本实用新型专利技术涉及EMC测试领域，具体涉及一种EMC智能测试装置，包括箱体和箱门，所述箱体内通过移动组件设有EMC测试盒，所述EMC测试盒内设有EMC测试天线和用于检测EMC测试天线与待测电子产品之间相对距离和相对角度的检测组件，所述箱体外设有离子风机，所述离子风机的出风口通过入风管与箱体内相连通，所述箱体内设有处理器和摄像头，所述箱体外壁设有能够向处理器输入控制命令的显示触控屏，本实用新型专利技术通过设置处理器、移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机和显示触控屏，有利于在测试前去除待测电子产品自身的静电，避免了因电器产品自身的静电放电干扰检测信号导致测试结果不准确的问题。测试结果不准确的问题。测试结果不准确的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种EMC智能测试装置
[0001]本技术涉及EMC测试领域，具体涉及一种EMC智能测试装置。
技术介绍
[0002]EMC测试又叫做电磁兼容，指的是对电子产品在电磁场方面干扰大小和抗干扰能力的综合评定，是产品质量最重要的指标之一，EMC测试目的是检测电器产品所产生的电磁辐射对人体、公共电网以及其他正常工作之电器产品的影响，其主要检测项目包括电磁发射(EMI)和电磁抗干扰度(EMS)，其中电磁抗干扰度的检测项目里面包含了静电放电抗扰度，现有技术中忽略了电器设备在测试前自身积累的静电放电会干扰检测信号，导致测试结果不够准确，因此需要在现有技术上进行改进。
技术实现思路
[0003]针对现有技术存在测试结果不够准确的问题，本技术提供了一种测试结果准确的EMC智能测试装置，该装置通过设置处理器、移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机和显示触控屏，有利于在测试前去除待测电子产品自身的静电，从而提高测试结果的准确性。
[0004]为实现上述技术目的，本技术采用的技术方案如下：
[0005]一种EMC智能测试装置，包括箱体和箱门，所述箱体内通过移动组件设有EMC测试盒，所述EMC测试盒内设有EMC测试天线和用于检测EMC测天线与待测电子产品之间相对距离和相对角度的检测组件，所述箱体外设有离子风机，所述离子风机的出风口通过入风管与箱体内相连通，所述箱体内设有处理器和摄像头，所述箱体外壁设有能够向处理器输入控制命令的显示触控屏，所述移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机和显示触控屏分别与处理器电连接。
[0006]采用上述技术方案的EMC智能测试装置，在测试前，将箱门打开，把待测电子产品放入箱体内，然后打开离子风机，离子风机吹出的风通过入风管吹向待测电子产品将其自身带有的静电去除，在静电去除完毕后关闭箱门，打开EMC测试天线和检测组件开始测试，由于存在不同的待测电子产品在抗干扰测试时，EMC测试天线与产品的距离和角度不同，或需要使EMC测试天线对同一待测电子产品的不同距离和不同角度进行测试的情况，工作人员可以通过显示触控屏观察摄像头传来的箱体内的图像信息和检测组件测得的数据值，根据需求操作显示触控屏向处理器输入控制命令控制移动组件的位置，便于调整EMC测试天线与待测电子产品的距离和角度。
[0007]进一步，所述移动组件包括齿牙杆，所述齿牙杆横向设置于箱体内上部，所述齿牙杆上套接有滑座，所述滑座呈横向中空结构，所述滑座外壁设有电机，所述电机的输出轴穿过滑座延伸至滑座内，所述电机输出轴远离电机一端设有齿轮，所述齿轮与齿牙杆相啮合，所述滑动座底部设有电动推杆，所述电动推杆底部设有安装板，所述抗干扰测试盒位于安装板朝下一面。
[0008]进一步，所述检测组件包括用于检测EMC测试天线与待测电子产品之间相对距离的位移传感器和用于检测EMC测试天线与待测电子产品之间相对角度的角度传感器。
[0009]进一步，所述箱门周边设有密封条，防止测试时EMC测试天线发出的干扰信号送箱门缝隙流出对动作人员或箱体外的其它电子产品造成损伤。
[0010]进一步，所述箱体内壁设有电磁屏蔽层，所述电磁屏蔽层为镀锌钢板，防止EMC测试天线发出的干扰信号穿透箱体，进一步保护箱体外的工作人员和其它电子产品的安全。
[0011]本技术通过设置处理器、移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机和显示触控屏，有利于在测试前去除待测电子产品自身的静电，避免了因电器产品自身的静电放电干扰检测信号导致测试结果不准确的问题，同时设置密封条和电磁屏蔽层有效防止测试信号流出箱体外对箱体外的工作人员和其它电子产品造成损伤。
附图说明
[0012]图1为本技术的一种EMC智能测试装置整体结构示意图；
[0013]图2为本技术的一种EMC智能测试装置移动组件结构示意图；
[0014]图3为图1的A部放大图；
[0015]图4为本技术的一种EMC智能测试装置电路模块构示意图。
[0016]图中标注说明：1
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箱体，2
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箱门，3
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EMC测试盒，4
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离子风机，5
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入风管，6
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摄像头，7
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显示触控屏，8
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齿牙杆，9
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滑座，10
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电机，11
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齿轮，12
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电动推杆，13
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电磁屏蔽层。
具体实施方式
[0017]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本技术作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本技术的限定。
[0018]如图1所示，一种EMC智能测试装置，包括箱体1和箱门2，箱体1内通过移动组件设有EMC测试盒3，EMC测试盒3内设有EMC测试天线和用于检测EMC测天线与待测电子产品之间相对距离和相对角度的检测组件，箱体1外设有离子风机4，离子风机4的出风口通过入风管5与箱体1内相连通，所述箱体1内设有处理器和摄像头6，箱体1外壁设有能够向处理器输入控制命令的显示触控屏7，移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机4和显示触控屏7分别与处理器电连接。
[0019]如图2所示，移动组件包括齿牙杆8，齿牙杆8横向设置于箱体1内上部，齿牙杆8上套接有滑座9，滑座9呈横向中空结构，滑座9外壁设有电机10，电机10的输出轴穿过滑座9延伸至滑座9内，电机10输出轴远离电机10一端设有齿轮11，齿轮11与齿牙杆8相啮合，滑动座底部设有电动推杆12，EMC测试盒3位于电动推杆12底部，电机10和电动推杆12分别与处理器电连接。
[0020]其中，检测组件包括用于检测EMC测试天线与待测电子产品之间相对距离的位移传感器和用于检测EMC测试天线与待测电子产品之间相对角度的角度传感器，位移传感器和角度传感器分别与处理器电连接。
[0021]箱门2周边设有密封条(图中未示出)，防止测试时EMC测试天线发出的干扰信号送箱门缝隙流出对动作人员或箱体外的其它电子产品造成损伤，如图3所示，箱体1内壁设有电磁屏蔽层13，防止EMC测试天线发出的干扰信号穿透箱体，进一步保护箱体外的工作人员
和其它电子产品的安全。
[0022]工作原理：在测试前，将箱门2打开，把待测电子产品放入箱体1内，然后打开离子风机4，离子风机4吹出的风通过入风管5吹向待测电子产品将其自身带有的静电去除，在静电去除完毕后关闭箱门2，打开EMC测试天线开始测试，由于存在不同的待测电子产品在抗干扰测试时，EMC测试天线与产品的距离和角度不同，或需要使EMC测试天线对同一待测电子产品的不同距离和不同角度进行测试的情况，工作人员可以通过显示触控屏7观察摄像头6传来的箱体1内的图像信息，并通过显示触控屏7向处理器输入控制命令控制电机10正转或反转来控制滑座9水平方向上的位本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种EMC智能测试装置，包括箱体(1)和箱门(2)，其特征在于，所述箱体(1)内通过移动组件设有EMC测试盒(3)，所述EMC测试盒(3)内设有EMC测试天线和用于检测EMC测天线与待测电子产品之间相对距离和相对角度的检测组件，所述箱体(1)外设有离子风机(4)，所述离子风机(4)的出风口通过入风管(5)与箱体(1)内相连通，所述箱体(1)内设有处理器和摄像头(6)，所述箱体(1)外壁设有能够向处理器输入控制命令的显示触控屏(7)，所述移动组件、检测组件、EMC测试天线、摄像头、离子风机(4)和显示触控屏(7)分别与处理器电连接。2.根据权利要求1所述的一种EMC智能测试装置，其特征在于，所述移动组件包括齿牙杆(8)，所述齿牙杆(8)横向设置于箱体(1)内上部，所述齿牙杆(8)上套接有滑座(9)，所述滑座(9)呈横向中空结构，所述滑座(9)外壁设有电机(10)，...
【专利技术属性】
技术研发人员：龚从平，张九林，代中，刘亚兰，万驰浩，
申请(专利权)人：重庆哥尔摩工程技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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