【技术实现步骤摘要】
一种缺陷检出方法及系统
[0001]本申请涉及缺陷检测
，具体而言，涉及一种缺陷检出方法及系统。
技术介绍
[0002]在工业缺陷检测领域，常需要检测显示屏等物品是否存在缺陷，不存在缺陷的物品即为成品。
[0003]在缺陷检测过程中，通常需根据质检规格书中的缺陷尺寸要求，对缺陷进行卡控，此时，则需要在缺陷检测软件中，根据相应规格书中的缺陷尺寸卡控要求改变代码，以使缺陷检测软件能够准确实现缺陷检出的要求，然后进行缺陷检测过程。
[0004]然而，当待检测品不同时，或者要求检出的缺陷类型变化时，为了顺利使缺陷检测软件准确判定缺陷，开发人员需要及时变更代码，以适应不同缺陷的检出过程，比较繁琐，且变更周期长。
技术实现思路
[0005]为了解决通过改变代码的方式使缺陷检测软件准确判定各类缺陷的过程比较繁琐的问题，本申请提供了一种缺陷检出方法及系统。
[0006]本申请的实施例是这样实现的：
[0007]本申请实施例的第一方面提供一种缺陷检出方法，包括：
[0008]确定用...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检出方法，其特征在于，包括：确定用于描述缺陷的特征，基于所述特征的使用频率，对所述特征进行排序，排序后的特征组成规则集，不同所述规则集用于检出特征不同的缺陷；通过预设规则，将所述规则集与配置文件用的编码建立关系，以配置文件后顺利读取出对应的规则集中的特征；提取接收图像中的缺陷区域，作为候选缺陷判定区域；计算所述候选缺陷判定区域的各个特征的值，得到第一特征值集，所述第一特征值集中的特征与相应规则集中特征的类型相同；当所述第一特征值集中各特征值与用于单缺陷判定的质检规格书中相应数据参数对应后，获取该所述规则集对应的候选缺陷判定区域，并输出为单缺陷区域。2.如权利要求1所述缺陷检出方法，其特征在于，在将所述规则集与配置文件用的编码建立关系步骤中，进一步包括：将不同所述规则集设置为不同的十进制编码，以使所述十进制编码解码后，形成的二进制能够准确表达所述规则集中的特征排序；其中，所述二进制中32位二进制比特的值与所述规则集中的特征按照预设规则对应。3.如权利要求2所述缺陷检出方法，其特征在于，所述预设规则如下：设定所述二进制比特中的
″1″
对应所述规则集中的特征；将所述规则集中的特征与所述二进制比特中的值从右向左一一对应；依据所述规则集中的特征顺序，选择对应的二进制进行编码。4.如权利要求1所述缺陷检出方法，其特征在于，在计算所述候选缺陷判定区域的各个特征的值，得到第一特征值集步骤中，还包括：获取所述候选缺陷判定区域的第一因素的参数值大于第一阈值，且第二因素的参数值大于第二阈值时对应的区域，作为筛选后的第一区域；所述第一因素为所述规则集中使用频率最高的因素，所述第二因素的使用频率次之；根据所述第一区域的面积对所述第一区域进行排序，选取第一数量的第一区域作为候选区域；计算所述候选区域的各个特征的值，得到所述第一特征值集。5.如权利要求1所述缺陷检出方法，其特征在于，对于所述缺陷区域存在多缺陷情况时，去除所述候选缺陷判定区域中单缺陷区域后的剩余区域为第二区域，还包括：基于相应规则集中的相邻距离，对所述第二区域做合并处理，以使所述第二区域中相邻距离小于第三阈值的区域合并为合并区域；计算所述合并区域中的各个特...
【专利技术属性】
技术研发人员：盖顺华，时广军，周钟海，杨艺，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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