一种信号的驱动和负载的验证方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及电子设计自动化技术领域，特别是涉及一种信号的驱动和负载的验证方法及系统。其通过获取待测电路的不同层中的子电路模块，对于不包括子模块的子模块电路进行查找信号并获取模块的所属关系，以查找得到的信号为负载信号，计算生成负载信号的T个驱动信号，进而得到负载信号、驱动信号、驱动信号在待测电路中的位置以及子电路模块所属关系的映射关系，比较该映射关系与标准的映射关系是否相同，不相同时记录映射关系，否则该映射关系验证通过，通过该方法能够自动查找电路中的所有信号，依次比较待验证的映射关系表和标准映射关系表，保证验证生成信号的负载和驱动的功能的正确性、完备性和效率。完备性和效率。完备性和效率。

【技术实现步骤摘要】
一种信号的驱动和负载的验证方法及系统


[0001]本专利技术涉及电子设计自动化
，特别是涉及一种信号的驱动和负载的验证方法及系统。

技术介绍

[0002]在集成电路设计前端EDA仿真软件产品测试中，信号的驱动和负载的测试尤其关键。测试人员需要验证电子设计自动化软件查找信号的驱动和负载的正确性和高效性。大型ASIC系统的设计使用硬件描述语言来描述电路的功能。信号之间的连接关系非常复杂，定位错误非常耗时，前端仿真软件可以帮助客户快速定位问题，因此前端仿真软件的正确性和效率就是关键因素。
[0003]但目前没有高效的方法来验证仿真软件的结果，开发测试人员无法保证测试软件查找信号驱动和负载的效率、正确性、完备性。

技术实现思路

[0004]针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种信号的驱动和负载的验证方法，所述方法包括以下步骤：S100，获取待测电路E，所述待测电路E包括Q层电路{E1,E2,
…
,E
q
,
…
,E
Q
}，E
q...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号的驱动和负载的验证方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S100，获取待测电路E，所述待测电路E包括Q层电路{E1,E2,
…
,E
q
,
…
,E
Q
}，E
q
为第q层电路，q的取值范围为1到Q，Q为正整数；E
q
包括H个子电路模块P
q
={P
q,1
,P
q,2
,
…
,P
q,h
,
…
,P
q,H
}，P
q,h
为E
q
中第h个子电路模块，h的取值范围为1到H，H为正整数；P
q,h
为第（q
‑
1）层电路E
q
‑1中第y个子电路模块P
q
‑
1,y
的子电路模块，y的取值范围为1到Y,Y为E
q
‑1中子电路模块的数量；S200，当E
q+1
中不包括P
q,h
的子电路模块时，查找P
q,h
中所有的J个信号S
q,h
={S
q,h,1
,S
q,h,2
,
…
,S
q,h,j
,
…
,S
q,h,J
}，其中，S
q,h,j
为P
q,h
中的第j个信号，j的取值范围为1到J，J为P
q,h
中信号的数量；并获取P
q,h
的模块所属关系RP
q,h
={P
q,h
,P
q
‑
1,y
,
…
,P
q
‑
i,f
,
…
,P
1,1
}，其中，i的取值范围为1到q，P
q
‑
i,f
表示P
q,h
为第q
‑
i层电路E
q
‑
i
中第f个子电路模块的子电路模块；S300，以S
q,h,j
作为负载信号，计算生成S
q,h,j
的T个驱动信号D
q,h,j
，得到S
q,h,j
的映射关系MR
q,h,j
={D
q,h,j
,S
q...

【专利技术属性】
技术研发人员：匡彦杰，
申请(专利权)人：上海合见工业软件集团有限公司，
类型：发明
国别省市：