一种用于光学模组测试的测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于光学模组测试的测试机构，包括：框架、第一PCB板、探针座、计算模块。框架具有一容置腔，第一PCB板设于框架的顶部，探针座焊接于第一PCB板上端的金手指并位于容置腔的外部；计算模块收容于容置腔内部；计算模块包括：第二PCB板、高速连接器、多个M.2连接器、多个计算板；第二PCB板通过高速连接器与第一PCB板下端的金手指连接，计算板通过M.2连接器与第二PCB板连接；多个计算板的板面相互平行排布，相邻的两个计算板的板面之间形成通风间隔；容置腔具有直线形通风通道，通风间隔位于通风通道中。本实用新型专利技术的用于光学模组测试的测试机构，提高空间利用率及提高散热效率。热效率。热效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光学模组测试的测试机构


[0001]本技术涉及一种测试机构，特别是涉及一种用于光学模组测试的测试机构。

技术介绍

[0002]光学模组在当前市场上得到广泛应用，包括但不限于手机，玩具，计算机以及自动驾驶领域，需求量巨大。光学模组在生产过程中需要对晶片及镜头的指标进行测试才能保证最终产品的质量。目前传统测试方案是基于PC+专用的图像数据采集设备获取光学模组的成像结果并进行分析，存在体积大且散热效率低的缺点。
[0003]如何设计开发一种用于光学模组测试的测试机构，以提高空间利用率及提高散热效率，这是需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种用于光学模组测试的测试机构，提高空间利用率及提高散热效率。
[0005]本技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种用于光学模组测试的测试机构，包括：框架、第一PCB板、探针座、计算模块；
[0007]所述框架具有一容置腔，所述第一PCB板设于所述框架的顶部，所述探针座焊接于所述第一PCB板上端的金手指并位于所述容置腔的外部；
[0008]所述计算模块收容于所述容置腔内部；所述计算模块包括：第二PCB板、高速连接器、多个M.2连接器、与多个所述M.2连接器一一对应的多个计算板；所述高速连接器和所述M.2连接器分别设于所述第二PCB板相背的两个板面上；所述第二PCB板通过所述高速连接器与所述第一PCB板下端的金手指连接，所述计算板通过所述M.2连接器与所述第二PCB板连接；
[0009]多个所述计算板的板面相互平行排布，相邻的两个所述计算板的板面之间形成通风间隔；所述容置腔具有直线形通风通道，所述通风间隔位于所述通风通道中；
[0010]其中，所述用于光学模组测试的测试机构还包括安装于所述框架上并位于所述容置腔外的散热结构。
[0011]在其中一个实施例中，所述框架包括基座及安装于基座上的顶板；
[0012]所述第一PCB板固定于所述顶板上。
[0013]在其中一个实施例中，所述散热结构为风扇。
[0014]在其中一个实施例中，所述风扇为两组，两组所述风扇分别位于所述通风风道的两端口处。
[0015]在其中一个实施例中，所述基座上开设有网络端口窗和数据端口窗；
[0016]所述第二PCB板的两端分别焊接有网络端口模块和数据端口模块；
[0017]所述网络端口模块位于所述网络端口窗，所述数据端口模块位于所述数据端口窗。
[0018]在其中一个实施例中，所述计算模块的数量为两组。
[0019]在其中一个实施例中，所述用于光学模组测试的测试机构还包括集线器模块；所述集线器模块包括支撑板及设于所述支撑板上的集线器结构；
[0020]所述支撑板与所述框架连接并位于所述容置腔的外部。
[0021]在其中一个实施例中，所述支撑板为具有弹性的弹性板结构。
[0022]在其中一个实施例中，所述M.2连接器焊接于第二PCB板上，所述计算板插接于所述M.2连接器上，所述计算板通过固定结构固定于所述第二PCB板上。
[0023]本技术的用于光学模组测试的测试机构具有如下特点：
[0024]1、计算模块收容于容置腔内部，一方面，框架对计算模块形成保护，另一方面，将计算模块集成于框架内以提高空间利用率；具体地，多个计算板的板面相互平行排布，且每一计算板通过一个M.2连接器焊接于第二PCB板上，这样，可以在有限的空间内放置多块计算板，提高了空间利用率；
[0025]2、计算模块中的多个计算板的板面相互平行排布，相邻的两个计算板的板面之间形成通风间隔，通风间隔位于通风通道中，这样，通过散热结构的作用，可以更加顺畅、无阻碍地实现通风，使得计算板在工作过程中所产生的热量更好地散发出去。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0027]图1为本技术一实施例的用于光学模组测试的测试机构的组装图；
[0028]图2为图1所示的用于光学模组测试的测试机构的分解图；
[0029]图3为图2所示的计算模块的结构图(一)；
[0030]图4为图2所示的计算模块的结构图(二)；
[0031]图5为图4所示的计算模块的局部图；
[0032]图6为图2所示的框架的基座的结构图。
具体实施方式
[0033]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施方式。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0034]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0035]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为
了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0036]如图1所示，本技术公开了一种用于光学模组测试的测试机构10，其包括：框架100、第一PCB板200、探针座300、计算模块400。
[0037]框架100具有一容置腔101(如图2所示)，第一PCB板200设于框架100的顶部，探针座300焊接于第一PCB板200上端的金手指并位于容置腔101的外部。
[0038]如图1所示，计算模块400收容于容置腔101内部。如图3及图4所示，其中，计算模块400包括：第二PCB板410、高速连接器420、多个M.2连接器430(如图5所示)、与多个M.2连接器430一一对应的多个计算板440。高速连接器420和M.2连接器430分别设于第二PCB板410相背的两个板面上。第二PCB板410通过高速连接器420与第一PCB板200下端的金手指连接(如图3及图4所示)，计算板440通过M.2连接器430与第二PCB板410连接(如图5所示)。具体地，M.2连接器430焊接于第二PCB410板上，计算板440插接于M.2连接器430上，计算板440通过固定结构450(如图5所示)固定于第二PCB板410上。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光学模组测试的测试机构，其特征在于，包括：框架、第一PCB板、探针座、计算模块；所述框架具有一容置腔，所述第一PCB板设于所述框架的顶部，所述探针座焊接于所述第一PCB板上端的金手指并位于所述容置腔的外部；所述计算模块收容于所述容置腔内部；所述计算模块包括：第二PCB板、高速连接器、多个M.2连接器、与多个所述M.2连接器一一对应的多个计算板；所述高速连接器和所述M.2连接器分别设于所述第二PCB板相背的两个板面上；所述第二PCB板通过所述高速连接器与所述第一PCB板下端的金手指连接，所述计算板通过所述M.2连接器与所述第二PCB板连接；多个所述计算板的板面相互平行排布，相邻的两个所述计算板的板面之间形成通风间隔；所述容置腔具有直线形通风通道，所述通风间隔位于所述通风通道中；其中，所述用于光学模组测试的测试机构还包括安装于所述框架上并位于所述容置腔外的散热结构。2.根据权利要求1所述的用于光学模组测试的测试机构，其特征在于，所述框架包括基座及安装于基座上的顶板；所述第一PCB板固定于所述顶板上。3.根据权利要求2所述的用于光学模组测试的测试机构，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟嘉威，王斌，夏俊稳，余意，
申请(专利权)人：深圳大谷百极科技有限公司，
类型：新型
国别省市：