一种电子元器件测试用散热设备制造技术

技术编号:36270855 阅读:53 留言:0更新日期:2023-01-07 10:12
本发明专利技术公开了一种电子元器件测试用散热设备,包括集尘储风仓、L形放置条和基板等,本发明专利技术属于电子元器件测试散热技术领域,电路板产生的热量可以使电路板底部的热膨胀接触块膨胀,从而增加电路板底壁与L形放置条之间的间隙,增加冷风从电路板底部流入的风量,测试时产生的热量同样可以使电路板两侧的热回缩接触块进行收缩,减小L形放置条与电路板之间的接触面积,从而增大电路板的散热面积,同时降低对冷风的阻力。降低对冷风的阻力。降低对冷风的阻力。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件测试用散热设备


[0001]本专利技术属于电子元器件测试散热
,具体是指一种电子元器件测试用散热设备。

技术介绍

[0002]在对电路板上的电子元件进行测试时,经常需要测试电路板的极限工作状态,因此测试过程不仅持续时间长而且会产生大量的热量,因此在测试期间需要配备相应的散热设备,来对电路板进行降温,从而得到电路板在正常散热条件下的极限工作状态,但是目前的散热设备无法做到对电路板的全方位散热降温,尤其是对于双层电路板而言,测试时间持续更长,产生的热量更多,目前的测试散热设备完全无法适应双层电路板的测试工作,因此急需一种电子元器件测试用散热设备来解决上述问题。

技术实现思路

[0003]针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本专利技术提出了一种电子元器件测试用散热设备,来解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]本专利技术采取的技术方案如下:本专利技术提出了一种电子元器件测试用散热设备,包括集尘储风仓、L形放置条和基板,集尘储风仓安装在基板的顶壁上,L形放置条位于集尘储风仓的上方,L形放置条的内侧水平侧壁上安装有热膨胀接触块和弹性吸附管,热膨胀接触块和弹性吸附管保持间隔布置,L形放置条的内侧竖直侧壁上安装有热回缩接触块,弹性吸附管的底部与负压泵连接,负压泵安装在L形放置条内,L形放置条的一端设置有引流坡面。
[0005]作为本专利技术的一种优选技术方案,集尘储风仓的顶壁呈开口状,集尘储风仓内设有传动轴,传动轴穿过集尘储风仓的两侧侧壁,集尘储风仓的另外两侧侧壁上设有出风孔,传动轴与集尘储风仓的侧壁保持转动连接。
[0006]作为本专利技术的一种优选技术方案,传动轴上安装有集尘挡片,集尘挡片绕着传动轴的截面圆心呈圆周阵列布置,集尘挡片沿着传动轴的轴线方向呈线性阵列布置。
[0007]作为本专利技术的一种优选技术方案,集尘储风仓的两侧外壁上设有储能仓,储能仓内设有扇叶,扇叶安装在传动轴的端部,储能仓沿着集尘储风仓的中间轴线呈对称布置,单侧相邻的储能仓之间通过连接管连接。
[0008]作为本专利技术的一种优选技术方案,扇叶与传动轴的连接处设有转向限位件,转向限位件限制扇叶的转动方向。
[0009]作为本专利技术的一种优选技术方案,最外侧的储能仓通过输风管与冷风发生元件连接,输风管与冷风发生元件的连接处安装有单向阀。
[0010]作为本专利技术的一种优选技术方案,冷风发生元件设于集尘储风仓的两侧。
[0011]作为本专利技术的一种优选技术方案,L形放置条设有两组,L形放置条整体呈对称布置,L形放置条的外侧侧壁上安装有T形连接板,T形连接板的顶部和底部设有散热风仓,散热风仓的一侧侧壁上设有散热风管,顶部的散热风仓上的散热风管的出风口向下倾斜,底
部的散热风仓上的散热风管的出风口向上倾斜,散热风仓呈空心状,散热风仓通过冷风软管与冷风发生元件连接。
[0012]作为本专利技术的一种优选技术方案,顶部的散热风仓的顶壁上安装有吊板,吊板的顶部与移动板的底壁连接,移动板的侧壁上设有丝杆螺母,冷风发生元件和集尘储风仓之间设有支撑立板,支撑立板的顶部侧壁上安装有传动丝杆和连接杆,传动丝杆两侧的螺纹方向相反。
[0013]作为本专利技术的一种优选技术方案,传动丝杆与支撑立板保持转动连接,连接杆支撑立板保持固定连接,连接杆设于传动丝杆的两侧,连接杆穿过移动板,连接杆与移动板之间保持滑动连接,传动丝杆穿过移动板和丝杆螺母,支撑立板的侧壁上安装有驱动电机,传动丝杆与驱动电机保持转动连接。
[0014]本专利技术提出的一种电子元器件测试用散热设备的有益效果如下:(1)电路板产生的热量可以使电路板底部的热膨胀接触块膨胀,从而增加电路板底壁与L形放置条之间的间隙,增加冷风从电路板底部流入的风量。
[0015](2)测试时产生的热量同样可以使电路板两侧的热回缩接触块进行收缩,减小L形放置条与电路板之间的接触面积,从而增大电路板的散热面积,同时降低对冷风的阻力。
[0016](3)散热风管流出的冷风吹到电路板上后,一部分风流接触到电路板后向着远离电路板的方向流动,其中向下流动的风流进入到集尘储风仓后,可以推动传动轴转动,从而带动扇叶转动产生风流,扇叶产生的风流进入到冷风发生元件后,可以提高散热风流的风速和风量,提高散热效率。
[0017](4)转向限位件可以限制扇叶的转动方向,防止输风管内发生逆流,同时冷风发生元件上的单向阀可以防止冷风发生元件内的冷风流入储能仓内。
附图说明
[0018]图1为本专利技术提出的一种电子元器件测试用散热设备的整体结构示意图;图2为本专利技术提出的吊板和支撑立板的整体结构示意图;图3为图2中A部分的局部放大图;图4为本专利技术提出的L形放置条的整体结构示意图;图5为图4中B部分的局部放大图;图6为本专利技术提出的L形放置条的剖面图;图7为本专利技术提出的集尘储风仓的整体结构示意图;图8为本专利技术提出的集尘储风仓的内部结构示意图;图9为本专利技术提出的扇叶和转向限位件的整体结构示意图。
[0019]其中,1、基板,2、集尘储风仓,201、传动轴,202、集尘挡片,203、出风孔,204、储能仓,205、扇叶,206、转向限位件,207、连接管,208、输风管,209、单向阀,210、冷风发生元件,3、L形放置条,301、引流坡面,302、热膨胀接触块,303、热回缩接触块,304、弹性吸附管,305、负压泵,306、T形连接板,307、散热风仓,308、散热风管,4、吊板,5、移动板,6、丝杆螺母,7、传动丝杆,8、连接杆,9、驱动电机,10、支撑立板,11、冷风软管。
[0020]附图用来提供对本专利技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的限制。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例;基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0022]作为本专利技术的一个新的实施例,如图1

图9所示,本专利技术提出了一种电子元器件测试用散热设备,包括集尘储风仓2、L形放置条3和基板1,集尘储风仓2安装在基板1的顶壁上,L形放置条3位于集尘储风仓2的上方,L形放置条3的内侧水平侧壁上安装有热膨胀接触块302和弹性吸附管304,热膨胀接触块302和弹性吸附管304保持间隔布置,L形放置条3的内侧竖直侧壁上安装有热回缩接触块303,弹性吸附管304的底部与负压泵305连接,负压泵305安装在L形放置条3内,L形放置条3的一端设置有引流坡面301。
[0023]如图7和图8所示,集尘储风仓2的顶壁呈开口状,集尘储风仓2内设有传动轴201,传动轴201穿过集尘储风仓2的两侧侧壁,集尘储风仓2的另外两侧侧壁上设有出风孔203,传动轴201与集尘储风仓2的侧壁保持转动连接。
[002本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件测试用散热设备,包括集尘储风仓(2)、L形放置条(3)和基板(1),其特征在于:所述集尘储风仓(2)安装在基板(1)的顶壁上,所述L形放置条(3)位于集尘储风仓(2)的上方,所述L形放置条(3)的内侧水平侧壁上安装有热膨胀接触块(302)和弹性吸附管(304),所述热膨胀接触块(302)和弹性吸附管(304)保持间隔布置,所述L形放置条(3)的内侧竖直侧壁上安装有热回缩接触块(303),所述弹性吸附管(304)的底部与负压泵(305)连接,所述负压泵(305)安装在L形放置条(3)内,所述L形放置条(3)的一端设置有引流坡面(301)。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试用散热设备,其特征在于:所述集尘储风仓(2)的顶壁呈开口状,所述集尘储风仓(2)内设有传动轴(201),所述传动轴(201)穿过集尘储风仓(2)的两侧侧壁,所述集尘储风仓(2)的另外两侧侧壁上设有出风孔(203),所述传动轴(201)与集尘储风仓(2)的侧壁保持转动连接。3.根据权利要求2所述的一种电子元器件测试用散热设备,其特征在于:所述传动轴(201)上安装有集尘挡片(202),所述集尘挡片(202)绕着传动轴(201)的截面圆心呈圆周阵列布置,所述集尘挡片(202)沿着传动轴(201)的轴线方向呈线性阵列布置。4.根据权利要求3所述的一种电子元器件测试用散热设备,其特征在于:所述集尘储风仓(2)的两侧外壁上设有储能仓(204),所述储能仓(204)内设有扇叶(205),所述扇叶(205)安装在传动轴(201)的端部,所述储能仓(204)沿着集尘储风仓(2)的中间轴线呈对称布置,单侧相邻的所述储能仓(204)之间通过连接管(207)连接。5.根据权利要求4所述的一种电子元器件测试用散热设备,其特征在于:所述扇叶(205)与传动轴(201)的连接处设有转向限位件(206),所述转向限位件(206)限制扇叶(205)的转动方向。6.根据权利要求5所述的一种电子元器件测试用散...

【专利技术属性】
技术研发人员:佴学军
申请(专利权)人:扬州创客自动化设备有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1