一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置，涉及测电变量的技术领域，包括：外部输入的射频信号S

【技术实现步骤摘要】
一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置


[0001]本专利技术涉及测电变量的
，具体而言，涉及一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置。

技术介绍

[0002]相位检测调节主要指通过某种技术使得射频微波信号按指定的相位偏移量进行相位移动，往往应用于多路相参异频或同频链路中，用于获得多通道异频相干信号或单通道多载波合成包络的一种技术，该技术广泛应用于高功率微放电效应测试系统、雷达系统和微波通信系统等领域。
[0003]微放电效应是发生在两个金属表面之间或者是单个介质表面上的一种真空谐振放电现象。它是由射频电场激发的，通常是真空条件下在微波系统中发生。微放电通常是由部件中传输的射频电场所激发，在射频电场中被加速而获得能量的电子，撞击表面产生二次电子而形成。发生的条件根据微放电类型而有所不同，当功率、频率和器件内部结构缝隙尺寸满足一定关系时才会发生。微放电效应的产生又与真空压力、加工工艺、表面处理、表面材料、污染等因素有关。
[0004]微放电发生时会引起微波器件靠近载波频率的窄带噪声增高、信号质量恶化等问题，严重时甚至会本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于微放电效应测试的相位检测调节装置，其特征在于，所述装置包括：外部输入的射频信号S
IF
通过第一功分器C1分别输出信号至第一混频器X1和第三混频器X3；本振信号源LO通过第二功分器C2分路后，一路经过第一移相器P1输出信号S
LO1
至第一混频器X1，另一路经过第二移相器P2输出信号S
LO2
至第二混频器X2；所述第一混频器X1混频得到射频信号S
RF
输出至非变频链路中，在所述非变频链路中引入新的相位偏移叠加在所述射频信号S
RF
上，通过耦合器COU输出目标信号S2作为所述装置的输出信号，所述耦合器COU同时输出测试参考点耦合信号S1反馈回所述第二混频器X2与信号S
LO2
混频并经过可调衰减器A1形成信号S
IFT
输入所述第三混频器X3；微控单元MCU接收所述第三混频器X3输出的信号进行检测，比相测量计算相对相位差值，所述微控单元MCU向所述第一移相器P1和所述第二移相器P2发送控制信号以达到实时检测并调节相位目的。2.如权利要求1所述的应用于微放电效应测试的相位检测调节装置，其特征在于，所述第三混频器X3向所述微控单元MCU输出的信号首先经过第三检波器D3处理，再通过第一AD转换器AD1转换为数字信号。3.如权利要求1所述的应用于微放电效应测试的相位检测调节装置，其特征在于，所述可调衰减器A1的前后分别设置第四功分器C4和第三功分器C3，所述第三功分器C3的支路中信号经第一检波器D1处理后通过第二AD转换器AD...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春秋，刘鹏，赵丹，
申请(专利权)人：北京优诺信创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：