一种磁共振图像相位解卷绕方法技术

本发明专利技术涉及核磁图像处理技术领域，尤其涉及一种磁共振图像相位解卷绕方法，包括信号相位分析单元根据各信号相位的修正角度对其中一个通道的各信号相位进行修正，信号相位图像分析单元根据各相位的偏差值的影响系数确定解卷绕处理的角度范围，信号相位处理单元根据各偏差值的影响系数确定修正角度范围对信号相位进行第一次解卷绕处理，质子相位获取单元获取第一次解卷绕前后射频下质子相位值确定各相位的偏差值对各质子相位影响系数确定对第一次解卷绕后的信号相位调整的修正系数，本发明专利技术提出了一种新的解卷绕方法，通过对信号相位偏差角度的精确修正角度的确定，提高了对核磁图像相位解卷绕效果的稳定性。磁图像相位解卷绕效果的稳定性。磁图像相位解卷绕效果的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种磁共振图像相位解卷绕方法


[0001]本专利技术涉及核磁图像处理
，尤其涉及一种磁共振图像相位解卷绕方法。

技术介绍

[0002]核磁共振是目前诊断心脑血管疾病的主要途径，在磁共振成像中，在每个像素上获得的信号数据都是复数，同时包含幅值和相位两部分信息。在大多数临床应用中，仅幅值图像被用于疾病的诊断与研究，而忽视了相位信息。
[0003]中国专利公开号：CN111157931 B公开了一种磁共振动态匀场方法，包括依次执行的以下步骤：步骤1、进行静态主动匀场，去除全空间的一阶B0场成分；步骤2、采集三维B0场数据；步骤3、通过采集的三维B0场数据计算出残余的高阶B0场分布；步骤4、逐层拟合层面内的一阶B0场并由此计算层面内两个方向的动态匀场参数；步骤5、从残余的高阶B0场分布中，扣除模拟施加了步骤4中的动态匀场分量，获得残留的高阶B0场；步骤6、对残留的高阶B0场进行相位解卷绕运算；步骤7、逐层计算0阶场，并计算出垂直于层面方向的动态匀场参数；步骤8、在扫描中逐层施加动态匀场参数，本专利技术针虽然对高阶B0场较大的磁共振系统，匀场算法更稳定可靠，可以确保空间其他位置磁场波动较小，但是该专利技术还是依托与常规的由此可见，所述一种磁共振动态匀场方法存在对解卷绕过程控制精度不高，从而导致解卷绕效果不稳定的问题。

技术实现思路

[0004]为此，本专利技术提供一种磁共振图像相位解卷绕方法，用以克服现有技术中对解卷绕过程控制精度不高，从而导致解卷绕效果不稳定的问题。
[0005]为实现上述目的，一方面本专利技术提供一种磁共振图像相位解卷绕方法，包括以下步骤：
[0006]S1、信号相位获取单元获取磁共振图像的两个通道滤波后的信号相位，信号相位分析单元根据各通道的信号相位差值对各通道的信号相位进行分类，并根据该分类确定信号相位修正方式；
[0007]S2、所述信号相位分析单元在完成各通道的分类时，所述信号相位分析单元确定各信号相位的修正角度，所述信号相位修正单元根据所述信号相位修正方式对其中一个通道的各信号相位进行修正；
[0008]S3、所述信号相位修正单元在确定所述各信号相位修正完成时，信号相位图像分析单元获取各相位的偏差值的影响系数，并根据所述各相位的偏差值的影响系数确定解卷绕处理的角度范围；
[0009]S4、所述信号相位分析单元在确定各相位的偏差值的影响系数时，所述信号相位处理单元根据所述各偏差值的影响系数确定修正角度范围，并根据该范围对信号相位进行第一次解卷绕处理；
[0010]S5、所述信号相位处理单元在确定所述第一次解卷绕处理完成时，质子相位获取
单元获取第一次解卷绕前后射频下质子相位值，质子相位分析单元根据第一次解卷绕前后射频下质子相位值的变化量确定各相位的偏差值对各质子相位影响系数；
[0011]S6、所述质子相位分析单元在确定各偏差值对质子相位影响系数完成时，所述质子相位分析单元根据所述各相位的偏差值确定对第一次解卷绕后的信号相位调整的修正系数。
[0012]进一步地，所述在所述步骤S1中，将所述磁共振图像的两个通道分别记为第一通道和第二通道，当所述信号相位分析单元根据各通道的信号相位差值对各通道进行分类时，所述信号相位分析单元分别获取第一通道和第二通道的各信号相位差值，分别将第一通道的各信号相位差值和第二通道的各信号相位差值与预设信号相位差值进行对比，获取与预设信号相位差值匹配的第一通道的信号相位差值数量Pa以及第二通道的信号相位差值数量Pb；
[0013]若Pa＞Pb，所述信号相位分析单元确定第一通道为对比参照信号相位通道，第二通道为修正信号相位通道；
[0014]若Pa＜Pb，所述信号相位分析单元确定第二通道为对比参照信号相位通道，第一通道为修正信号相位通道；
[0015]在所述信号相位分析单元确定完成各通道进行分类时，所述信号相位分析单元确定参照信号相位通道的各信号相位对修正信号相位通道的各信号相位进行修正。
[0016]进一步地，在所述步骤S2中，当所述信号相位分析单元确定各信号相位的修正角度时，所述信号相位分析单元获取所述参照信号相位通道的各信号相位与所述修正信号相位通道的各信号相位的偏差值Di,根据反正切函数计算各信号相位的偏差值对应的信号相位的修正角度Yi,其中Yi＝arctan(Di)，i为各信号相位的偏差值的数量。
[0017]进一步地，当所述偏差角度完成时，所述信号相位分析单元根据所述修正角度Yi与预设偏差角度Y0确定修正信号相位通道的各信号相位的修正角度，其中0.01＜Y0＜0.1，
[0018]若Yi≤Y0，所述信号相位分析单元确定对应信号相位的修正角度为零值；
[0019]若Yi＞Y0，所述信号相位分析单元确定对应信号相位的修正角度为Yi。
[0020]进一步地，在所述步骤S3中，当所述信号相位分析单元获取各相位的偏差值的影响系数时，所述信号相位分析单元获取各信号相位的修正角度为非零值的数量DN，所述信号相位图像分析单元根据该数量与预设非零值的数量的对比结果确定图像分析的图像对比范围，
[0021]其中所述信号相位图像分析单元设有第一预设非零值的数量DN1、第二预设非零值的数量DN2、第一图像对比范围R1、第二图像对比范围R2以及第三图像对比范围R3，其中DN1＜DN2，R1＜R2＜R3，
[0022]若DN＜DN1，所述信号相位图像分析单元确定图像对比范围为R1；
[0023]若DN1≤DN＜DN2，所述信号相位图像分析单元确定图像对比范围为R2；
[0024]若DN2≤DN，所述信号相位图像分析单元确定图像对比范围为R3。
[0025]进一步地，信号相位图像获取单元分别获取修正前后的修正信号相位通道的各信号相位对应的图像，所述信号相位图像分析单元根据所述图像对比范围Rj分别获取对比范围内修正前后图像的像素点，根据各修改前后图像的像素点的变化计算各相位的偏差值的影响系数Kde
[0026][0027]其中F1e表示第e个像素点位修正后的像素值，F0e表示第e个像素点位修正前的像素值，Ye表示第e个像素点位对应的相位的偏差值。
[0028]进一步地，在所述步骤S3中，当根据所述各相位的偏差值的影响系数确定解卷绕处理的角度范围时，所述信号相位图像分析单元设有第一预设影响系数Kd1'和第二预设影响系数Kd2'，其中Kd1'＜Kd2'，
[0029]若Kde＜Kd1'或Kde＞Kd2'，所述信号相位图像分析单元确定影响系数Kde对应的修正角度不加入解卷绕处理的角度范围集合；
[0030]若Kd1'≤Kde≤Kd2'，所述信号相位图像分析单元确定影响系数Kde对应的修正角度加入解卷绕处理的角度范围集合；
[0031]若解卷绕处理的角度范围集合完成时，图像分析单元设定解卷绕处理的角度范围集合内的最小角度值为解卷绕时信号相位修正的最小角度Ymi n，以及设定解卷绕处理的角度范围集合内的最大角度值为解本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁共振图像相位解卷绕方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、信号相位获取单元获取磁共振图像的两个通道滤波后的信号相位，信号相位分析单元根据各通道的信号相位差值对各通道的信号相位进行分类，并根据该分类确定信号相位修正方式；S2、所述信号相位分析单元在完成各通道的分类时，所述信号相位分析单元确定各信号相位的修正角度，所述信号相位修正单元根据所述信号相位修正方式对其中一个通道的各信号相位进行修正；S3、所述信号相位修正单元在确定所述各信号相位修正完成时，信号相位图像分析单元获取各相位的偏差值的影响系数，并根据所述各相位的偏差值的影响系数确定解卷绕处理的角度范围；S4、所述信号相位分析单元在确定各相位的偏差值的影响系数时，所述信号相位处理单元根据所述各偏差值的影响系数确定修正角度范围，并根据该范围对信号相位进行第一次解卷绕处理；S5、所述信号相位处理单元在确定所述第一次解卷绕处理完成时，质子相位获取单元获取第一次解卷绕前后射频下质子相位值，质子相位分析单元根据第一次解卷绕前后射频下质子相位值的变化量确定各相位的偏差值对各质子相位影响系数；S6、所述质子相位分析单元在确定各偏差值对质子相位影响系数完成时，所述质子相位分析单元根据所述各相位的偏差值确定对第一次解卷绕后的信号相位调整的修正系数。2.根据权利要求1所述的一种磁共振图像相位解卷绕方法，其特征在于，所述在所述步骤S1中，将所述磁共振图像的两个通道分别记为第一通道和第二通道，当所述信号相位分析单元根据各通道的信号相位差值对各通道进行分类时，所述信号相位分析单元分别获取第一通道和第二通道的各信号相位差值，分别将第一通道的各信号相位差值和第二通道的各信号相位差值与预设信号相位差值进行对比，获取与预设信号相位差值匹配的第一通道的信号相位差值数量Pa以及第二通道的信号相位差值数量Pb；若Pa＞Pb，所述信号相位分析单元确定第一通道为对比参照信号相位通道，第二通道为修正信号相位通道；若Pa＜Pb，所述信号相位分析单元确定第二通道为对比参照信号相位通道，第一通道为修正信号相位通道；在所述信号相位分析单元确定完成各通道进行分类时，所述信号相位分析单元确定参照信号相位通道的各信号相位对修正信号相位通道的各信号相位进行修正。3.根据权利要求2所述的一种磁共振图像相位解卷绕方法，其特征在于，在所述步骤S2中，当所述信号相位分析单元确定各信号相位的修正角度时，所述信号相位分析单元获取所述参照信号相位通道的各信号相位与所述修正信号相位通道的各信号相位的偏差值Di,根据反正切函数计算各信号相位的偏差值对应的信号相位的修正角度Yi,其中Yi＝arctan(Di)，i为各信号相位的偏差值的数量。4.根据权利要求3所述的一种磁共振图像相位解卷绕方法，其特征在于，当所述偏差角度完成时，所述信号相位分析单元根据所述修正角度Yi与预设偏差角度Y0确定修正信号相位通道的各信号相位的修正角度，其中0.01＜Y0＜0.04，若Yi≤Y0，所述信号相位分析单元确定对应信号相位的修正角度为零值；
若Yi＞Y0，所述信号相位分析单元确定对应信号相位的修正角度为Yi。5.根据权利要求4所述的一种磁共振图像相位解卷绕方法，其特征在于，在所述步骤S3中，当所述信号相位分析单元获取各相位的偏差值的影响系数时，所述信号相位分析单元获取各信号相位的修正角度为非零值的数量DN，所述信号相位图像分析单元根据该数量与预设非零值的数量的对比结果确定图像分析的图像对比范围，其中所述信号相位图像分析单元设有第一预设非零值的数量DN1、第二预设非零值的数量DN2、第一图像对比范围R1、第二图像对比范围R2以及第三图像对比范围R3，其中DN1＜DN2，R1＜R2＜R3，若DN＜DN1，所述信号相位...

【专利技术属性】
技术研发人员：高而师，刘李鹏，
申请(专利权)人：中科微影泰州医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：