一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，包括承载机构，承载机构包括承载部，承载部正面设置有若干个图案部，每个图案部的两端均设置有测试部；承载部正面设置有覆盖若干个图案部的连接部，连接部远离承载部的一面设置有触摸部。本实用新型专利技术通过设置的测试部能够为图案部阻值的测试提供测试的点，该测试板结构简单，模拟了实际的结构堆叠，裸露出的测试部，使得测试人员能够测试到图案部阻值的变化，利于使用。利于使用。利于使用。

【技术实现步骤摘要】
一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板


[0001]本技术涉及ITO图案阻值测试
，具体而言，涉及一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板。

技术介绍

[0002]光学胶广泛应用于手机类显示模组，光学胶包含液态OCR和固态OCA两种，在外挂式OGS项目，OGS通过OCR与显示主屏贴合，外挂式菲林触摸屏，双层菲林之间通过OCA粘接，菲林与盖板之间通过OCA粘接，无论是OCR或OCA，都是直接与ITO图案接触，有些配方的OCR或OCA具有酸性，会腐蚀ITO图案，造成ITO图案阻值变化，影响触控性能；
[0003]为此，模组厂家在选择光学胶时，需先考察光学胶对ITO图案的腐蚀情况，需要测定光学胶导致ITO图案阻值的变化率，但目前的OGS或GFF结构，并没有很好的测试点可以直接测量ITO图案阻值变化。
[0004]例如：中国技术专利：CN201710536847.5，所公开的“一种电容触摸屏制作方法”，其说明书公开：
……
，通过放大器后，确定触摸点的位置。然而基于这类处理方式的触摸屏存在的一个弊端，触摸产品的ITO膜的阻值是不能忽略的，而触控产品的感应灵敏度会受到电阻限制而有所降低；再结合其图3以及图4，可以看出并没有很好的测试点可以直接测量阻值；上述专利可以佐证现有技术存在的缺陷。
[0005]因此我们对此做出改进，提出一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于：针对目前存在的OGS或GFF结构，并没有很好的测试点可以直接测量ITO图案阻值变化的问题。
[0007]为了实现上述技术目的，本技术提供了以下技术方案：
[0008]测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，以改善上述问题。
[0009]本技术具体是这样的：
[0010]包括承载机构，所述承载机构包括承载部，所述承载部正面设置有若干个图案部，每个图案部的两端均设置有测试部；
[0011]所述承载部正面设置有覆盖若干个图案部的连接部，所述连接部远离承载部的一面设置有触摸部。
[0012]作为本技术优选的技术方案，所述承载部为叠层一，所述图案部为ITO图案层，所述ITO图案层印制在叠层一正面上。
[0013]作为本技术优选的技术方案，所述测试部为测试点，所述测试点印制在叠层一的正面上且与ITO图案层的端部连接。
[0014]作为本技术优选的技术方案，所述连接部为光学胶，所述光学胶粘接在叠层一正面与ITO图案层的正面之间；
[0015]所述触摸部为叠层二，所述叠层二粘接在光学胶远离叠层一的一面上。
[0016]作为本技术优选的技术方案，每个测试点远离ITO图案层的一侧均设置有位于叠层一上的测试标号。
[0017]作为本技术优选的技术方案，还包括两个设置在叠层一正面的定位机构，两个所述定位机构分别位于叠层二的两侧，所述定位机构包括设置在叠层一正面的支撑部，所述支撑部上设置有能够沿支撑部移动的定位部。
[0018]作为本技术优选的技术方案，所述支撑部为支撑架，所述支撑架固定安装在叠层一的正面，所述定位部包括定位座，所述定位座滑动连接在支撑架的外表面，所述定位座上贯穿开设有定位孔。
[0019]作为本技术优选的技术方案，所述叠层一为玻璃材料，所述叠层二为玻璃材料，所述测试点采用钼铝钼材质。
[0020]作为本技术优选的技术方案，所述叠层一为菲林材料，所述叠层二为菲林材料，所述测试点采用银浆材质。
[0021]作为本技术优选的技术方案，所述叠层一为菲林材料，所述叠层二为玻璃材料，所述测试点采用银浆材质。
[0022]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0023]在本技术的方案中：
[0024]1.通过设置的测试部，测试部能够为图案部阻值的测试提供测试的点，该测试板结构简单，模拟了实际的结构堆叠，裸露出的测试部，使得测试人员能够测试到图案部阻值的变化，利于使用；
[0025]2.通过设置的定位机构，定位机构中的支撑部能够对定位部进行支撑，定位部可以沿着支撑部移动，通过定位部能够对测试用的表笔进行定位，使得观察阻值变化的过程中无需持续手扶表笔，方便使用。
附图说明
[0026]图1为本技术提供的测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板的结构示意图；
[0027]图2为本技术提供的ITO图案层的结构示意图；
[0028]图3为本技术提供的测试点的结构示意图；
[0029]图4为本技术提供的图1的侧视结构示意图；
[0030]图5为本技术提供的图4中A处放大结构示意图；
[0031]图6为本技术提供的定位机构的结构示意图；
[0032]图7为本技术提供的支撑架的结构示意图；
[0033]图8为本技术提供的定位座的剖视结构示意图。
[0034]图中标示：
[0035]100、承载机构；1001、叠层一；1002、ITO图案层；1003、测试点；
[0036]200、光学胶；
[0037]300、叠层二；
[0038]400、定位机构；4001、支撑架；4002、定位座；4003、定位孔。
具体实施方式
[0039]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0040]因此，以下对本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的部分实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0041]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。
[0042]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0043]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0044]实施例1：
[0045]如图1、图2、图3、图4和图5所示，本实施方式提出一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，包括承载机本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，其特征在于，包括承载机构(100)，所述承载机构(100)包括承载部，所述承载部正面设置有若干个图案部，每个图案部的两端均设置有测试部；所述承载部正面设置有覆盖若干个图案部的连接部，所述连接部远离承载部的一面设置有触摸部。2.根据权利要求1所述的一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，其特征在于，所述承载部为叠层一(1001)，所述图案部为ITO图案层(1002)，所述ITO图案层(1002)印制在叠层一(1001)正面上。3.根据权利要求2所述的一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，其特征在于，所述测试部为测试点(1003)，所述测试点(1003)印制在叠层一(1001)的正面上且与ITO图案层(1002)的端部连接。4.根据权利要求3所述的一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，其特征在于，所述连接部为光学胶(200)，所述光学胶(200)粘接在叠层一(1001)正面与ITO图案层(1002)的正面之间；所述触摸部为叠层二(300)，所述叠层二(300)粘接在光学胶(200)远离叠层一(1001)的一面上。5.根据权利要求4所述的一种测量光学胶对ITO图案阻值影响的测试板，其特征在于，每个测试点(1003)远离ITO图案层(1002)的一侧均设置有位于叠层一(1001)上的测试标号。6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：林荣利，张树航，阳耀启，张浩，
申请(专利权)人：信利光电仁寿有限公司，
类型：新型
国别省市：