一种同轴两反系统分步计算的装调方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种同轴两反系统分步计算的装调方法及装置，包括：检测待装同轴两反系统轴上视场的波像差分布，拟合得到三阶彗差系数；判断三阶彗差系数是否均小于第一设定阈值；若否，则计算次镜的偏心调整量并对系统进行补偿调整；若是，则根据波像差分布，拟合得到三阶像散系数；以待装系统的当前状态为起点，引入已知的定量失调量，并再次拟合得到新的三阶像散系数；根据引入定量失调前后三阶像散系数的变化量，计算次镜的倾斜调整量，并判断其是否均小于第二设定阈值；若否，则对系统进行补偿调整；若是，则根据引入的定量失调量对系统进行复原。这样完成装调，可消除系统的侧向失调量，并克服零彗差自由点和面形误差的影响，应用性更强。应用性更强。应用性更强。

【技术实现步骤摘要】
一种同轴两反系统分步计算的装调方法及装置


[0001]本专利技术涉及光学系统装调
，特别是涉及一种同轴两反系统分步计算的装调方法及装置。

技术介绍

[0002]同轴两反系统是指主反射镜(后简称主镜)和次反射镜(后简称次镜)两种反射式镜片组成的且镜片轴线重合的最基本的反射式系统结构，是离轴两反、离轴多反以及同轴多反光学系统的基本结构单元，其结构尺寸量级可大可小，小至厘米、毫米级，应用于吊舱、空间相机等空间遥感中，大至米级、十米级，应用于太阳望远镜、地基太空望远镜和空间望远镜等天文观测领域中，是成像探测系统中不可或缺的组成部分。在对同轴两反系统进行装配时，由于主镜体积和重量较大常作为装调基准，对次镜进行装配调整，因此，需要计算出次镜存在的装配误差(又称失调误差，失调量)，从而指导装调技师或机器进行装调。
[0003]如图1所示，同轴两反系统由主镜01和次镜02组成，03为像面，以同轴两反系统的光轴为Z轴、竖直向上为Y轴，建立空间坐标系，则次镜02主要存在6个自由度的调整量，分别是绕X/Y/Z轴的偏心调整量和倾斜调整量，定义为X
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，包括：检测待装调的同轴两反系统轴上视场的波像差分布，拟合得到三阶彗差系数；判断所述三阶彗差系数是否均小于第一设定阈值；若否，则计算次镜沿X轴的偏心调整量和沿Y轴的偏心调整量，并对所述待装调的同轴两反系统进行补偿调整；若是，则根据所述波像差分布，拟合得到三阶像散系数；以所述待装调的同轴两反系统的当前状态为起点，对次镜引入已知的定量失调量；检测引入定量失调后的同轴两反系统轴上视场的波像差分布，拟合得到新的三阶像散系数；根据引入定量失调前后三阶像散系数的变化量，计算次镜绕X轴的倾斜调整量和绕Y轴的倾斜调整量，并对所述引入定量失调后的同轴两反系统进行补偿调整。2.根据权利要求1所述的同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，对所述引入定量失调后的同轴两反系统进行补偿调整，具体包括：判断计算出的次镜绕X轴的倾斜调整量和绕Y轴的倾斜调整量是否均小于第二设定阈值；若否，则根据计算出的次镜绕X轴的倾斜调整量和绕Y轴的倾斜调整量对所述引入定量失调后的同轴两反系统进行补偿调整；若是，则根据引入的所述定量失调量，将所述引入定量失调后的同轴两反系统复原成引入定量失调前的同轴两反系统，以完成装调。3.根据权利要求2所述的同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，采用第一公式计算次镜沿X轴的偏心调整量和沿Y轴的偏心调整量；所述第一公式为：其中，X
DE
为次镜沿X轴的偏心调整量，Y
DE
为次镜沿Y轴的偏心调整量，C7、C8均为所述三阶彗差系数，k1为偏心调整量对三阶彗差的影响因子。4.根据权利要求3所述的同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，对所述待装调的同轴两反系统进行补偿调整，具体包括：利用计算出的沿X轴的偏心调整量和沿Y轴的偏心调整量，补偿校正所述待装调的同轴两反系统的偏心误差。5.根据权利要求1所述的同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，所述定量失调量为定量的沿X轴的偏心调整量或定量的沿Y轴的偏心调整量。6.根据权利要求5所述的同轴两反系统分步计算的装调方法，其特征在于，所述定量失调量为定量的沿X轴的偏心调整量时，通过第二公式计算次镜绕X轴的倾斜调整量和绕Y轴的倾斜调整量；所述第二公式为：
其中，A
DE
为次镜绕X轴的倾斜调整量...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴伟，尚建忠，潘瑶，罗自荣，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：发明
国别省市：