一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置，包括传送带、固定组件、检测组件；传送带沿固定方向运动，待测磁芯放置在传送带上，待测磁芯由多个圆形磁芯叠加而成，且其轴线与传送带的运动方向垂直；固定组件用于对待测磁芯进行限位，使待测磁芯位于设定的检测区域内，且待测磁芯仅能在传送带的作用下绕待测磁芯的轴线旋转；检测组件用于对待测磁芯的侧面进行图像采样；传送带、固定组件、检测组件相配合，获得待测磁芯完整的侧面图像。圆形磁芯侧面缺陷检测方法使用圆形磁芯侧面缺陷检测装置，通过图像处理技术完成对圆形磁芯侧面缺陷的检测。本发明专利技术能检测圆形磁芯的完整圆周侧面，同时能完成多个圆形磁芯的缺陷检测任务。同时能完成多个圆形磁芯的缺陷检测任务。同时能完成多个圆形磁芯的缺陷检测任务。

【技术实现步骤摘要】
一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法


[0001]本专利技术涉及质量检测领域，尤其涉及一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置及其方法。

技术介绍

[0002]工业产品的质量检测是产品质量的重要一环。在实际的生产过程中，可能会产生各种缺陷，而这些缺陷会对产品的实际使用造成影响。目前大多数生产厂商主要采用人工识别的方法。人长时间工作会出现视觉疲劳，造成误检、漏检。同时人工质检需要大量的劳动力成本，极大的增加企业的生产成本。
[0003]电子产品在日常生活中已经必不可少，而磁芯是电子产品的重要组成部分之一。在实际生产过程中的碰撞、摩擦等现象会导致产品表面出现各种缺陷，影响产品质量。目前针对磁芯侧面的检测方式，主要以人工的方式进行识别，效率低，成本高。而以非人工的方式进行识别，每次仅能检测单个磁芯，检测效率低。而以非人工的方式进行识别，现有技术中存在圆形磁芯轴心难确认、侧面图像获取困难、拍摄成像不清晰的问题，且每次仅能检测单个磁芯，检测效率低。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提出如下技术方案：一种圆形磁芯侧面缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，包括传送带、固定组件、检测组件；所述传送带沿固定方向运动，待测磁芯放置在所述传送带上，所述待测磁芯为并排放置的多个圆形磁芯，且所述待测磁芯轴线与所述传送带的运动方向垂直；所述固定组件用于对所述待测磁芯进行限位，使所述待测磁芯位于设定的检测区域内，且所述待测磁芯仅能在所述传送带的作用下绕所述待测磁芯的轴线旋转；所述检测组件用于对所述待测磁芯的侧面进行图像采样；所述传送带、固定组件、检测组件相配合，获得所述待测磁芯完整的侧面图像。2.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述固定组件包括：固定支架、夹紧装置、约束装置、阻挡装置；所述固定支架安装在所述传送带的上方，所述阻挡装置安装在所述传送带上，用于阻挡所述待测磁芯跟随所述传送带运动，所述阻挡装置与所述固定支架的相对位置保持不变；所述夹紧装置从所述待测磁芯的两端将其夹紧，使所述待测磁芯不发生轴向偏移，实现轴向限位，且所述待测磁芯能绕其轴线旋转；所述约束装置一端转动连接在所述固定支架上，另一端在所述待测磁芯到达所述待测区域后压紧所述待测磁芯，避免所述待测磁芯回滚，所述约束装置和所述阻挡装置共同作用，实现对所述待测磁芯的径向限位。3.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述检测组件包括光源和相机，所述光源用于提供稳定照明；所述相机固定在所述待测磁芯的正上方，用于拍摄所述待测磁芯的侧面图像，且所述相机的拍摄不会被遮挡。4.根据权利要求2所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述夹紧装置包括弹性元件和万向轮，弹性元件的一端与所述固定支架连接，另一端与所述万向轮连接；所述万向轮从两端夹紧所述待测磁芯，使所述待测磁芯的轴向位置不发生偏移，实现轴向限位，且所述待测磁芯仍可绕其轴线进行旋转；所述弹性元件用于调节对所述待测磁芯两端的挤压力度。5.根据权利要求2所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述阻挡装置选用能在每个所述圆形磁芯对应位置单独开关的挡板结构，用于使特定的单个圆形磁芯通过阻挡装置，随传送带...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宪保，翁扬凯，左春云，吴帅杰，彭桂芳，姚明海，
申请(专利权)人：浙江工业大学，
类型：发明
国别省市：