用于测试固态电解质离子电导率的制样方法和测试固态电解质离子电导率的方法与应用技术

本发明专利技术涉及固态电解质技术领域，公开了一种用于测试固态电解质离子电导率的制样方法和测试固态电解质离子电导率的方法与应用。包括：S1

【技术实现步骤摘要】
用于测试固态电解质离子电导率的制样方法和测试固态电解质离子电导率的方法与应用


[0001]本专利技术涉及固态电解质
，具体涉及一种用于测试固态电解质离子电导率的制样方法和测试固态电解质离子电导率的方法与应用。

技术介绍

[0002]固态电解质的离子电导率是与固态电池的能量密度、快充能力、寿命密切相关的性能指标，因此，快速、准确地检测固态电解质的离子电导率可为固态电解质的研究和产业化提供必要的技术支持。现有固态电解质离子电导率测试方法通常是先将电解质粉体压片、烧结、抛光、喷金处理后再组装成阻塞电极体系进行测试，此时得到的离子电导率反映的是固体电解质陶瓷片的性能。该方法下测得的离子电导率不仅受到电解质粉体本体阻抗、电解质陶瓷片晶界阻抗的影响，而且还很大程度上取决于电解质陶瓷片的致密度，并非固态电解质本征离子电导率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是为了克服现有固态电解质测试技术无法准确直接表征固态电解质本征离子电导率的问题，提供一种用于测试固态电解质离子电导率的制样方法和测试固态电解质离子电导率的方法与应用，该制样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试固态电解质离子电导率的制样方法，其特征在于，包括以下步骤：S1
‑
1、将固态电解质粉体、聚合物和锂盐进行混炼，得到混合物I，或者，S1
‑
2、将固态电解质粉体、聚合物、锂盐和溶剂进行混合、成型、第一干燥得到混合物II；S2、将所述混合物I或所述混合物II进行热压得到固态电解质膜；S3、将上述固态电解质膜组装成测试组件并活化，得到离子电导率测试用样品。2.根据权利要求1所述的制样方法，其中，所述固态电解质粉体粒度D
50
不大于10μm，优选为0.02
‑
5μm；优选地，以混合物I或混合物II的用量为基准，其中所述固态电解质粉体的含量为5
‑
30wt％，所述聚合物的含量为50
‑
75wt％，所述锂盐的含量为15
‑
30wt％。3.根据权利要求1或2所述的制样方法，其中，5μm≤D
50
≤10μm时，以混合物I或混合物II的用量为基准，20wt％≤固态电解质粉体的含量≤30wt％，所述聚合物的含量为50
‑
70wt％，所述锂盐含量为15
‑
30wt％；优选地，1μm≤D
50
＜5μm时，以混合物I或混合物II的用量为基准，10wt％≤固态电解质粉体的含量＜20wt％，所述聚合物的含量为60
‑
70wt％，所述锂盐含量为20
‑
30wt％；优选地，D
50
＜1μm时，以混合物I或混合物II的用量为基准，5wt％≤固态电解质粉体的含量＜10wt％，所述聚合物的含量为60
‑
75wt％，所述锂盐含量为20
‑
25wt％。4.根据权利要求1
‑
3中任意一项所述的制样方法，其中，步骤S1
‑
1中，所述混炼的条件包括：混炼温度为0.5
‑
1.5T
m
；其中，T
m
为聚合物的熔点或软化温度；或者，步骤S1
‑
2中，所述聚合物与所述溶剂质量之比为1:(10
‑
50)；优选地，所述溶剂选自离子水、乙腈、丙酮、N
‑
吡咯烷酮和N,N
‑
二甲基甲酰胺中的至少一种；优选地，所述第一干燥条件包括：干燥温度为60
‑
120℃，干燥时间为4
‑
24h。5.根据权利要求1
‑
4中任意一项所述的制样方法，其中，所述固态电解质粉体具有式I所示的组成：Li7‑
3α
‑
β
M
α
La3Zr2‑
β
N
β
O
12
式I其中，0≤α≤3，0≤β≤2，M选自Ge和/或Al，N选自Co、Ti、Nb、Ta、Te和W中的至少一种；或者，所述固态电解质粉体具有式II、式III和式IV中至少一种的组成：Li
1+γ
Al
γ
Ti2‑
γ
(PO4)3式II；Li
1+δ
Al
δ
Ge2‑
δ

【专利技术属性】
技术研发人员：贺子建，刘亚飞，陈彦彬，
申请(专利权)人：北京当升材料科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：