一种芯片频率检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施方式公开了一种芯片频率检测方法、装置及电子设备。该方法包括：输出测试信号至若干个待测芯片，以使若干个待测芯片输出目标振荡信号；在若干个RC振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口；在各个振荡采集窗口中，以标准时钟为计数信号，计算相应目标振荡信号在振荡采集窗口中的振荡次数；以振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率，对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计，获得相应振荡器的频率方差；评估所述频率方差，从待测芯片中筛选出不合格芯片。通过上述方式，本发明专利技术实施方式能够将待测芯片中RC振荡异常的不合格芯片挑选出来，以提高应用该芯片的产品合格率，避免误用不合格芯片所造成的成本损失。避免误用不合格芯片所造成的成本损失。避免误用不合格芯片所造成的成本损失。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片频率检测方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术实施方式涉及RC振荡器领域，特别是涉及一种芯片频率检测方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]振荡器是时钟电路的重要部件，用于向集成电路系统提供时序控制的标准时钟信号，使得集成电路系统工作在同一种特定频率的时钟信号中。RC振荡器(R：电阻；C：电容)，包括由电阻和电容组成的选频网络，通常用于产生1赫兹至1兆赫兹的低频信号，能够快速启动，成本较低，但是通常在整个温度和工作电源电压范围内的精度较差，会在标称输出频率的5％至50％范围内变化。
[0003]对于输出频率为千赫兹量级的RC振荡器，由于频率较低，其输出频率的温度系数主要依赖于电阻的温度系数。从而利用不同类型的电阻的温度系数曲线不同，可以对输出频率的温度系数进行补偿，以产生较高精度的时钟信号。但是，对于输出频率为兆赫兹量级的RC振荡器，其时钟周期在纳秒量级，由于电路中MOS管的寄生电容、寄生电阻相对于纳秒量级的输出频率，已不可忽略。器件的寄生参数，和器件匹配不当等原因，均会对RC振荡器输出频率的精度造成不利影响。若单纯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片频率检测方法，应用于包含有RC振荡器的待测芯片，其特征在于，包括：输出测试信号至若干个待测芯片，以使所述若干个待测芯片输出目标振荡信号；在若干个RC振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口；在各个振荡采集窗口中，以标准时钟为计数信号，计算相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数；以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率，对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计，获得相应RC振荡器的频率方差；评估所述频率方差，从所述待测芯片中筛选出不合格芯片。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输出测试信号至若干个待测芯片，以使所述若干个待测芯片输出目标振荡信号，包括：分别输出所述测试信号至所述若干个待测芯片，以使所述若干待测芯片的RC振荡器开始振荡；使若干个待测芯片输出相应的目标振荡信号。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在若干个RC振荡器的振荡周期中分别设置若干个振荡采集窗口，包括：设置各个振荡周期的起点为第一个振荡采集窗口的采集起点；以上一个振荡采集窗口的终点的下一个信号上升沿做为下一个振荡采集窗口的起点，至设置有若干个振荡采集窗口。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在各个振荡采集窗口中，以标准时钟为计数信号，计算相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数，包括：获取标准时钟作为计数信号；计算所述各个振荡采集窗口的时间长度；将各个所述时间长度分别除以所述计数信号的时长，获得相应目标振荡信号在所述振荡采集窗口中的振荡次数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述计算所述各个振荡采集窗口的时间长度，包括：获取所述各个振荡采集窗口的采集起点；获取所述各个振荡采集窗口的采集终点；将所述各个振荡采集窗口的采集终点减去相应振荡采集窗口的采集起点，获得所述各个振荡采集窗口的时间长度。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述以所述振荡次数作为相应振荡采集窗口的振荡频率，对各个振荡采集窗口的振荡频率进行统计，获得相...

【专利技术属性】
技术研发人员：许崇铭，吴瀚平，
申请(专利权)人：深圳市中科蓝讯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：