相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品制造方法及图纸

本申请涉及一种相成分表征方法、装置、设备、存储介质和程序产品。获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量，根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各相成分中各元素的原子占比，然后根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量，得到待检测粉末中各元素的质量占比；其中，待检测粉末为无限固溶体。该方法通过考虑待检测粉末中各相成分的晶格常数随着第一元素的原子占比的变化而变化，能够快速准确地计算出待检测粉末中各元素质量占比。素质量占比。素质量占比。

【技术实现步骤摘要】
相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品


[0001]本申请涉及材料检测
，特别是涉及一种相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品。

技术介绍

[0002]金属陶瓷是由陶瓷硬质相和金属/合金粘结相组成的复合结构材料，主要包括TiC基和Ti(C，N)基两种金属陶瓷，由于制成品中相种类复杂，其原料的质量控制十分重要。
[0003]以Ti(C，N)基金属陶瓷为例，主要原料为Ti(C，N)粉末，其相成分对刀具产品加工性能影响十分显著。但Ti(C，N)粉末作为无限固溶合金粉末，在粉末原料制备工艺不同，或受到制备工艺稳定性影响时，可能同时以不同C/N比例的形式存在；而这种不同C/N比例导致的相变化会影响金属陶瓷烧结制品的工艺控制。因此，有必要研究一种稳定的高效的Ti(C,N)相成分的表征方法。
[0004]另外，传统技术中，通常利用电感耦合等离子体发射光谱仪、能谱分析仪、荧光光谱仪等仪器测定固溶相中元素的含量，但C/N均是轻元素，现有方法均难以快速准确地测定其含量。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品，能够准确地测定Ti(C，N)粉末中的多相成分及C/N含量。
[0006]第一方面，本申请提供了一种相成分测定方法，该方法包括：
[0007]获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量；待检测粉末为无限固溶体；
[0008]根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各相成分中各元素的原子占比；
[0009]根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量，得到待检测粉末中各元素的质量占比。
[0010]在其中一个实施例中，在获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量之前，该方法还包括：
[0011]检测待检测粉末中指定元素的含量；指定元素表示对待检测粉末中各相成分的晶格常数存在影响的元素；
[0012]若指定元素的含量小于预设阈值，则获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量。
[0013]在其中一个实施例中，待检测粉末为Ti(C，N)粉末。
[0014]在其中一个实施例中，获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量，包括：
[0015]获取待检测粉末在预设条件下扫描得到的衍射谱；
[0016]对衍射谱进行全谱拟合分析，得到拟合结果；
[0017]基于拟合结果，获取待检测粉末中各相成分的晶格常数和相含量。
[0018]在其中一个实施例中，根据相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定相成分中各元素的原子占比，包括：
[0019]针对任一相成分，从对应关系中获取相成分的晶格常数的相邻晶格常数；
[0020]根据相邻晶格常数、相邻晶格常数对应的第一元素的原子占比和相成分的晶格常数，确定相成分中第一元素的原子占比；
[0021]根据相成分中第一元素的原子占比，确定相成分中各元素的原子占比。
[0022]在其中一个实施例中，该方法还包括：
[0023]从标准数据库中获取第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系；和/或，
[0024]通过实验获取第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系。
[0025]第二方面，本申请还提供了一种相成分测定装置，该装置包括：
[0026]第一获取模块，用于获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量；待检测粉末为无限固溶体；
[0027]第二获取模块，用于根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各相成分中各元素的原子占比；
[0028]确定模块，用于根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量，得到待检测粉末中各元素的质量占比。
[0029]第三方面，本申请实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面实施例提供的任一项方法的步骤。
[0030]第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面实施例提供的任一项方法的步骤。
[0031]第五方面，本申请实施例提供计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面实施例提供的任一项方法的步骤。
[0032]本申请实施例提供的一种相成分测定方法、装置、设备、存储介质和程序产品，获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量，根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各相成分中各元素的原子占比，然后根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量，得到待检测粉末中各元素的质量占比；其中，待检测粉末为无限固溶体。该方法通过考虑待检测粉末中各相成分的晶格常数随着第一元素的原子占比的变化而变化，因此，可根据预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系确定第一元素的原子占比，进而获得待检测粉末中各相成分的元素的原子占比，并最终根据待检测粉末中各相成分的元素的原子占比和各相成分的相含量获得待检测粉末中各元素的质量占比，检测方法简单快速、准确性高。
附图说明
[0033]图1为一个实施例中相成分测定方法的应用环境图；
[0034]图2为一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0035]图3为NaCl晶体的结构示意图；
[0036]图4为另一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0037]图5为另一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0038]图6为一个实施例中Ti(C，N)的衍射谱；
[0039]图7为另一个实施例中Ti(C，N)的衍射谱；
[0040]图8为另一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0041]图9为另一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0042]图10为另一个实施例中相成分测定方法的流程示意图；
[0043]图11为一个实施例中相成分测定装置的结构框图；
[0044]图12为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0045]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0046]本申请实施例提供的相成分测定方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，检测设备102通过服务器104进行通信。数据存储系统可以存储函数计算平台104需要处理的数据。数据存储系统可以集成在服务器104上，也可以放在云上或其他网络服务器上。其中，检测设备102可以但不限于是X射线衍射仪等设备。服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相成分测定方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量；所述待检测粉末为无限固溶体；根据各所述相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各所述相成分中各元素的原子占比；根据各所述相成分中各元素的原子占比和各所述相成分的相含量，得到所述待检测粉末中各元素的质量占比。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量之前，所述方法还包括：检测所述待检测粉末中指定元素的含量；所述指定元素表示对所述待检测粉末中各相成分的晶格常数存在影响的元素；若所述指定元素的含量小于预设阈值，则获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述待检测粉末为Ti(C，N)粉末。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量，包括：获取所述待检测粉末在预设条件下扫描得到的衍射谱；对所述衍射谱进行全谱拟合分析，得到拟合结果；基于所述拟合结果，获取所述待检测粉末中各相成分的晶格常数和相含量。5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各所述相成分中各元素的原子占比，包括：针对任一相成分，从所述对应关系中获取所述相成分的晶格常数的相...

【专利技术属性】
技术研发人员：江嘉鹭，王海燕，张晓丹，
申请(专利权)人：厦门钨业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：