用于若SSD处于基本场景测试，则测试机发送复位命令；所述执行单元，用于SSD根据复位命令执行复位操作；所述解析单元，用于控制机解析复位命...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴斌，石骁，孙克庆，
申请(专利权)人：苏州忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：