一种铜表面DLC膜层制备方法技术

技术编号:36420088 阅读:11 留言:0更新日期:2023-01-20 22:27
一种铜表面DLC膜层制备方法,本发明专利技术涉及一种铜表面DLC膜层制备方法。本发明专利技术的目的是为了解决现有技术中铜基体表面沉积DLC膜层结合力差、耐腐蚀性差的问题。本发明专利技术通过在铜基体表面引入适量的氧元素,采用高压脉冲的电离氧气,获得高能氧离子,轰击铜基体表面,达到氧注入铜基体和活化铜表面形成适量的氧化铜的效果。之后,进行氧与四甲基硅烷混合气体放电,沉积打底层,目的为了形成Cu

【技术实现步骤摘要】
一种铜表面DLC膜层制备方法


[0001]本专利技术涉及一种铜表面DLC膜层制备方法。

技术介绍

[0002]随着国家对发展海洋资源的日益重视,对海上设备的耐腐蚀性要求也越来越高。由于铜镍合金具有一定的耐腐蚀性能和良好的耐海生物污损的特性,所以铜镍合金在海洋船舶、海上油井平台、海上设施设备上得到广泛的应用。但是,铜材质基体表面还是需要进行防腐处理,一般采用的做法有涂漆,镀膜等。
[0003]近年来,研究人员在铜表面沉积类金刚石涂层(DLC),DLC涂层具有很高的硬度,低摩擦系数,稳定的化学特性造就的高耐腐蚀性能。虽然,在铜基材表面镀膜,可以有效地提高其耐腐蚀性能,但在铜基材表面沉积类金刚石膜层的膜基结合力差,容易出现膜层脱落。这主要是因为:膜与基体不能形成化学键,铜基材的Cu原子与类金刚石膜层的C原子之间无法形成化学键结合;物理性不匹配,铜基体的硬度较低,类金刚石膜层的内应力大,硬度较高,两者之间的差别较大,过渡不好导致膜基结合差。以上因素导致膜基结合力强度低。因此,对铜基体表面进行预处理提高膜基结合力是十分必要的。学者们探究了很多方法,例如提供Si、碳化硅、Ti、TiC、氮化钛及其组合进行沉积作为粘结层。这些方法需要提供额外的靶材装置,工艺操作复杂,提供的膜基结合力有限,而且膜层的耐腐蚀性能提升有限。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中铜基体表面沉积DLC膜层结合力差、耐腐蚀性差的问题,提供一种铜表面DLC膜层制备方法。
[0005]本专利技术一种铜表面DLC膜层制备方法为:
[0006]一、将预处理后的铜基材试样在有机溶剂中进行超声波清洗,干燥;
[0007]二、将铜基材试样置于密闭腔室中,然后抽真空;
[0008]三、将Ar通入到密闭腔室中,调整密闭腔室气压1

20Pa,密闭腔室与高压脉冲电源负极连接作为阴极,阳极安装在腔室内或在腔室一侧与高压脉冲电源正极连接,脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,空心阴极放电,进行等离子清洗,时间10

200min;
[0009]四、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压1

15Pa的条件下,将O2与Ar通入到密闭腔室内,进行空心阴极放电,时间1

100min;
[0010]五、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压3

15Pa的条件下,将前驱体气体通入密闭腔室,进行空心阴极放电沉积,沉积含氧过渡层,沉积时间1

100min;
[0011]六、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%的条件下,向密闭腔室内通入工作气体A进行空心阴极放电,沉积Si

DLC层,沉积10

30min,然后再通入工作气体B进行空心阴极放电,沉积DLC层,沉积10

30min,采用工作气体A和B交替进行空心阴极放电沉积,总沉积时间为20

500min;其中最后一次放电沉积采用工作气体B进行沉积,所述工作气体A为流量比为(1

5):(1

2):(1

6)的Ar、气态的四甲基硅烷与乙炔;工作气体B为流量比为(1

3):(1

5)
的Ar与乙炔。
[0012]本专利技术一种铜表面DLC膜层制备方法为:
[0013]一、对铜制成的密闭腔室进行预处理,然后超声波清洗,干燥,抽真空;
[0014]二、将Ar通入到密闭腔室中,调整密闭腔室气压1

20Pa,密闭腔室与高压脉冲电源负极连接作为阴极,阳极安装在腔室内或在腔室一侧与高压脉冲电源正极连接,脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,空心阴极放电,对密闭腔室的内壁进行等离子清洗,时间10

200min;
[0015]三、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压1

15Pa的条件下,将O2与Ar通入到密闭腔室内,进行空心阴极放电,时间1

100min;
[0016]四、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压3

15Pa的条件下,将前驱体气体通入密闭腔室,进行空心阴极放电沉积,在密闭腔室内壁沉积含氧过渡层,沉积时间1

100min;
[0017]五、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%的条件下,向密闭腔室内通入工作气体A进行空心阴极放电,沉积Si

DLC层,沉积10

30min,然后再通入工作气体B进行空心阴极放电,沉积DLC层,沉积10

30min,采用工作气体A和B交替进行空心阴极放电沉积,总沉积时间为20

500min;其中最后一次放电沉积采用工作气体B进行沉积,所述工作气体A为流量比为(1

5):(1

2):(1

6)的Ar、气态的四甲基硅烷与乙炔;工作气体B为流量比为(1

3):(1

5)的Ar与乙炔。
[0018]本专利技术提出通过在铜基体表面引入适量的氧元素,采用高压脉冲的电离氧气,获得高能氧离子,轰击铜基体表面,达到氧注入铜基体和活化铜表面形成适量的氧化铜的效果。之后,进行氧与四甲基硅烷混合气体放电,沉积打底层,目的为了形成Cu

O

Si网链结构,使得膜层从元素,结构,应力和性能的梯度渐变,防止基体与膜层之间差异较大,产生应力过大导致脱膜。而且本专利技术还采用多层调制降低膜层应力,制备出超厚膜层,提高了膜层的耐腐蚀性能。
[0019]本专利技术具有以下优点和有益效果:
[0020]1)本专利技术采用空心阴极高压脉冲放电方法,将被处理试样放置在密闭腔室,或被处理工件自身形成为密闭腔室,通入工作气体在密闭腔室内部进行放电,获得离子注入、沉积效果,无需额外装置和靶材,操作方便快捷。
[0021]2)本专利技术提出将氧引入到铜基体表面,提高铜基体表面活性,形成Cu

O

Si网链结构,提高了Cu与类金刚石膜层之间的结合力。
[0022]3)本专利技术提出较低的气压、高的放电电压,产生大量的高能离子,实现对Cu本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种铜表面DLC膜层制备方法,其特征在于该制备方法为:一、将预处理后的铜基材试样在有机溶剂中进行超声波清洗,干燥;二、将铜基材试样置于密闭腔室中,然后抽真空;三、将Ar通入到密闭腔室中,调整密闭腔室气压1

20Pa,密闭腔室与高压脉冲电源负极连接作为阴极,阳极安装在腔室内或在腔室一侧与高压脉冲电源正极连接,脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,空心阴极放电,进行等离子清洗,时间10

200min;四、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压1

15Pa的条件下,将O2与Ar通入到密闭腔室内,进行空心阴极放电,时间1

100min;五、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%,密闭腔室气压3

15Pa的条件下,将前驱体气体通入密闭腔室,进行空心阴极放电沉积,沉积含氧过渡层,沉积时间1

100min;六、在脉冲电压1000

10000V,占空比5

90%的条件下,向密闭腔室内通入工作气体A进行空心阴极放电,沉积Si

DLC层,沉积10

30min,然后再通入工作气体B进行空心阴极放电,沉积DLC层,沉积10

30min,采用工作气体A和B交替进行空心阴极放电沉积,总沉积时间为20

500min;其中最后一次放电沉积采用工作气体B进行沉积,所述工作气体A为流量比为(1

5):(1

2):(1

6)的Ar、气态的四甲基硅烷与乙炔;工作气体B为流量比为(1

3):(1

5)的Ar与乙炔。2.根据权利要求1所述的一种铜表面DLC膜层制备方法,其特征在于步骤二中真空度达到1.0
×
10
‑5~1.0
×
10
‑3Pa。3.根据权利要求1所述的一种铜表面DLC膜层制备方法,其特征在于步骤四中的O2与Ar流量比(0.1

5):1的混合气体。4.根据权利要求1所述的一种铜表面DLC膜层制备方法,其特征在于步骤五中前驱体气体为Ar、O2与含硅有机前驱体,流量比为(1

5):(1

2):(1

3)。5.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:田修波靳朋礼巩春志
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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