一种用于高低温箱的测试装置制造方法及图纸

技术编号:36452841 阅读:14 留言:0更新日期:2023-01-25 22:49
本申请实施例公开一种用于高低温箱的测试装置,所述测试装置包括:基座;通过转动机构配置于所述基座上的架体,在转动机构的驱动下,所述架体可以第一方向为轴相对于基座转动,通过升降机构配置于所述架体上的检测件,所述检测件可沿第一方向运动,该检测件被配置为用以测试产品,承载架,所述承载架用以固定若干沿第一方向排列的产品;所述检测件被配置为在升降机构和转动机构的驱动下,按照运动指令运动,可对产品的性能进行测试。本发明专利技术通过增加测试装置的自由度使得测试装置单次可测试多个被测产品,进而提高测试装置的测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于高低温箱的测试装置


[0001]本申请涉及测试装置
,更具体地,本申请涉及一种用于高低温箱的测试装置。

技术介绍

[0002]目前,现有的应用于高低温箱的测试转台只有一个自由度,具体的结构设计为:用于测试产品的检测件安装在以转轴为中心的回转臂上做圆周往复运动,被测试的产品水平固定在转台承载产品的固定结构上。
[0003]这种检测转台的缺点是:每次高低温箱从高温到低温到常温一个测试周期只能测试一件被测件,由于一个测试周期长达数个小时,所以测试效率低下。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种用于高低温箱的测试装置通过增加测试装置的自由度使得测试装置单次可测试多个被测产品,进而提高测试装置的测试效率。
[0005]为了达到上述目的中至少一个,本申请采用下述技术方案:
[0006]本申请提供一种用于高低温箱的测试装置,所述测试装置包括:
[0007]基座;
[0008]通过转动机构配置于所述基座上的架体,在转动机构的驱动下,所述架体可以第一方向为轴相对于基座转动;
[0009]通过升降机构配置于所述架体上的检测件,所述检测件可沿第一方向运动,该检测件被配置为用以测试产品;
[0010]承载架,所述承载架用以固定若干沿第一方向排列的产品;
[0011]所述检测件被配置为在升降机构和转动机构的驱动下,可对产品进行测试。
[0012]可选地,所述转动机构包括有用以驱动所述架体转动的转动电机,所述转动电机的输出轴连接固定于所述架体。
[0013]可选地,所述架体包括:
[0014]底板;以及
[0015]连接于底板上的侧板,所述升降机构安装于所述侧板上;
[0016]所述底板上形成有凸起结构,所述底板通过凸起结构和所述转动电机的输出轴结合固定;
[0017]所述侧板上的靠近承载架一侧形成有限位孔;
[0018]所述侧板和底板之间包括有用以增强架体的结构强度的结构板。
[0019]可选地,所述测试装置还包括第一锁紧机构,所述第一锁紧机构被配置为可限定所述架体的位置;
[0020]所述第一锁紧机构包括:
[0021]形成于所述基座侧壁面上的固定部;
[0022]安装于所述固定部上的用以与所述架体抵接固定的定位螺栓。
[0023]可选地,所述升降机构包括:
[0024]位于所述架体上的沿第一方向设置的导轨部以及位于所述导轨部上的升降基座,所述检测件固定于所述升降基座的靠近所述承载架的一侧。
[0025]可选地,所述升降机构还包括用以对所述升降基座在第一方向上进行定位的第二锁紧机构;
[0026]所述第二锁紧机构包括:
[0027]结合固定于所述升降基座上的驱动机构;
[0028]用以定位所述驱动机构的限位杆,所述限位杆被配置为在所述驱动机构的驱动下,部分结构可移动至所述架体的所述限位孔内。
[0029]可选地,所述测试装置还包括用以对所述架体转动角度进行限定的缓冲器,所述缓冲器结合固定于所述基座的两相对侧壁面上。
[0030]可选地,所述承载架包括:
[0031]结合固定于所述基座上的承载架本体;
[0032]结合固定于所述承载架本体上的用以使产品呈水平布置的夹持件;
[0033]所述夹持件包括:
[0034]与所述承载架本体结合固定的至少两对夹持臂。
[0035]可选地,所述承载架还包括用以限定产品沿轴向移动的限位组件,所述限位组件结合固定在所述承载架本体上。
[0036]可选地,所述限位组件包括由所述承载架本体延伸出的支架,以及位于所述支架端部上的旋紧螺栓,所述旋紧螺栓的轴向方向为与所述第一方向相交叉的方向。
[0037]本申请的有益效果如下:
[0038]与现有技术相比,本专利技术通过的承载架可沿竖直方向水平布置若干个待测产品,且通过基座驱动架体及安装在架体上的升降机构转动结合升降机构的上升和下降运动实现了带动检测件两自由度运动,从而可使检测件的检测结构对齐布置在承载架上若干产品的轴线,并对多个产品进行测试,增加了测试装置单次的测试产品的数量,进而提高了测试装置的测试效率。
附图说明
[0039]下面结合附图对本专利技术作进一步详细的说明。
[0040]图1示出本申请的一个实施例中的整体结构示意图。
[0041]图2示出本申请的一个实施例中的基座的剖视图。
[0042]图3示出本申请的一个实施例中的架体、升降机构及检测件的剖视图。
具体实施方式
[0043]在下述的描述中,出于说明的目的,为了提供对一个或者多个实施方式的全面理解,阐述了许多具体细节。然而,很明显,也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施方式。
[0044]为解决现有技术中存在的问题,本申请的一个实施例提供一种用于高低温箱的提
高测试效率的测试装置,如图1

3所示,该测试装置包括:固定于高低温箱底部的基座1,在基座1上结合固定有用以固定若干沿第一方向排列的待测产品6的承载架5,在基座1上且与承载架5的相对的位置处通过转动机构配置有架体2,该架体2在转动机构的驱动下可以第一方向(第一方向为竖直方向,即图1中的X方向)为轴相对于基座1转动。转动机构包括有用以驱动架体2转动的转动电机12,在基座1的侧壁面上设置有插座板11,具体的,转动电机12的输出轴连接固定于架体2上且转动电机12和插座板11电性连接,该转动电机12为伺服电机,且转动电机12上安装有保证转动电机12转动角度的测角元件,进而实现转动电机12转轴的精准定位。
[0045]进一步的,架体2包括:矩形板形状的底板21,在底板21上远离转动电机12输出轴的一端固定连接有侧板22,侧板22上安装有升降机构3,为了增强架体2的结构强度在侧板22和底板21之间包括有和侧板22与底板21边部连接结构板23,结构板23具体的结构形状为直角三角形,结构板23靠近升降机构3位置处设置有用于限定升降机构3升降的行程开关231,行程开关231为两个,且沿升降机构3的升价方向排布,当升降机构3运动到行程开关231位置处时,升降机构3停止运动,此时判定目标源中心与待测产品6中心轴对齐。
[0046]进一步的,在底板21的底面还形成有圆形的凸起结构24,底板21通过凸起结构24和转动电机12的输出轴结合固定;通过设置凸起结构24,使底板21和转动电机12的输出轴的结构连接强度更高,从而保证转动电机12传动的稳定性,在侧板22上靠近承载架5一侧的形成有限位孔25,具体的,限位孔25为盲孔,且限位孔25有两个,两个限位孔25分别对应待测产品6的位置设置,进一步的,在限位孔25内安装有弹簧和滑块,滑块位于限位孔25的开口端,且外端面与侧板22的侧壁面平齐,弹簧位于滑块和限位孔25形成的空腔内用以在滑块受到外力向限位孔25的内部滑动时使滑块复位。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于高低温箱的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:基座;通过转动机构配置于所述基座上的架体,在转动机构的驱动下,所述架体可以第一方向为轴相对于基座转动;通过升降机构配置于所述架体上的检测件,所述检测件可沿第一方向运动,该检测件被配置为用以测试产品;承载架,所述承载架用以固定若干沿第一方向排列的产品;所述检测件被配置为在升降机构和转动机构的驱动下,可对产品进行测试。2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述转动机构包括有用以驱动所述架体转动的转动电机,所述转动电机的输出轴连接固定于所述架体。3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述架体包括:底板;以及连接于底板上的侧板,所述升降机构安装于所述侧板上;所述底板上形成有凸起结构,所述底板通过凸起结构和所述转动电机的输出轴结合固定;所述侧板上的靠近承载架一侧形成有限位孔;所述侧板和底板之间包括有用以增强架体的结构强度的结构板。4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括第一锁紧机构,所述第一锁紧机构被配置为可限定所述架体的位置;所述第一锁紧机构包括:形成于所述基座侧壁面上的固定部;安装于所述固定部上的用以与所述架体抵接固定的定位螺栓。5.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述升降机构包括:位于所...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭志功耿金鹏谭军高景一
申请(专利权)人:北京无线电测量研究所
类型:发明
国别省市:

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