变频器测试系统技术方案

本申请提供一种变频器测试系统，包括：承载待测变频器的测试托盘，包括端子安装座和第一端子部；输送单元；测试工位处的对接测试单元，包括：固定架；移动平台；用于驱动移动平台移动的第一驱动装置；对接模组，包括第二端子部；第二驱动装置，用于驱动对接模组移动，以使第二接线端子与第一接线端子对接；以及在完成测试后断开第二端子部与第一端子部的连接；脱扣机构，与移动平台连接，可随移动平台移动至抵接在端子安装座上，以固定测试托盘。其中，在对待测变频器进行测试时，利用脱扣机构先固定测试托盘，第二端子部再与第一端子部对接；在完成测试后，第二端子部先断开与第一端子部的连接，脱扣机构再与端子安装座分离。脱扣机构再与端子安装座分离。脱扣机构再与端子安装座分离。

【技术实现步骤摘要】
变频器测试系统


[0001]本申请涉及测试领域，更为具体的，涉及一种测试系统，特别是用于变频器的测试系统。

技术介绍

[0002]变频器的生产装配通常在流水线上进行，完成装配的变频器产品在出厂前，均需要对变频器产品的各项性能参数进行测试，相关技术中的测试方法是利用自动流水线进行自动对接测试。在进行测试前，将变频器的接线端与测试托盘的端子部连接；承载着待测变频器的测试托盘被流水线移动到测试工位后，将测试托盘固定在测试工位处，测试工位上的对接端子向下移动，与测试托盘上的端子部对接，进行上电测试；在完成测试后，对接端子断开与测试托盘上的端子的连接，测试托盘沿流水线移动到下一测试工位。
[0003]但是，上述方法还存在着一些问题：由于相互对接的端子之间存在插拔力，在测试完成后拔出对接端子时，测试托盘会受到向上的力，从而导致测试托盘发生振动，在一些情况下，甚至存在测试托盘从流水线上掉落的风险，从而影响测试系统运行的稳定性和安全性。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种测试系统。下面对本申请实施例涉及的各个方面进行介绍。
[0005]第一方面，提供一种变频器测试系统，包括：测试托盘，用于承载待测变频器，所述测试托盘上包括端子安装座以及固定在所述端子安装座中的第一端子部，所述第一端子部用于将所述待测变频器连接到测试端；输送单元，用于将所述测试托盘移动到至少一个测试工位处；对接测试单元，设置在所述测试工位处，用于与所述第一端子部对接，实现所述待测变频器的上电测试，其特征在于，所述对接测试单元包括：固定架；移动平台，与所述固定架连接，并可沿所述固定架上下移动；第一驱动装置，用于驱动所述移动平台移动；对接模组，连接到所述测试端，包括第二端子部，可与所述第一端子部对接，以对所述待测变频器进行上电测试；第二驱动装置，与所述对接模组连接，用于驱动所述对接模组移动，以使所述第二端子部与所述第一端子部对接；以及，在完成测试后断开所述第二端子部与所述第一端子部的连接；脱扣机构，与所述移动平台连接，可随所述移动平台移动至抵接在所述端子安装座上，以固定所述测试托盘；其中，在对所述待测变频器进行测试时，所述脱扣机构先固定所述测试托盘，所述第二端子部再与所述第一端子部对接；在完成测试后，所述第二端子部先断开与所述第一端子部的连接，所述脱扣机构再与所述端子安装座分离。
[0006]可选地，所述固定架上设置有第一导轨，所述移动平台位于所述第一导轨上，可沿所述第一导轨移动。
[0007]可选地，所述第一驱动装置包括第一气缸，所述第一气缸的固定端与所述固定架连接，所述第一气缸的移动端与所述移动平台连接，以驱动所述移动平台沿所述第一导轨移动。
[0008]可选地，所述脱扣机构包括：压板；弹簧，设置在所述压板与所述移动平台之间，当所述脱扣机构随所述移动平台移动至抵接在所述端子安装座上时，所述弹簧被压缩，以使所述脱扣机构与所述端子安装座紧密接触。
[0009]可选地，所述移动平台上包括第二导轨，所述脱扣机构设置在第二导轨上，可沿所述第二导轨移动。
[0010]可选地，所述脱扣机构还包括凸设于所述压板的至少一个定位销；所述端子安装座中包括至少一个导套，当所述脱扣机构移动至抵接在所述端子安装座上时，所述定位销的台阶与所述导套配合，以限定所述脱扣机构的位置。
[0011]可选地，所述第二驱动装置包括第二气缸，所述第二气缸的固定端与所述移动平台连接，所述第二气缸的移动端与所述对接模组连接。
[0012]可选地，所述对接模组包括：端子固定块，用于安装所述第二端子部；连接块，设置在所述端子固定块远离所述第二端子部的一侧；至少一个导杆，设置在所述端子固定块远离所述第二端子部的一侧；所述移动平台上设置有至少一个导向孔，当所述第二驱动装置驱动所述对接模组移动时，所述导杆与所述导向孔配合，以约束所述对接模组的移动。
[0013]本申请实施例提供的测试系统通过输送单元与对接测试单元的配合，实现流水线上的变频器的自动对接测试。在完成测试后拔出端子时，利用脱扣机构将测试托盘固定，使得在拔出时托盘不会受到向上运动的拔出力的影响，以避免测试托盘受力产生振动而导致测试托盘从输送单元上掉落，提高测试系统运行的稳定性和安全性，并进一步减少在此过程中人力的参与，提高人员安全性和生产效率。
附图说明
[0014]图1是本申请实施例提供的测试系统的部分结构示意图。
[0015]图2是本申请实施例提供的测试托盘的结构示意图。
[0016]图3是图2所示的测试托盘中的第一端子部以及端子安装座的局部爆炸视图。
[0017]图4是图1中区域A的局部放大视图。
[0018]图5是图4中的对接测试单元的爆炸视图。
[0019]图6是图5中的移动平台的局部爆炸视图。
[0020]图7是图5中的脱扣机构的局部爆炸视图。
[0021]图8是图5中的对接模组的局部爆炸视图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0023]有鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种变频器测试系统。下面结合附图，对本申请实施例提供的测试系统进行详细的说明。这里，变频器测试系统是指变频器生产装配完成后进入市场前对变频器进行各种性能测试的系统，测试包括但不限于老化测试、绝缘测试和/或IO测试等等。
[0024]图1为本申请实施例提供的测试系统的部分结构示意图，该测试系统包括：输送单元1，测试托盘2以及对接测试单元3。可以理解的是，该结构示意图仅示出与本申请方案相
关的测试部分。
[0025]在利用图1中的测试系统进行测试时，先将待测变频器固定在测试托盘2上，由输送单元1带动测试托盘2移动，当测试托盘2上的待测变频器被输送单元1移动到测试工位4/4
’
后，设置在测试工位处的对接测试单元3与测试托盘2对接，并对待测变频器进行测试。
[0026]输送单元1包括框架11，输送链12以及输送链驱动机构(未示出)。其中，框架11用于承载设置在其上的输送链12、输送链驱动机构以及与输送单元1连接的其他零部件。
[0027]输送链12用于移动放置在其上的测试托盘2。输送链12可以沿轨道111的延伸方向设置在轨道111中。输送链12的高度可以设置为高于轨道111的上表面，以使测试托盘2能够放置在输送链12上。在一些实施方式中，输送链12可以为倍速链。
[0028]输送链驱动机构用于驱动输送链12移动。作为一种实现方式，输送链驱动机构可以包括驱动电机以及驱动链轮，其中驱动电机可以固定在框架11上，驱动电机的输出轴与驱动链轮连接，驱动链轮与输送链12啮合，使得当驱动电机旋转时能够驱动输送链移动。当然，以上所述仅仅是输送链驱动架构的一种可行的方式而已，本申请实施例对输送链驱动机构的具体结构不做限定，本领域公知的驱动方式本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种变频器测试系统，包括：测试托盘，用于承载待测变频器，所述测试托盘上包括端子安装座以及固定在所述端子安装座中的第一端子部，所述第一端子部用于将所述待测变频器连接到测试端；输送单元，用于将所述测试托盘移动到至少一个测试工位处；对接测试单元，设置在所述测试工位处，用于与所述第一端子部对接，实现所述待测变频器的上电测试，其特征在于，所述对接测试单元包括：固定架；移动平台，与所述固定架连接，并可沿所述固定架上下移动；第一驱动装置，用于驱动所述移动平台移动；对接模组，连接到所述测试端，包括第二端子部，可与所述第一端子部对接，以对所述待测变频器进行上电测试；第二驱动装置，与所述对接模组连接，用于驱动所述对接模组移动，以使所述第二端子部与所述第一端子部对接；以及，在完成测试后断开所述第二端子部与所述第一端子部的连接；脱扣机构，与所述移动平台连接，可随所述移动平台移动至抵接在所述端子安装座上，以固定所述测试托盘；其中，在对所述待测变频器进行测试时，所述脱扣机构先固定所述测试托盘，所述第二端子部再与所述第一端子部对接；在完成测试后，所述第二端子部先断开与所述第一端子部的连接，所述脱扣机构再与所述端子安装座分离。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述固定架上设置有第一导轨，所述移动平台位于所述第一导轨上，可沿所述第一导轨移动。3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一驱动装置包括第一气缸，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈剑，梁宇强，徐斌星，许亚，
申请(专利权)人：浙江海利普电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：