计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取计量信息表，其中，计量信息表包括计量参数；根据计量需求确定与计量参数对应的计量要求，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库；获取待测量的计量参数，根据计量信息数据库，确定待测量的计量参数的计量要求。通过对计量信息进行处理，建立起计量信息数据库，将计量参数与计量要求一一对应的关系进行数据管理，实现在进行计量校准及检测时，将技术数据与计量数据进行紧密融合，能够为待测量的计量参数快速准确地提供对应的计量要求，从而有效提高计量校准及检测的精准度。而有效提高计量校准及检测的精准度。而有效提高计量校准及检测的精准度。

【技术实现步骤摘要】
计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及数据管理
，尤其涉及一种计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]计量数据是指使用计量器具经检测而出具的数据，也可以叫“量值”、“测量结果”、“测量数据”等。
[0003]目前，在计量校准及检测领域，各机构业务数据和技术数据实质是相割裂的状态，实验室产生的技术数据仅仅作为支撑其业务数据的凭证被搁置。也就是说，在进行计量校准及检测的过程中，难以及时获取到对应的技术数据的支持，导致难以保证计量校准及检测的精准度。
[0004]因此，现有技术中在进行计量校准及检测时，存在技术数据与计量数据割裂，导致计量校准及检测的精准度低的问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，有必要提供一种计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决现有技术在进行计量校准及检测时，存在的由于技术数据与计量数据割裂，导致计量校准及检测的精准度低的问题。
[0006]为了解决上述问题，本专利技术提供一种计量数据信息管理方法，包括：
[0007]获取计量信息表，其中，计量信息表包括计量参数；
[0008]根据计量需求确定与计量参数对应的计量要求，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库；
[0009]获取待测量的计量参数，根据计量信息数据库，确定待测量的计量参数的计量要求。
[0010]进一步地，计量需求包括计量检定规程、校准规范、计量标准、仪器设备信息、质量控制体系要求。
[0011]进一步地，根据计量需求确定与计量参数对应的计量要求，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库，包括：
[0012]获取计量信息表中的计量参数；
[0013]根据计量需求，确定与计量参数相关的计量要求，其中，至少有一个计量要求与计量参数对应；
[0014]根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库。
[0015]进一步地，获取计量信息表中的计量参数，包括：
[0016]根据计量信息表，获取计量参数和原始计量模板；
[0017]根据计量参数，对原始计量模板进行精简处理，确定计量校准模板；
[0018]根据计量校准模板，确定标准计量参数。
[0019]进一步地，根据计量需求，确定与计量参数相关的计量要求，其中，至少有一个计量要求与计量参数对应，包括：
[0020]根据计量需求，绘制系统UML流程图，其中，系统UML流程图中包括标准计量参数之间的关联关系；
[0021]根据计量需求，获取系统UML流程图中的标准计量参数对应的标准计量要求；其中，至少有一个标准计量要求与标准计量参数对应。
[0022]进一步地，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库，包括：
[0023]根据标准计量参数与标准计量要求的对应关系建立计量信息数据库，其中，计量信息数据库中包括标准计量参数和标准计量要求，且标准计量参数和标准计量要求一一对应。
[0024]进一步地，获取待测量的计量参数，根据计量信息数据库，确定待测量的计量参数的计量要求，包括：
[0025]获取待测量的计量参数；
[0026]根据计量信息数据库，查找待测量的计量参数对应的标准计量参数；
[0027]根据标准计量参数，确定对应的标准计量要求；
[0028]根据标准计量要求，确定待测量的计量参数的计量要求。
[0029]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种计量数据信息管理装置，包括：
[0030]计量参数获取模块，用于获取计量信息表，其中，计量信息表包括计量参数；
[0031]计量信息数据库建立模块，用于根据计量需求确定与计量参数对应的计量要求，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库；
[0032]计量要求确定模块，用于获取待测量的计量参数，根据计量信息数据库，确定待测量的计量参数的计量要求。
[0033]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种电子设备，包括处理器以及存储器，存储器上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，实现如前文所述的计量数据信息管理方法。
[0034]为了解决上述问题，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，存储介质存储有计算机程序指令，当计算机程序指令被计算机执行时，使计算机执行如前文所述的计量数据信息管理方法。
[0035]采用上述技术方案的有益效果是：本专利技术提供一种计量数据信息管理方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取计量信息表，其中，计量信息表包括计量参数；根据计量需求确定与计量参数对应的计量要求，根据计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库；获取待测量的计量参数，根据计量信息数据库，确定待测量的计量参数的计量要求。通过对计量信息进行处理，建立起计量信息数据库，将计量参数与计量要求一一对应的关系进行数据管理，实现在进行计量校准及检测时，将技术数据与计量数据进行紧密融合，能够为待测量的计量参数快速准确地提供对应的计量要求，从而有效提高计量校准及检测的精准度。
附图说明
[0036]图1为本专利技术提供的计量数据信息管理方法一实施例的流程示意图；
[0037]图2为本专利技术提供的建立计量信息数据库一实施例的流程示意图；
[0038]图3为本专利技术提供的获取计量参数一实施例的流程示意图；
[0039]图4为本专利技术提供的确定计量参数对应的计量要求一实施例的流程示意图；
[0040]图5为本专利技术提供的获取待测量的计量参数的计量要求一实施例的流程示意图；
[0041]图6为本专利技术提供的计量数据信息管理装置一实施例的结构示意图；
[0042]图7为本专利技术提供的电子设备一实施例的结构框图。
具体实施方式
[0043]下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理，并非用于限定本专利技术的范围。
[0044]在陈述实施例之前，先对计量数据、计量参数、计量要求进行阐述：
[0045]计量数据是指使用计量器具经检测而出具的数据，也可以叫“量值”、“测量结果”、“测量数据”等。计量数据能反映能源消耗水平的高低，标志着生产、技术、安全、环保水平，管理好计量数据是非常必要的。计量数据管理，主要是指计量数据的采集和反馈，即设法获得计量数据，再把这些数据反馈到有关部门，发挥计量数据的作用。
[0046]参数，也叫参变量，是一个变量。我们在研究当前问题的时候，关心某几个变量的变化以及它们之间的相互关系，其中有一个或一些叫自变量，另一个或另一些叫因变量。如果我们引入一个或一些另外的变量来描述自变量与因变量的变化，引入的变量本来并不是当前问题必须研究的变量，我们把这样的变量叫做参变量或参数。计量参数是指在进行计量校准及检测时，需要统计的数据的名称。
[0047]计量要求是指根据生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种计量数据信息管理方法，其特征在于，包括：获取计量信息表，其中，所述计量信息表包括计量参数；根据计量需求确定与所述计量参数对应的计量要求，根据所述计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库；获取待测量的计量参数，根据所述计量信息数据库，确定所述待测量的计量参数的计量要求。2.根据权利要求1所述的计量数据信息管理方法，其特征在于，所述计量需求包括计量检定规程、校准规范、计量标准、仪器设备信息、质量控制体系要求。3.根据权利要求2所述的计量数据信息管理方法，其特征在于，根据计量需求确定与所述计量参数对应的计量要求，根据所述计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库，包括：获取所述计量信息表中的所述计量参数；根据所述计量需求，确定与所述计量参数相关的所述计量要求，其中，至少有一个所述计量要求与所述计量参数对应；根据所述计量参数与计量要求的对应关系建立计量信息数据库。4.根据权利要求3所述的计量数据信息管理方法，其特征在于，获取所述计量信息表中的所述计量参数，包括：根据所述计量信息表，获取所述计量参数和原始计量模板；根据所述计量参数，对所述原始计量模板进行精简处理，确定计量校准模板；根据所述计量校准模板，确定标准计量参数。5.根据权利要求4所述的计量数据信息管理方法，其特征在于，根据所述计量需求，确定与所述计量参数相关的所述计量要求，其中，至少有一个所述计量要求与所述计量参数对应，包括：根据所述计量需求，绘制系统UML流程图，其中，所述系统UML流程图中包括所述标准计量参数之间的关联关系；根据所述计量需求，获取所述系统UML流程图中的所述标准计量参数对应的所述标准计量要求；其中，至少有一个所述标准...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟令东，王帅，
申请(专利权)人：奥尔劳格武汉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：