一种应变式引伸计用校准装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种应变式引伸计校准用校准装置，包括装置支架，装置支架上设置有用于夹持应变式引伸计下端的下夹持结构和用于夹持应变式引伸计上端的上夹持结构，装置支架还包括动作输出端可以左右移动调整和前后移动调整的十字滑台，下夹持结构固定于十字滑台的动作输出端上，上夹持结构、下夹持结构均包括一对能够沿应变式引伸计径向相对移动和相背移动的夹持块，上夹持结构、下夹持结构还包括驱动对应一对夹持块同步相对移动和同步相背移动的夹持块驱动机构。本发明专利技术的目的在于提供一种能够实现对应变式引伸计进行校准的校准装置及使用该校准装置的校准方法。置及使用该校准装置的校准方法。置及使用该校准装置的校准方法。

【技术实现步骤摘要】
一种应变式引伸计用校准装置及校准方法


[0001]本专利技术涉及一种计量校准领域，尤其涉及一种应变式引伸计用校准装置及校准方法。

技术介绍

[0002]引伸计也称电子对中测量装置，其作用是为了测量实际测试加载链的角度和轴线与试验系统载荷链轴线的偏离，可以应用于静态材料试验机和动态试验机。
[0003]比如说对于拉伸试验机而言，拉伸试验机包括试验机机架，试验机机架上设置有上夹持结构和下夹持结构，使用时，将待拉伸的试件两端分别与上夹持结构和下夹持结构相连，然后上夹持结构在相应驱动作用下上行，从而对试件施加轴向上的拉力，为了实现对试件抗拉强度的准确测量，需要保证上夹持结构的上移方向与试件自身长度方向是完全完全一致的，也就是说需要保证上夹持结构、下夹持结构是同轴线设置的，而上夹持结构、下夹持结构是否同轴，就需要使用引伸计来进行测量。
[0004]现有的应变式引伸计1如图1所示，包括棒状结构的主体3，其中主体的中间位置为空心结构，在主体的内腔壁上贴设有多组沿主体长度方向间隔布置的应变片组2，每个应变片组均包括四个沿周向间隔设置的应变片，其中相对布置的两个应变片为一对，也就是说在主体内腔的某个高度位置，贴有两对应变片，其中一对应变片中的两个应变片前后布置，另外一对应变片中的两个应变片左右布置，在本专利文件中，定义其中一对应变片为第一对应变片4，另外一对应变片为第二对应变片5。
[0005]在需要测量拉伸试验机的上、下夹持结构是否同轴时，上夹持结构夹持引伸计的上端，下夹持结构夹持引伸计的下端，如果上夹持结构、下夹持结构同轴，那么引伸计的主体应该是竖直的，对应一对应变片的变形读数应该相同；如果上夹持结构、下夹持结构不同轴，引伸计会发生变形，以引伸计自下至上朝左弯斜为例，则对应一对应变片中，位置靠左的应变片和位置靠右的应变片的读数就会不同，通过对应的读数差值，可以知道上夹持结构、下夹持结构的偏斜情况。
[0006]现有技术存在的问题在于：应变式引伸计作为一种测量设备，从使用上来看，需要在一定时间段内对其进行校准溯源，才能保证其使用精度，然而目前缺少对这种将应变片贴设于内腔壁上的应变式引伸计进行校准的设备。

技术实现思路

[0007]本专利技术的目的在于提供一种能够实现对应变式引伸计进行校准的校准装置；本专利技术的目的还在于提供一种使用该校准装置的校准方法。
[0008]为解决上述技术问题，本专利技术中应变式引伸计用校准装置的技术方案如下：一种应变式引伸计校准用校准装置，包括装置支架，装置支架上设置有用于夹持应变式引伸计下端的下夹持结构和用于夹持应变式引伸计上端的上夹持结构，装置支架还包括动作输出端可以左右移动调整和前后移动调整的十字滑台，上夹持结构或下夹持结构
固定于十字滑台的动作输出端上，上夹持结构、下夹持结构均包括一对能够沿应变式引伸计径向相对移动和相背移动的夹持块，上夹持结构、下夹持结构还包括驱动对应一对夹持块同步相对移动和同步相背移动的夹持块驱动机构。
[0009]进一步的，一对夹持块的相对侧具有用于夹持应变式引伸计的V形夹持面。
[0010]进一步的，夹持块驱动机构包括水平设置的夹持块驱动丝杠，夹持块驱动丝杠与对应一对夹持块螺纹连接，夹持块驱动机构还包括与夹持块驱动丝杠传动连接的丝杠驱动电机。
[0011]进一步的，装置支架包括装置底座和位于装置底座上侧的装置横梁，上夹持结构固定于装置横梁下端十字滑台固定于装置底座上端，下夹持结构设置于十字滑台上端。
[0012]进一步的，装置底座上固定有装置立柱，装置横梁沿上下方向导向移动装配于装置立柱上，装置立柱的顶部固定有顶部横梁，顶部横梁上设置有驱动装置横梁上下移动的横梁驱动机构。
[0013]进一步的，横梁驱动机构包括竖向布置的驱动缸，驱动缸的活塞杆与装置横梁相连。
[0014]本专利技术中校准方法的技术方案为：一种校准方法，该方法包括以下步骤，在对应变式引伸计进行校准时，第一步，将标准应变式引伸计的上端夹持固定于上夹持结构上，将标准应变式引伸计的下端夹持固定于下夹持结构上，通过对应十字滑台调整下夹持结构的水平位置，使得标准应变式引伸计的各位置的第一对应变片和第二对应变片中的各应变片的读数相同；第二步，松开上夹持结构和下夹持结构，将待校准应变式引伸计的上下两端分别夹持于上夹持结构和下夹持结构上，对待校准应变式引伸计进行一次校准。
[0015]进一步的，第三步，将标准应变式引伸计的上端夹持固定于上夹持结构上，将标准应变式引伸计的下端夹持固定于下夹持结构上，通过对应十字滑台调整下夹持结构的水平位置，使得标准应变式引伸计的各位置的第一对应变片的两个应变片读数相同，第二对应变片的两个应变片读数不同，并记录应变片读数；或者，各位置的第一对应变片的两个应变片读数不同，第二对应变片的两个应变片读数相同，并记录应变片读数；或者，各位置的第一对应变片的两个应变片读数不同，第二对应变片的两个应变片读数也不同，并记录应变片读数；第四步，松开上夹持结构和下夹持结构，将待校准应变式引伸计的上下两端分别夹持于上夹持结构和下夹持结构上，对待校准应变式引伸计进行二次校准。
[0016]本专利技术的有益效果为：本专利技术的关键点有两个，一个是十字滑台的使用，一个是上下夹持结构的夹持块的同步相对和相背动作，在对待校准应变式引伸计进行校准时，首先使用一个标准应变式引伸计，标准应变式引伸计是计量单位中存放的不需要进行校准的应变式引伸计，上夹持结构夹持住标准应变式引伸计的上端，通过十字滑台调整下夹持结构的水平位置，由于使用了标准应变式引伸计，因此当标准应变式引伸计的各位置的第一对应变片和第二对应变片中的各应变片的读数相同，说明上夹持结构与下夹持结构处于同轴线状态，以此定位下夹持结构相对上夹持结构的位置，此时松开上夹持结构和下夹持结构，将待校准应变式引伸计的上下两端夹持固定于上夹持结构和下夹持结构上，由于上夹持结构、下夹持结构的对应一对夹持块是同步相对移动和相背移动的，因此上夹持结构、下夹持结构重新对校准应变式引伸计两端夹持固定后，上夹持结构、下夹持结构仍为同轴线状态，
此时待校准应变式引伸计的对应位置的第一对应变片、第二对应变片的读数也应该跟标准应变式引伸计的对应位置的第一对应变片、第二对应变片的读数相同，因此可以通过标准应变式引伸计的读数比较来对待校准应变式引伸计的读数对比来对待校准应变式引伸计进行校准。
附图说明
[0017]通过参考附图阅读下文的详细描述，本公开示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本公开的若干实施方式，并且相同或对应地标号表示相同或对应地部分，其中：图1是本专利技术
技术介绍
中应变式引伸计的结构示意图；图2是本专利技术的一个实施例的使用状态图；图3是图2中待校准应变式引伸计与上夹持结构的配合示意图；附图标记说明：1、应变式引伸计；2、应变片组；3、主体；4、第一对应变片；5、第二对应变片；6、驱动缸；7、活塞杆；8、顶部横梁；9、装置横梁；10、立柱；11、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应变式引伸计校准用校准装置，其特征在于：包括装置支架，装置支架上设置有用于夹持应变式引伸计下端的下夹持结构和用于夹持应变式引伸计上端的上夹持结构，装置支架还包括动作输出端可以左右移动调整和前后移动调整的十字滑台，下夹持结构固定于十字滑台的动作输出端上，上夹持结构、下夹持结构均包括一对能够沿应变式引伸计径向相对移动和相背移动的夹持块，上夹持结构、下夹持结构还包括驱动对应一对夹持块同步相对移动和同步相背移动的夹持块驱动机构。2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于：一对夹持块的相对侧具有用于夹持应变式引伸计的V形夹持面。3.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于：夹持块驱动机构包括水平设置的夹持块驱动丝杠，夹持块驱动丝杠与对应一对夹持块螺纹连接，夹持块驱动机构还包括与夹持块驱动丝杠传动连接的丝杠驱动电机。4.根据权利要求1~3任意一项所述的校准装置，其特征在于：装置支架包括装置底座和位于装置底座上侧的装置横梁，上夹持结构固定于装置横梁下端十字滑台固定于装置底座上端，下夹持结构设置于十字滑台上端。5.根据权利要求4所述的校准装置，其特征在于：装置底座上固定有装置立柱，装置横梁沿上下方向导向移动装配于装置立柱上，装置立柱的顶部固定有顶部横梁，顶部横梁上设置有驱动装置横梁上下移动的横梁驱动机构。6.根据权利要求5所述的校准装置，其特征在于：横梁驱动机构包括竖向布...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯海盈，王一鸣，张中杰，张华伟，孙晓萍，赵辉，付翀，任翔，秦国君，张晓锋，杨楠，李海滨，王振宇，赵伟明，单海娣，李冰，范博，李晓东，闫迪，王雪杨，王广俊，
申请(专利权)人：河南省计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：