晶振调节方法及装置、可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:36503012 阅读:29 留言:0更新日期:2023-02-01 15:26
本申请提出了一种晶振调节方法及装置、可读存储介质。该晶振调节方法包括:S1、测量得到晶振的当前频率;S2、判断当前频率与晶振的目标频率的差值是否位于预设阈值内;若是,则将当前对应的寄存器值作为目标寄存器值;若否,则通过调整寄存器值来改变晶振的当前频率,并重复执行S1和S2,直至当前频率与目标频率的差值位于预设阈值内。本申请可以使得调整效果准确适应实际场景所需,并有利于减少晶振调整时长。长。长。

【技术实现步骤摘要】
晶振调节方法及装置、可读存储介质


[0001]本申请涉及晶振领域,具体涉及一种晶振调节方法及装置、可读存储介质。

技术介绍

[0002]晶振是在电子技术应用领域广泛使用的一种基础器件,可提供各种各样频率的标准方波,此种方波主要用于数字系统时钟,次方波主要由输出电平值、高低电平占空比、上升/下降时间、驱动能力及频率等重要指标要求。目前,在芯片中内置晶振已经广泛应用,但是由于工艺偏移等因素导致芯片中晶振的频率在较大的误差范围内,不能满足芯片的需求,降低了芯片的良品率和性能,因此需要对调整晶振以使其输出的频率满足要求。
[0003]目前的晶振调节方法主要有两种:一、基于微调表进行调整,微调表中存储有各个晶振频率与对应的寄存器值的对应关系,通过查表即可得到当前晶振频率对应的寄存器值,但是由于工艺偏移等因素导致芯片中晶振的频率是有误差的,导致调整效果难以准确适应实际场景所需;二、基于寄存器步长进行调整,但寄存器步长是固定的,导致调整效果难以准确适应实际场景所需。

技术实现思路

[0004]鉴于此,本申请提供一种晶振调节方法及装置、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶振调节方法,其特征在于,包括:S1、测量得到晶振的当前频率;S2、判断所述当前频率与晶振的目标频率的差值是否位于预设阈值内;若是,则将当前对应的寄存器值作为目标寄存器值;若否,则通过调整寄存器值来改变所述晶振的当前频率,并重复执行所述S1和S2,直至所述当前频率与所述目标频率的差值位于预设阈值内。2.根据权利要求1所述的晶振调节方法,其特征在于,所述预设阈值包括所述差值与所述目标频率之比小于1%。3.根据权利要求1所述的晶振调节方法,其特征在于,若所述S2确定所述差值超出所述预设阈值、且所述当前频率大于所述目标频率,则所述通过调整寄存器值来改变所述晶振的当前频率,包括:按照补偿电容的修正值控制位减小所述晶振的微调使能位;若所述S2确定所述差值超出所述预设阈值、且所述当前频率小于所述目标频率,则所述通过调整寄存器值来改变所述晶振的当前频率,包括:按照补偿电容的修正值控制位增大所述晶振的微调使能位。4.根据权利要求1至3中任一项所述的晶振调节方法,其特征在于,所述通过调整寄存器值来改变所述晶振的当前频率,包括:寄存器采用8bit设置所述晶振的微调使能位,1bit设置为补偿电容的修正值控制位,所述补偿电容的修正值控制位的默认位设置为1000_0000。5.根据权利要求1所述的晶振调节方法,其特征在于,所述晶振调节方法执行于晶振芯片的测试线...

【专利技术属性】
技术研发人员:李厚振郑丞弼
申请(专利权)人:晟合微电子肇庆有限公司
类型:发明
国别省市:

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