一种测试打标机测试不良品分料机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试打标机测试不良品分料机构，包括测试机构和与测试机构连接的分料机构；测试机构包括压料气缸和两组探针组件；探针组件包括探针安装板、安装在探针安装板上的探针和推动探针安装板移动的推动装置；压料气缸连接有压料板，压料板下部设置有滑动轨道；两组探针组件分别设置在压料板两侧；探针安装板下部设置有第一滑动组件；分料机构包括若干个分料气缸、与分料气缸连接的分料装置和设置在分料装置下的第二滑动组件；分料装置具有至少两个过料槽；分料装置上设置有挡板；分料装置上设置有限位块。通过将测试机构和分料机构结合，使芯片在经过性能测试后通过分料机构自动将未通过性能测试的芯片筛分出来，提高了生产效率。提高了生产效率。提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试打标机测试不良品分料机构


[0001]本技术涉及高压测试设备领域和装置移动领域，具体涉及到一种测试打标机测试不良品分料机构。

技术介绍

[0002]双列直插式封装芯片在出厂前必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等。人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来，并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类。
[0003]现有的直插式封装芯片的测试机构大多是通过人工进行单个芯片的测试，然后人工将不良品从芯片中筛选出来，这样的测试和筛分方式效率较低，且人工进行也会有出现差错的概率。

技术实现思路

[0004]本技术提出了一种测试打标机测试不良品分料机构，用以解决
技术介绍
中描述的技术问题。
[0005]一种测试打标机测试不良品分料机构，包括测试机构和与测试机构连接的分料机构；
[0006]测试机构包括压料气缸和两组探针组件；探针组件包括探针安装板、安装在探针安装板上的探针和推动探针安装板移动的推动装置；压料气缸连接有压料板，压料板下部设置有滑动轨道；两组探针组件分别设置在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试打标机测试不良品分料机构，其特征在于，包括测试机构和与测试机构连接的分料机构；所述测试机构包括压料气缸和两组探针组件；所述探针组件包括探针安装板、安装在探针安装板上的探针和推动探针安装板移动的推动装置；所述压料气缸连接有压料板，压料板下部设置有滑动轨道；两组探针组件分别设置在压料板两侧；所述探针安装板下部设置有第一滑动组件；所述分料机构包括若干个分料气缸、与分料气缸连接的分料装置和设置在分料装置下的第二滑动组件；所述分料装置具有至少两个过料槽；所述分料装置上设置有挡板；所述分料装置上设置有限位块。2.根据权利要求1所述的一种测试打标机测试不良品分料机构，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓惠文，豆宏春，汪洪伟，王强，
申请(专利权)人：绵阳经纬达精密电子有限公司，
类型：新型
国别省市：