一种双模双待移动终端互干扰性能测试的方法技术

技术编号:3641660 阅读:184 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种双模双待手机互干扰性能测试方法。该方法包括在微波暗室中进行:射频模块1与测试仪器以空间耦合方式建立连接链路并对链路损耗进行校准和补偿;使射频模块2关闭或者待机,测试出射频模块1的灵敏度;使射频模块2与测试仪器以空间耦合方式建立连接链路并以最大功率连续地发射,测出射频模块1的灵敏度;将射频模块2关闭或者待机与打开时测出的射频模块1的灵敏度对比,得出射频模块2对射频模块1接收灵敏度的干扰。采用本方法能够定量的测试出TD-SCDMA/GSM、TD-SCDMA/CDMA、CDMA/GMS和TD-SCDMA/PHS双模双待手机两射频模块之间的相互干扰,并对不同手机互干扰程度作出定量比较。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种双模双待手机互干扰性能测试方法,其特征在于,在微波暗室中进行如下步骤:射频模块1与测试仪器以空间耦合方式建立连接链路并对链路损耗进行校准和补偿;使射频模块2关闭或者待机,测试出射频模块1的灵敏度;打开射频模块2,并与测试仪器以空间耦合方式建立连接链路;使射频模块2以最大功率连续地发射,测出射频模块1的灵敏度;将射频模块2关闭或者待机时测出的射频模块1的灵敏度与打开射频模块2时测出的射频模块1的灵敏度对比,得出射频模块2对射频模块1接收灵敏度的干扰情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:凌小兵曾子平赵真理杨学森
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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