一种检测设备制造技术

一种检测设备，包括转盘机构、用于承载待检工件的承载机构和用于检测待检工件的至少两个检测机构；其中，承载机构设置于转盘机构，并可控地相对转盘机构绕第一轴线转动；转盘机构可控地带动承载机构绕第二轴线转动；至少两个检测机构沿转盘机构的周向间隔排布。一方面，将多个检测机构以转盘机构为中心进行间隔排布设置，既可以增强设备整体的结构紧凑性，减小设备整体的体积，也可以实现待检工件在多个检测机构之间的快速转移，以便对工件进行不同的检测作业，提高检测效率；另一方面，利用承载机构可相对转盘机构转动的特点，可实现对工件的四周侧面的检测作业，为减少检测机构的配置数量、降低设备的配置成本创造有利条件。降低设备的配置成本创造有利条件。降低设备的配置成本创造有利条件。

【技术实现步骤摘要】
一种检测设备


[0001]本技术涉及光学检测
，具体涉及一种检测设备。

技术介绍

[0002]自动光学检测（Automated Optical Inspection，简称AOI检测）是一种基于光学原理对产品工件的常见缺陷进行检测的技术，例如通过对工件的完整性进行光学检测，可以检查工件轮廓外观的好坏、有无瑕疵以及是否符合标准等。
[0003]目前，为提高工件完整性检测的效率，现有的检测设备通常会配置多个检测工位，且每个检测工位均对应地配置多个检测机构，在多个检测工位同时运作时，实现多个工件的批量化同步检测作业。然而，这种方式无疑会增加检测设备的结构复杂性、提高设备的配置成本，并且导致检测设备的体积较大。

技术实现思路

[0004]本技术主要解决的技术问题是提供一种检测设备，以达到简化设备结构、减小设备体积的目的。
[0005]一种实施例中提供一种检测设备，包括转盘机构、用于承载待检工件的承载机构和用于检测待检工件的至少两个检测机构；其中，所述承载机构设置于转盘机构，并可控地相对所述转盘机构绕第一轴线转动；所述转盘机构可控地带动承载机构绕第二轴线转动，所述第一轴线与第二轴线平行；所述至少两个检测机构沿转盘机构的周向间隔排布。
[0006]一个实施例中，沿所述转盘机构的转动轨迹定义有多个功能位，所述多个功能位中包括第一工位和第二工位，所述至少两个所述检测机构中包括第一检测机构和第二检测机构，其中：
[0007]在所述转盘机构将承载机构转动至第一工位时，所述第一检测机构与待检工件沿转盘机构的轴向彼此面对，以能够从待检工件的正面检测待检工件；
[0008]在所述转盘机构将承载机构转动至第二工位时，所述第二检测机构与待检工件沿转盘机构的径向彼此面对，以能够从待检工件的侧面检测待检工件。
[0009]一个实施例中，所述第一检测机构包括用于从待检工件的正面检测待检工件的第一检测件，所述第二检测机构包括用于从待检工件的侧面检测待检工件的第二检测件，所述第一检测件和/或第二检测件包括:
[0010]成像模块，面对所述承载机构承载的待检工件设置，所述成像模块用于获取待检工件的检测图像；以及
[0011]探测探头，与所述成像模块并行排布，所述探测探头用于探测待检工件的三维信息。
[0012]一个实施例中，所述第一检测机构还包括三维运动模组；所述三维运动模组的动力端耦合至第一检测件，用于驱使所述第一检测件沿转盘机构的轴向、第一径向和第二径向中的至少一者运动；所述第一径向与第二径向垂直；和/或
[0013]所述第二检测机构还包括二维运动模组；所述二维运动模组的动力端耦合至第二检测件，用于驱使所述第二检测件沿转盘机构的第三径向和第四径向中的至少一者运动，所述第三径向与第四径向垂直。
[0014]一个实施例中，所述探测探头为点探头和线探头中的一者。
[0015]一个实施例中，所述承载机构的数量设置为多个，多个所述承载机构绕第二轴线间隔排布于转盘机构，所述转盘机构在将多个承载机构中的一者转动至第一工位时，能够使多个所述承载机构中的另一者转动至第二工位。
[0016]一个实施例中，还包括扫码机构，所述第一检测机构、第二检测机构和扫码机构沿转盘机构的周向间隔布置，所述多个功能位中还包括第三工位；所述扫码机构用于在转盘机构将承载机构转动至第三工位时，扫描并获取待检工件的标识信息。
[0017]一个实施例中，所述扫码机构包括：
[0018]扫码器，用于扫描并获取待检工件的标识信息；以及
[0019]支撑件，所述扫码器设置于支撑件，所述支撑件用于定位支撑扫码器，以使得所述扫码器能够与待检工件沿转盘机构的轴向彼此面对，或使得所述扫码器能够与待检工件沿转盘机构的径向彼此面对。
[0020]一个实施例中，所述多个功能位中还包括第四工位，所述第四工位、第三工位、第二工位和第一工位沿转盘机构的转动轨迹依次分布；当所述转盘机构将承载机构转动至第四工位时，能够使得所述承载机构接收待检工件和自所述承载机构移除待检工件。
[0021]一个实施例中，所述承载机构包括：
[0022]承载件，具有固定结构，所述固定结构用于将待检工件定位固定于承载件，所述固定结构包括设置于承载件用以面对待检工件一面的吸附结构；以及
[0023]承载驱动件，用于驱使所述承载件带动待检工件绕第一轴线转动，所述承载驱动件的本体与转盘机构固定，所述承载驱动件的动力端耦合至承载件。
[0024]依据上述实施例的检测设备，包括转盘机构、用于承载待检工件的承载机构和用于检测待检工件的至少两个检测机构；其中，承载机构设置于转盘机构，并可控地相对转盘机构绕第一轴线转动；转盘机构可控地带动承载机构绕第二轴线转动；至少两个检测机构沿转盘机构的周向间隔排布。一方面，将多个检测机构以转盘机构为中心进行间隔排布设置，既可以增强设备整体的结构紧凑性，减小设备整体的体积，也可以实现工件在多个检测机构之间的快速转移，以便进行不同的检测作业，提高检测效率；另一方面，利用承载机构可相对转盘机构转动的特点，则可实现对工件的四周侧面的检测作业，为减少检测机构的配置数量、降低设备的配置成本创造有利条件。
附图说明
[0025]图1为一种实施例的检测设备的结构装配示意图。
[0026]图2为一种实施例的检测设备运动原理示意图。
[0027]图3为一种实施例的检测设备中转盘机构与承载机构的结构关系示意图。
[0028]图4为一种实施例的检测设备中第一检测机构的结构装配示意图。
[0029]图5为一种实施例的检测设备中第二检测机构的结构装配示意图。
[0030]图中：
[0031]10、转盘机构；11、转盘件；11a、减重结构；12、转盘驱动件；20、承载机构；21、承载件；21a、固定结构；22、承载驱动件；30、检测机构；30a、成像模块；30b、探测探头；31、第一检测机构；31a、第一检测件；31b、三维运动模组；32、第二检测机构；32a、第二检测件；32b、二维运动模组；40、扫码机构；41、扫码器；42、支撑件；50、工作台；
[0032]L1、第一轴线；L2、第二轴线；P1、第一工位；P2、第二工位；P3、第三工位；P4、第四工位；A、待检工件。
具体实施方式
[0033]下面通过具体实施方式结合附图对本技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测设备，其特征在于，包括转盘机构、用于承载待检工件的承载机构和用于检测待检工件的至少两个检测机构；其中，所述承载机构设置于转盘机构，并可控地相对所述转盘机构绕第一轴线转动；所述转盘机构可控地带动承载机构绕第二轴线转动，所述第一轴线与第二轴线平行；所述至少两个检测机构沿转盘机构的周向间隔排布。2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于，沿所述转盘机构的转动轨迹定义有多个功能位，所述多个功能位中包括第一工位和第二工位，所述至少两个所述检测机构中包括第一检测机构和第二检测机构，其中：在所述转盘机构将承载机构转动至第一工位时，所述第一检测机构与待检工件沿转盘机构的轴向彼此面对，以能够从待检工件的正面检测待检工件；在所述转盘机构将承载机构转动至第二工位时，所述第二检测机构与待检工件沿转盘机构的径向彼此面对，以能够从待检工件的侧面检测待检工件。3.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于，所述第一检测机构包括用于从待检工件的正面检测待检工件的第一检测件，所述第二检测机构包括用于从待检工件的侧面检测待检工件的第二检测件，所述第一检测件和/或第二检测件包括:成像模块，面对所述承载机构承载的待检工件设置，所述成像模块用于获取待检工件的检测图像；以及探测探头，与所述成像模块并行排布，所述探测探头用于探测待检工件的三维信息。4.如权利要求3所述的检测设备，其特征在于，所述第一检测机构还包括三维运动模组；所述三维运动模组的动力端耦合至第一检测件，用于驱使所述第一检测件沿转盘机构的轴向、第一径向和第二径向中的至少一者运动；所述第一径向与第二径向垂直；和/或所述第二检测机构还包括二维运动模组；所述二维运动模组的动力端耦合至第二检测件，用于驱使所述第二检测件沿转盘机构的第三径向和第四径向中的至少一者运...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶华平，贺金龙，陈鲁，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：